1、超(chao)聲(sheng)波在介質中傳播時，在不同(tong)質界面上具有反射(she)的(de)特性，如遇到缺陷，缺陷的(de)尺(chi)寸(cun)(cun)等于或大于超(chao)聲(sheng)波波長時，則超(chao)聲(sheng)波在缺陷上反射(she)回(hui)來，探傷儀可將反射(she)波顯示出來；如缺陷的(de)尺(chi)寸(cun)(cun)甚(shen)至(zhi)小于波長時，聲(sheng)波將繞(rao)過射(she)線而不能反射(she)。
2、波(bo)聲(sheng)的方向(xiang)性(xing)好(hao)，頻(pin)率越(yue)高，方向(xiang)性(xing)越(yue)好(hao)，以(yi)很窄(zhai)的波(bo)束向(xiang)介質中輻射，易于確(que)定缺陷(xian)的位置。
3、超(chao)聲(sheng)波的傳(chuan)播能量大(da)，如頻率(lv)為1MHZ（1兆赫茲(zi)）的超(chao)聲(sheng)波所傳(chuan)播的能量，相當于振(zhen)幅相同(tong)而頻率(lv)為1000HZ（赫茲(zi)）的聲(sheng)波的100萬(wan)倍。
探傷儀檢測通常(chang)是對被測物體(ti)（比(bi)如工業材料、人體(ti)）發射超聲，然后利用其反射、多普勒效(xiao)應(ying)、透射等來(lai)獲取被測物體(ti)內部的(de)信(xin)息并經過處理形(xing)成圖像。
探傷(shang)儀其(qi)中多(duo)(duo)普勒效應法是利用(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)在遇到運動(dong)的物(wu)(wu)體時(shi)發(fa)生的多(duo)(duo)普勒頻移效應來得(de)出該物(wu)(wu)體的運動(dong)方向和速度等特(te)性(xing)；透(tou)射法則是通過分析超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)穿透(tou)過被(bei)測物(wu)(wu)體之后的變化(hua)而得(de)出物(wu)(wu)體的內部特(te)性(xing)的，其(qi)應用(yong)還(huan)處于研制(zhi)階段；
探傷儀內部缺陷性(xing)質的估判及(ji)原(yuan)因和防止措施
單(dan)個氣(qi)孔回(hui)波(bo)高度低，波(bo)形為單(dan)縫(feng)，較(jiao)(jiao)穩(wen)定(ding)。從各個方向探(tan)測，反射(she)波(bo)大(da)(da)體相同，但稍一動(dong)探(tan)頭就(jiu)消(xiao)失，密(mi)集氣(qi)孔會出現(xian)(xian)一簇反射(she)波(bo)，波(bo)高隨(sui)氣(qi)孔大(da)(da)小而不同，當探(tan)頭作(zuo)定(ding)點轉動(dong)時(shi)，會出現(xian)(xian)此(ci)起彼(bi)落(luo)(luo)的(de)現(xian)(xian)象。產生(sheng)這(zhe)類(lei)缺(que)(que)陷(xian)的(de)原因主要是(shi)焊(han)(han)(han)(han)材(cai)未按規定(ding)溫度烘(hong)干(gan)，焊(han)(han)(han)(han)條藥皮變(bian)質(zhi)脫落(luo)(luo)、焊(han)(han)(han)(han)芯(xin)銹蝕，焊(han)(han)(han)(han)絲清(qing)理不干(gan)凈，手(shou)工焊(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)流過(guo)大(da)(da)，電(dian)(dian)弧(hu)過(guo)長;埋弧(hu)焊(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)壓(ya)過(guo)高或(huo)網絡電(dian)(dian)壓(ya)波(bo)動(dong)太(tai)大(da)(da);氣(qi)體保(bao)護焊(han)(han)(han)(han)時(shi)保(bao)護氣(qi)體純度低等。如(ru)果焊(han)(han)(han)(han)縫(feng)中存在著氣(qi)孔，既破壞(huai)了(le)焊(han)(han)(han)(han)縫(feng)金屬的(de)致密(mi)性(xing)，又使得焊(han)(han)(han)(han)縫(feng)有效截面積減少，降(jiang)低了(le)機(ji)械(xie)性(xing)能，特別(bie)是(shi)存鏈狀氣(qi)孔時(shi)，對彎曲和沖擊韌(ren)性(xing)會有比較(jiao)(jiao)明顯降(jiang)低。防止這(zhe)類(lei)缺(que)(que)陷(xian)產生(sheng)的(de)措(cuo)施有：不使用(yong)藥皮開(kai)裂(lie)、剝(bo)落(luo)(luo)、變(bian)質(zhi)及焊(han)(han)(han)(han)芯(xin)銹蝕的(de)焊(han)(han)(han)(han)條，生(sheng)銹的(de)焊(han)(han)(han)(han)絲必須(xu)除銹后才能使用(yong)。所用(yong)焊(han)(han)(han)(han)接材(cai)料應按規定(ding)溫度烘(hong)干(gan)，坡(po)口及其(qi)兩側清(qing)理干(gan)凈，并要選用(yong)合適的(de)焊(han)(han)(han)(han)接電(dian)(dian)流、電(dian)(dian)弧(hu)電(dian)(dian)壓(ya)和焊(han)(han)(han)(han)接速度等。
點(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)夾渣回(hui)波信(xin)號與(yu)點(dian)(dian)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)氣孔相(xiang)似，條(tiao)狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)夾渣回(hui)波信(xin)號多(duo)呈鋸齒狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)波幅不高，波形多(duo)呈樹(shu)枝狀(zhuang)(zhuang)(zhuang)，主峰(feng)邊上有小峰(feng)，探頭(tou)平移波幅有變(bian)動(dong)，從各(ge)個方向探測時(shi)反射波幅不相(xiang)同。這(zhe)類缺陷(xian)產生(sheng)的原因(yin)有：焊(han)接(jie)電流過小，速度過快，熔渣來不及浮起，被焊(han)邊緣和各(ge)層(ceng)焊(han)縫(feng)清(qing)理(li)不干凈，其本金(jin)屬和焊(han)接(jie)材料(liao)化學成分不當，含硫、磷(lin)較多(duo)等。防止措(cuo)施有：正確(que)選用焊(han)接(jie)電流，焊(han)接(jie)件的坡口角(jiao)度不要(yao)太(tai)小，焊(han)前必(bi)(bi)須把坡口清(qing)理(li)干凈，多(duo)層(ceng)焊(han)時(shi)必(bi)(bi)須層(ceng)層(ceng)清(qing)除焊(han)渣;并(bing)合理(li)選擇運條(tiao)角(jiao)度焊(han)接(jie)速度等。
反(fan)射(she)率(lv)高，波(bo)幅也較(jiao)高，探(tan)頭(tou)平移(yi)時，波(bo)形較(jiao)穩定，在(zai)焊(han)(han)(han)縫(feng)兩側(ce)探(tan)傷時均能得(de)到大致相同的(de)反(fan)射(she)波(bo)幅。這類缺(que)(que)(que)陷不僅降低了焊(han)(han)(han)接接頭(tou)的(de)機械(xie)性(xing)能，而且在(zai)未焊(han)(han)(han)透處的(de)缺(que)(que)(que)口和端(duan)部形成應力(li)集中(zhong)點(dian)，承載后(hou)往往會(hui)引(yin)起裂紋，是一種危(wei)險性(xing)缺(que)(que)(que)陷。其產生原因一般是：坡(po)口純邊間隙(xi)太(tai)(tai)小，焊(han)(han)(han)接電流太(tai)(tai)小或運(yun)條速度過快，坡(po)口角度小，運(yun)條角度不對以及電弧(hu)偏(pian)吹等。防止措(cuo)施(shi)有：合理選用(yong)坡(po)口型式、裝配間隙(xi)和采(cai)用(yong)正確(que)的(de)焊(han)(han)(han)接工(gong)藝等。
探頭平移時(shi)，波(bo)形較穩(wen)定，兩側探測時(shi)，反射波(bo)幅(fu)不同，有時(shi)只能從一側探到。其產生的原因(yin)：坡口不干凈，焊(han)(han)(han)速太快，電流過小或(huo)過大，焊(han)(han)(han)條角(jiao)度不對，電弧偏吹等。防止措施：正確選用坡口和電流，坡口清理干凈，正確操(cao)作防止焊(han)(han)(han)偏等。
回波(bo)高(gao)度(du)較(jiao)大，波(bo)幅(fu)寬(kuan)，會出(chu)現多(duo)峰，探頭平移時(shi)(shi)反(fan)射(she)波(bo)連續出(chu)現波(bo)幅(fu)有(you)變動，探頭轉時(shi)(shi)，波(bo)峰有(you)上下錯(cuo)動現象。裂(lie)(lie)紋(wen)是一種(zhong)危(wei)險性最大的(de)缺陷，它除降(jiang)低焊(han)接(jie)(jie)(jie)接(jie)(jie)(jie)頭的(de)強(qiang)度(du)外(wai)，還因(yin)裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)末(mo)端呈尖銷(xiao)的(de)缺口，焊(han)件(jian)承載后，引起應力集中(zhong)，成(cheng)為(wei)結(jie)構斷裂(lie)(lie)的(de)起源(yuan)。裂(lie)(lie)紋(wen)分為(wei)熱裂(lie)(lie)紋(wen)、冷裂(lie)(lie)紋(wen)和再熱裂(lie)(lie)紋(wen)三種(zhong)。熱裂(lie)(lie)紋(wen)產生的(de)原因(yin)是：焊(han)接(jie)(jie)(jie)時(shi)(shi)熔池的(de)冷卻速度(du)很快，造成(cheng)偏(pian)(pian)(pian)析;焊(han)縫受熱不均勻產生拉應力。防止措施：限(xian)制母(mu)材和焊(han)接(jie)(jie)(jie)材料中(zhong)易偏(pian)(pian)(pian)析元素和有(you)害雜質的(de)含(han)量，主要限(xian)制硫(liu)含(han)量，提高(gao)錳含(han)量;提高(gao)焊(han)條或(huo)焊(han)劑的(de)堿(jian)度(du)，以降(jiang)低雜質含(han)量，改(gai)善(shan)偏(pian)(pian)(pian)析程度(du);改(gai)進焊(han)接(jie)(jie)(jie)結(jie)構形式(shi)，采用合理的(de)焊(han)接(jie)(jie)(jie)順序(xu)，提高(gao)焊(han)縫收縮(suo)時(shi)(shi)的(de)自由度(du)。
探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)這(zhe)(zhe)里主(zhu)要介(jie)紹的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)(shi)應用(yong)最(zui)多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通過反(fan)射(she)法(fa)(fa)來(lai)(lai)獲取物(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)部(bu)特性信(xin)息(xi)(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)(fa)。反(fan)射(she)法(fa)(fa)是(shi)(shi)(shi)基于超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)在通過不(bu)(bu)同聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)阻(zu)抗組(zu)織(zhi)界面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)時(shi)會(hui)(hui)(hui)(hui)發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)較強反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原(yuan)理(li)(li)工作的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正(zheng)如我們所(suo)知(zhi)道，聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在從(cong)一(yi)(yi)種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)傳播到(dao)另外一(yi)(yi)種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候在兩者(zhe)(zhe)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)處(chu)(chu)會(hui)(hui)(hui)(hui)發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)反(fan)射(she)，而(er)(er)且介(jie)質(zhi)(zhi)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)別(bie)(bie)越(yue)大(da)反(fan)射(she)就(jiu)(jiu)(jiu)會(hui)(hui)(hui)(hui)越(yue)大(da)，所(suo)以(yi)我們可(ke)(ke)以(yi)對(dui)一(yi)(yi)個(ge)(ge)物(wu)(wu)體(ti)(ti)發(fa)射(she)出(chu)(chu)穿透(tou)力強、能(neng)夠直線(xian)傳播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)然后(hou)(hou)對(dui)反(fan)射(she)回(hui)(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)進行接(jie)(jie)收(shou)并(bing)根據(ju)(ju)這(zhe)(zhe)些(xie)反(fan)射(she)回(hui)(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)(hou)、幅度(du)等(deng)情(qing)(qing)況就(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)(ke)以(yi)判斷(duan)出(chu)(chu)這(zhe)(zhe)個(ge)(ge)組(zu)織(zhi)中(zhong)(zhong)含有(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)、分(fen)布(bu)情(qing)(qing)況以(yi)及(ji)各種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比(bi)差(cha)別(bie)(bie)程度(du)等(deng)信(xin)息(xi)(xi)（其(qi)(qi)(qi)中(zhong)(zhong)反(fan)射(she)回(hui)(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)(hou)可(ke)(ke)以(yi)反(fan)映出(chu)(chu)反(fan)射(she)界面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)離探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)表面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距離，幅度(du)則可(ke)(ke)以(yi)反(fan)映出(chu)(chu)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)、對(dui)比(bi)差(cha)別(bie)(bie)程度(du)等(deng)特性），探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)從(cong)而(er)(er)判斷(duan)出(chu)(chu)該被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)是(shi)(shi)(shi)否有(you)異常。在這(zhe)(zhe)個(ge)(ge)過程中(zhong)(zhong)就(jiu)(jiu)(jiu)涉及(ji)到(dao)很多(duo)方(fang)(fang)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)容(rong)，包括(kuo)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、接(jie)(jie)收(shou)、信(xin)號(hao)(hao)轉(zhuan)換(huan)和(he)處(chu)(chu)理(li)(li)等(deng)。其(qi)(qi)(qi)中(zhong)(zhong)產(chan)(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)(fa)是(shi)(shi)(shi)通過電(dian)(dian)路產(chan)(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)激勵電(dian)(dian)信(xin)號(hao)(hao)傳給(gei)具有(you)壓電(dian)(dian)效應的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶(jing)體(ti)(ti)（比(bi)如石英(ying)、硫酸鋰(li)等(deng)），使其(qi)(qi)(qi)振(zhen)動(dong)從(cong)而(er)(er)產(chan)(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)；而(er)(er)接(jie)(jie)收(shou)反(fan)射(she)回(hui)(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候，這(zhe)(zhe)個(ge)(ge)壓電(dian)(dian)晶(jing)體(ti)(ti)又會(hui)(hui)(hui)(hui)受(shou)到(dao)反(fan)射(she)回(hui)(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓力而(er)(er)產(chan)(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)電(dian)(dian)信(xin)號(hao)(hao)并(bing)傳送給(gei)信(xin)號(hao)(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)電(dian)(dian)路進行一(yi)(yi)系列(lie)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)(chu)理(li)(li)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)最(zui)后(hou)(hou)形(xing)(xing)(xing)(xing)成圖(tu)像(xiang)(xiang)供人(ren)們觀察(cha)(cha)判斷(duan)。這(zhe)(zhe)里根據(ju)(ju)圖(tu)像(xiang)(xiang)處(chu)(chu)理(li)(li)方(fang)(fang)法(fa)(fa)（也就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)(shi)(shi)將得(de)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)轉(zhuan)換(huan)成什么形(xing)(xing)(xing)(xing)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種(zhong)類(lei)又可(ke)(ke)以(yi)分(fen)為A型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)、M型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)、B型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)、C型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)、F型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)等(deng)。其(qi)(qi)(qi)中(zhong)(zhong)A型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)將接(jie)(jie)收(shou)到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)信(xin)號(hao)(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)成波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)圖(tu)像(xiang)(xiang)，根據(ju)(ju)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)(xing)(xing)狀(zhuang)可(ke)(ke)以(yi)看出(chu)(chu)被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)里面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)是(shi)(shi)(shi)否有(you)異常和(he)缺陷在那(nei)里、有(you)多(duo)大(da)等(deng)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)主(zhu)要用(yong)于工業檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)；M型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)將一(yi)(yi)條經過輝度(du)處(chu)(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)信(xin)息(xi)(xi)按時(shi)間(jian)順序展(zhan)開形(xing)(xing)(xing)(xing)成一(yi)(yi)維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)多(duo)點(dian)運動(dong)時(shi)序圖(tu)"，適于觀察(cha)(cha)內(nei)部(bu)處(chu)(chu)于運動(dong)狀(zhuang)態(tai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)(ti)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)如運動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器、動(dong)脈血管(guan)等(deng)；B型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)將并(bing)排很多(duo)條經過輝度(du)處(chu)(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)信(xin)息(xi)(xi)組(zu)合成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二(er)維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)映出(chu)(chu)被測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)部(bu)斷(duan)層切(qie)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖(tu)像(xiang)(xiang)"（醫院(yuan)里使用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)(chao)(chao)(chao)就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)(shi)(shi)用(yong)這(zhe)(zhe)種(zhong)原(yuan)理(li)(li)做出(chu)(chu)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)適于觀察(cha)(cha)內(nei)部(bu)處(chu)(chu)于靜態(tai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)(ti)；而(er)(er)C型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)、F型(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)用(yong)得(de)比(bi)較少。探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)不(bu)(bu)但可(ke)(ke)以(yi)做到(dao)非常準確，而(er)(er)且相對(dui)其(qi)(qi)(qi)他檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)(fang)法(fa)(fa)來(lai)(lai)說(shuo)更(geng)為方(fang)(fang)便(bian)、快捷(jie)，也不(bu)(bu)會(hui)(hui)(hui)(hui)對(dui)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)對(dui)象和(he)操作者(zhe)(zhe)產(chan)(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)危害(hai)，所(suo)以(yi)受(shou)到(dao)了人(ren)們越(yue)來(lai)(lai)越(yue)普遍(bian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有(you)著非常廣闊(kuo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發(fa)展(zhan)前景。
探(tan)傷(shang)儀的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)有很廣泛，比如用(yong)(yong)超(chao)(chao)聲的(de)(de)(de)(de)反射來測量距離，利(li)用(yong)(yong)大功(gong)率超(chao)(chao)聲的(de)(de)(de)(de)振動來清除附(fu)著在鍋(guo)爐上面的(de)(de)(de)(de)水垢，利(li)用(yong)(yong)高(gao)能超(chao)(chao)聲做成"超(chao)(chao)聲刀"來消滅、擊碎(sui)人體內(nei)的(de)(de)(de)(de)癌變、結石(shi)等(deng)(deng)，探(tan)傷(shang)儀而(er)利(li)用(yong)(yong)超(chao)(chao)聲的(de)(de)(de)(de)反射等(deng)(deng)效(xiao)應(ying)和穿透力強、能夠直(zhi)線傳播等(deng)(deng)的(de)(de)(de)(de)特(te)性來進行檢(jian)(jian)測也是其中一(yi)個很大的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)領域。探(tan)傷(shang)儀的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測應(ying)用(yong)(yong)主(zhu)要包括在工業上對(dui)各(ge)種(zhong)材料(liao)(liao)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測和在醫療(liao)上對(dui)人體的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測診斷，通過它人們可以(yi)探(tan)測出金屬等(deng)(deng)工業材料(liao)(liao)中有沒有氣泡、傷(shang)痕、裂縫等(deng)(deng)缺陷，可以(yi)檢(jian)(jian)測出人們身(shen)體的(de)(de)(de)(de)軟組織、血(xue)流等(deng)(deng)是否正常。
粉探傷儀適用于(yu)零(ling)(ling)件表(biao)面的(de)探傷，主要適用于(yu)濕磁粉法檢(jian)測(ce)(ce)曲軸(zhou)、凸輪(lun)軸(zhou)、花鍵(jian)軸(zhou)等各種中(zhong)小型零(ling)(ling)件的(de)表(biao)面及(ji)近表(biao)面因鑄(zhu)造、淬火、加工、疲勞等原(yuan)因引起的(de)裂紋及(ji)細微缺陷，是(shi)單件檢(jian)測(ce)(ce)，小批(pi)抽檢(jian)，大批(pi)量檢(jian)測(ce)(ce)的(de)首選機型。
輕小，可以到現場探傷乃至高空進行(xing)探傷作(zuo)業。包括(kuo)對大型(xing)零部(bu)件(jian)進行(xing)局部(bu)磁化探傷。特別適用于平焊縫(feng)、角焊縫(feng)、壓(ya)力(li)容器(qi)、管(guan)道及形狀復(fu)雜零部(bu)件(jian)的探傷。對不允許(xu)高電壓(ya)進入(ru)設備內(nei)探傷的場合更為(wei)適合。
磁粉探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)只能(neng)對大型工件(jian)分段探(tan)傷(shang)(shang)，不能(neng)一次(ci)性檢測出全方位的裂(lie)紋(wen)，所以其探(tan)傷(shang)(shang)效率較(jiao)低。
該設備(bei)操作簡(jian)便，工(gong)作效率(lv)高，采用工(gong)業PLC控制，既可(ke)(ke)手動(dong)單步(bu)操作，亦可(ke)(ke)自(zi)(zi)(zi)動(dong)循環工(gong)作，周、縱向電流分別可(ke)(ke)調(diao)，具(ju)有斷電相(xiang)位控制功(gong)能(neng)。可(ke)(ke)分別進行(xing)周向、縱向、復合磁化。工(gong)件(jian)可(ke)(ke)以轉動(dong)，檢測(ce)時(shi)機器可(ke)(ke)按(an)工(gong)藝(yi)要求設定(ding)的程序自(zi)(zi)(zi)動(dong)完(wan)成除上下料及觀(guan)察(cha)外(wai)（如夾緊、噴(pen)液、磁化、退(tui)磁、轉動(dong)等等）的自(zi)(zi)(zi)動(dong)化工(gong)作。
1、周向磁化(hua)電流：AC0－4000A連續可調駛帶斷電相位控制；
2、縱向磁化電(dian)(dian)流：DC0－20000AT連續可調帶斷電(dian)(dian)相位(wei)控制；
3、退磁(ci)磁(ci)勢：AC20000－0AT連續可調自動衰減；
4、退磁效果：≤0.2mT；
5、夾緊方式(shi)：氣動或(huo)電動夾緊；
6、電極(ji)間距：0－1000mm由夾具確定；
7、夾緊行程：0－50mm；
8、夾頭轉速(su)：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分辨率TFTLCD，獨特(te)的(de)遮(zhe)陽設計，符(fu)合人體工程學(xue)。
采用高端ARM處理器，系統響應速度(du)快，實(shi)時性好。
采用(yong)性能(neng)先進的前置放大(da)器，大(da)大(da)減(jian)小檢測盲區。
簡潔(jie)易用的人機交互，儀器操控性強。
高達4GB海量(liang)存儲，能夠(gou)進行長時間的探傷波形動態記錄，存儲大量(liang)波形信(xin)息。
具有豐富的通信接口，強大的數據備(bei)份和數據轉儲能(neng)力。
防水等級IP64。
鍵盤背光功能。
探頭接口(kou)采用瑞(rui)士原裝(zhuang)進口(kou)的LEMO接頭，美觀大方，耐(nai)用性好。
增(zeng)加Ethernet網口，可接入(ru)以太(tai)網。
增加了大(da)量的操作提示信息，人機交互界面更加友好。
用(yong)戶可根據自己喜好來選擇不(bu)同的(de)屏幕顏色。
內(nei)置AWS、API5UE等(deng)多種(zhong)標準。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測(ce)范圍：(0~9999)mm
工作頻率：(0.25~20)MHz
各頻段等效輸入噪聲：<15%
發射脈沖(chong)：負脈沖(chong)s
能量可選擇，適(shi)用探頭范(fan)圍廣。
脈(mo)沖(chong)寬度在(0.1~0.5)μs范圍內連續調節，以匹配不同頻率的探頭。
脈沖幅度：低（300伏）、中（500伏）、高(gao)（700伏）分級選擇，適用探(tan)頭范圍廣。
脈沖寬(kuan)度：在（0.1~0.5）μs范圍內連續調節，以匹配不(bu)同頻率的探頭。
超(chao)聲波探傷儀(yi)探頭阻尼：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選(xuan)，滿足(zu)靈敏度及分辨率的不同工作。
動(dong)態(tai)范(fan)圍(wei)：≥36dB
數字抑制：(0~80)%，不影響線性與增益(yi)。
垂直線性誤差：≤2.6%。
水平線性誤差(cha)：≤0.1%。
分(fen)辨力：>38dB。
靈敏(min)度余量(liang)：60dB。
電(dian)噪(zao)聲(sheng)電(dian)平(ping)：≤10%。
濾波頻帶：（0.25~20）MHz，根(gen)據(ju)探頭(tou)頻率全自(zi)動(dong)匹配，無需手動(dong)設置。
探傷通(tong)道：200組探傷工作通(tong)道。
探頭(tou)接(jie)口：LEMO接(jie)口，ERA.1S。
探(tan)(tan)頭類型：直探(tan)(tan)頭、斜(xie)探(tan)(tan)頭、雙(shuang)晶探(tan)(tan)頭、穿透探(tan)(tan)頭。
報警：蜂(feng)鳴器報警，鍵盤背光燈報警。
電源：直流（DC）9V；鋰電池連續工(gong)作6~8小時以上。
外型尺寸：220×156×58(mm)結構待定。
環境溫度(du)：(-10~50)℃。
相對濕度：(20~95)%RH。
注：以上(shang)指標是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的(de)情況(kuang)下所測(ce)得的(de)。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件(jian)實時采樣(yang)：10位AD轉(zhuan)換器，采樣(yang)速度125MHz，波(bo)形高(gao)度保真(zhen)。
檢(jian)波(bo)(bo)方式：正(zheng)半(ban)(ban)波(bo)(bo)、負(fu)半(ban)(ban)波(bo)(bo)、全波(bo)(bo)、射頻檢(jian)波(bo)(bo)。
閘(zha)門讀數：單閘(zha)門和(he)雙閘(zha)門讀數方式可選；閘(zha)門內峰值讀數、邊(bian)緣(yuan)檢測可選。
增(zeng)益(yi)：0-110dB，最小增(zeng)益(yi)調節(jie)量0.1dB，獨(du)特(te)的全自動增(zeng)益(yi)調節(jie)及掃查增(zeng)益(yi)功能。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記憶：實時檢索(suo)缺(que)陷最高波，記錄缺(que)陷最大值。
Φ值計算：直探頭鍛件探傷找準(zhun)缺陷最(zui)高波后自動計算、顯示缺陷當量尺(chi)寸。
缺陷定位：實時顯示缺陷水平(ping)、深度（垂(chui)直）、聲程位置。
缺陷定(ding)量：缺陷當(dang)量dB值(zhi)實時顯示；
缺陷定性：通過回波包絡(luo)波形，方便人(ren)工經驗判(pan)斷；
探頭頻率檢測：通過抓取回波，準確檢測出探頭的中心頻率，500mm范圍(wei)內任意(yi)波幅回波，一鍵輕松(song)完(wan)成檢測；
曲(qu)面修(xiu)正：修(xiu)正斜探(tan)頭圓管檢測時的深度(du)和水平距離；
超聲波探傷(shang)儀修正模式(shi)：內弧/外弧；
DAC/AVG：曲(qu)線(xian)自動(dong)(dong)生成，取樣點不受限制，并可(ke)進行補償與修正。曲(qu)線(xian)隨增益自動(dong)(dong)浮動(dong)(dong)、隨聲(sheng)程自動(dong)(dong)擴展(zhan)、隨延時自動(dong)(dong)移(yi)動(dong)(dong)。能顯示任意孔徑的AVG曲(qu)線(xian)。
裂紋(wen)(wen)測高：利用端(duan)點衍射(she)波自(zi)動測量、計(ji)算裂紋(wen)(wen)高度。
B型掃描(miao)：采(cai)用定時(shi)掃描(miao)方式形成B型圖像。
門內展寬：放(fang)大回波細節，便于回波分(fen)析。
動(dong)態記(ji)錄：檢測實時動(dong)態記(ji)錄、存儲、回(hui)放波形，每段記(ji)錄可達(da)8分鐘(zhong)。
波形凍(dong)(dong)結：凍(dong)(dong)結屏幕上顯(xian)示的波形，便于缺陷分(fen)析。
焊縫圖示：顯示焊縫坡口形式(shi)和聲束(shu)走(zou)向，直觀顯示缺陷位置。
內置(zhi)標準：可自(zi)由設置(zhi)各行業探傷工藝標準。
回波(bo)編碼：輸入工件厚(hou)度，儀器(qi)根據(ju)一次波(bo)、二次波(bo)及多次波(bo)的區域能生成不(bu)同的背景(jing)色(se)彩。
工作(zuo)方式(shi)：直探(tan)頭(tou)、斜探(tan)頭(tou)、雙晶探(tan)頭(tou)、穿透探(tan)傷。
閘(zha)門(men)報警：門(men)位、門(men)寬、門(men)高任(ren)意可調；B閘(zha)門(men)可選擇設(she)置(zhi)進波報警或失波報警；數(shu)據存(cun)儲：200組探(tan)(tan)(tan)傷參數(shu)通道，可預先調校好各(ge)類探(tan)(tan)(tan)頭和儀器(qi)的組合參數(shu)，自由設(she)置(zhi)各(ge)行(xing)業探(tan)(tan)(tan)傷標準；可存(cun)儲10000幅探(tan)(tan)(tan)傷回(hui)波信(xin)號及參數(shu)，實現存(cun)儲、讀出(chu)及通過(guo)USB接口傳輸。
實(shi)時(shi)時(shi)鐘：實(shi)時(shi)探傷日期、時(shi)間(jian)的跟蹤記錄，并記錄存(cun)儲。
通訊接口：USB主機(ji)接口和從機(ji)接口，既能與PC機(ji)通信，又能方便地訪問U盤(pan)。藍牙無(wu)線(xian)通信模塊。
電(dian)(dian)池模塊：高容量鋰電(dian)(dian)池模塊，在線充(chong)電(dian)(dian)和(he)脫機充(chong)電(dian)(dian)兩種(zhong)充(chong)電(dian)(dian)方式，方便(bian)探傷。
醫用超聲波探傷儀
超聲(sheng)(sheng)波探傷儀(yi)工作原理與聲(sheng)(sheng)納(na)有(you)一定(ding)的(de)相(xiang)似性，即將超聲(sheng)(sheng)波發射到人體內(nei)，當(dang)它(ta)在(zai)體內(nei)遇到界面時會發生反射及(ji)(ji)折射，并且(qie)在(zai)人體組織中可(ke)能被吸收而衰(shuai)減(jian)。因(yin)為(wei)(wei)人體各種組織的(de)形(xing)態與結(jie)構是不相(xiang)同的(de)，因(yin)此其反射與折射以及(ji)(ji)吸收超聲(sheng)(sheng)波的(de)程度(du)也(ye)就(jiu)不同，醫生們(men)正是通過儀(yi)器(qi)所(suo)反映(ying)出的(de)波型、曲線，或影(ying)象的(de)特(te)征來辨別它(ta)們(men)。此外再結(jie)合解剖學(xue)知識(shi)、正常與病(bing)理的(de)改變，便可(ke)診(zhen)斷所(suo)檢查的(de)器(qi)官是否(fou)有(you)病(bing)。醫生們(men)應用(yong)的(de)超聲(sheng)(sheng)診(zhen)斷方法有(you)不同的(de)形(xing)式，可(ke)分(fen)為(wei)(wei)A型、B型、M型及(ji)(ji)D型四大類:
A型：是以波(bo)形來顯示組(zu)織特征的方法，主要(yao)用于測量(liang)器(qi)官的徑線，以判定其(qi)大小(xiao)。可(ke)用來鑒別病變組(zu)織的一些物理特性，如(ru)實質性、液體或是氣體是否存在等。
B型：用平面(mian)圖形的(de)形式來顯(xian)示被(bei)探查組織的(de)具(ju)體情況(kuang)。檢查時，將人體界面(mian)的(de)反射信(xin)號轉變為強弱(ruo)不同的(de)光點，這些光點可(ke)通過(guo)熒光屏顯(xian)現出來，這種方法直觀性好，重(zhong)復(fu)性強，可(ke)供前后對(dui)比，所(suo)以廣泛用于婦產科(ke)、泌尿、消化及心血(xue)管等系統疾病的(de)診斷。
M型(xing)：是用于(yu)觀(guan)察(cha)活(huo)動界面時間變(bian)化的(de)一(yi)種方法。最(zui)適用于(yu)檢查心(xin)臟(zang)(zang)的(de)活(huo)動情況，其曲線(xian)的(de)動態(tai)(tai)改變(bian)稱為超聲心(xin)動圖，可以用來觀(guan)察(cha)心(xin)臟(zang)(zang)各層(ceng)結(jie)構(gou)的(de)位置、活(huo)動狀態(tai)(tai)、結(jie)構(gou)的(de)狀況等，多用于(yu)輔助心(xin)臟(zang)(zang)及大血(xue)管疫病的(de)診斷(duan)。
D型：是(shi)專門(men)用(yong)來檢測血液流(liu)(liu)(liu)動(dong)和器官(guan)活動(dong)的(de)(de)一(yi)種超(chao)聲(sheng)(sheng)診斷(duan)方法(fa)，又稱為多(duo)普(pu)勒超(chao)聲(sheng)(sheng)診斷(duan)法(fa)。可(ke)確定(ding)血管是(shi)否通(tong)暢(chang)、管腔有否狹窄(zhai)、閉塞以及病變(bian)部位。新一(yi)代的(de)(de)D型超(chao)聲(sheng)(sheng)波還(huan)能定(ding)量地測定(ding)管腔內(nei)血液的(de)(de)流(liu)(liu)(liu)量。科學家又發(fa)展了(le)彩色(se)(se)編碼多(duo)普(pu)勒系統，可(ke)在超(chao)聲(sheng)(sheng)心動(dong)圖(tu)解剖標志的(de)(de)指示下，以不同顏色(se)(se)顯(xian)示血流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)方向，色(se)(se)澤的(de)(de)深淺(qian)代表血流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)流(liu)(liu)(liu)速。還(huan)有立體超(chao)聲(sheng)(sheng)顯(xian)象(xiang)、超(chao)聲(sheng)(sheng)CT、超(chao)聲(sheng)(sheng)內(nei)窺鏡等超(chao)聲(sheng)(sheng)技術(shu)不斷(duan)涌(yong)現出來，并且還(huan)可(ke)以與其(qi)他檢查儀器結合使(shi)(shi)用(yong)，使(shi)(shi)疾病的(de)(de)診斷(duan)準(zhun)確率大大提高。超(chao)聲(sheng)(sheng)波技術(shu)正在醫學界發(fa)揮著巨大的(de)(de)作用(yong)，隨著科學的(de)(de)進步，它將更(geng)加完善，將更(geng)好(hao)地造福于(yu)人類。
主要用于探測機加工件(jian)(jian)內部有無缺陷（裂紋(wen)、砂眼、氣(qi)孔、白點、夾雜等），焊縫(feng)是否合格，查找有無暗傷，從而(er)判定工件(jian)(jian)合格與否。
全數字
真彩顯示器：五種顏色可(ke)選(xuan)、亮度可(ke)調(diao)
高性(xing)能鋰電(dian)池，連續(xu)工作7小時
與計算機通(tong)訊，可自動生成探傷報(bao)告
實(shi)時顯示SL、EL、GL、RL定量值(zhi)
自動校(xiao)準：自動測試“探頭零點”、“K值”、“前沿”及“材(cai)料(liao)聲速”；
自動顯示缺(que)陷回波位置（深度d、水平(ping)p、距離s、波幅、當量(liang)dB、孔徑(jing)ф值(zhi)）；
自由切換三(san)種標(biao)(biao)尺（深度d、水平p、距離(li)s），滿(man)足不同(tong)的(de)探傷標(biao)(biao)準要求(qiu)和探傷工程師的(de)標(biao)(biao)尺使用習(xi)慣；
自動(dong)增益：自動(dong)將(jiang)波形調至屏高的(de)80%，大大提高了探傷效率(lv)；
自動(dong)(dong)錄制探傷過程并可以進行(xing)動(dong)(dong)態(tai)回放；
自動φ值計算：直(zhi)探(tan)頭鍛件探(tan)傷，找準缺(que)陷(xian)最高波自動換(huan)算孔徑(jing)ф值；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻(zu)尼自動。
硬(ying)件實時采樣：150MHz，波形高度保真
閘門(men)(men)信號：單閘門(men)(men)、雙閘門(men)(men)，峰值或(huo)邊緣讀(du)數
增(zeng)益調(diao)節：手(shou)動(dong)調(diao)節110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或自動(dong)調(diao)節至屏高的80%
曲(qu)線包絡(luo)和波(bo)峰記憶(yi)：實時(shi)檢索并記錄缺陷(xian)最高波(bo)
φ值(zhi)計算：直探(tan)頭鍛件探(tan)傷(shang)找準缺陷(xian)最(zui)高(gao)波自動換算
動(dong)態錄(lu)制：實時動(dong)態錄(lu)制波形，并可存儲(chu)、回(hui)放
缺(que)陷定位：實時顯示水(shui)平(ping)值(zhi)(zhi)L、深(shen)度值(zhi)(zhi)H、聲程值(zhi)(zhi)S
缺陷定(ding)量：實時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量值
實(shi)時顯示孔狀(zhuang)缺陷(xian)Φ值
缺陷定性(xing)：通(tong)過波形，人(ren)工經(jing)驗判斷
曲面修正(zheng)：曲面工件探傷，修正(zheng)曲率換(huan)算
B型(xing)掃(sao)描(miao)：實(shi)時(shi)掃(sao)查，描(miao)述缺陷(xian)橫切面
閘門報警(jing)：進波(bo)報警(jing)、失波(bo)報警(jing)
DAC報警：自由設置SL、EL、GL、RL報警
五大常(chang)規方法(fa)是(shi)指射線探傷法(fa)、超聲(sheng)波探傷法(fa)、磁粉探傷法(fa)、渦流探傷法(fa)和滲透探傷法(fa)。
射(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)(shi)利(li)用(yong)(yong)射(she)(she)線(xian)的(de)(de)穿(chuan)透性和(he)直線(xian)性來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)方法。這些(xie)(xie)射(she)(she)線(xian)雖(sui)然不(bu)會(hui)像可見光那樣憑肉眼就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)能(neng)直接(jie)(jie)察知，但它可使照相底片(pian)感(gan)(gan)光，也可用(yong)(yong)特殊的(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)。常用(yong)(yong)于探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)射(she)(she)線(xian)有x光和(he)同(tong)位素發出的(de)(de)γ射(she)(she)線(xian)，分別稱(cheng)為x光探(tan)(tan)傷(shang)和(he)γ射(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。當這些(xie)(xie)射(she)(she)線(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)(guo)（照射(she)(she)）物(wu)(wu)質時(shi)(shi)，該物(wu)(wu)質的(de)(de)密(mi)度越大(da)，射(she)(she)線(xian)強度減(jian)弱(ruo)得越多，即射(she)(she)線(xian)能(neng)穿(chuan)透過(guo)(guo)(guo)該物(wu)(wu)質的(de)(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)越小(xiao)。此(ci)時(shi)(shi)，若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)照相底片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)，則底片(pian)的(de)(de)感(gan)(gan)光量就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)小(xiao)；若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)儀(yi)器來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)，獲得的(de)(de)信(xin)號就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)弱(ruo)。因此(ci)，用(yong)(yong)射(she)(she)線(xian)來(lai)照射(she)(she)待(dai)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)零部件時(shi)(shi)，若(ruo)(ruo)(ruo)其(qi)內部有氣孔、夾渣(zha)等缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)線(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)(guo)有缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)路徑比沒有缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)路徑所透過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)物(wu)(wu)質密(mi)度要(yao)小(xiao)得多，其(qi)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)減(jian)弱(ruo)得少些(xie)(xie)，即透過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)強度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)，若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)底片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)，則感(gan)(gan)光量就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)，就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)可以從底片(pian)上反映出缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)線(xian)方向的(de)(de)平面投(tou)影；若(ruo)(ruo)(ruo)用(yong)(yong)其(qi)它接(jie)(jie)收(shou)(shou)(shou)器也同(tong)樣可以用(yong)(yong)儀(yi)表來(lai)反映缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)線(xian)方向的(de)(de)平面投(tou)影和(he)射(she)(she)線(xian)的(de)(de)透過(guo)(guo)(guo)量。由此(ci)可見，一般情況下，射(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)(shi)不(bu)易發現裂紋的(de)(de)，或者(zhe)說，射(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對(dui)裂紋是(shi)(shi)不(bu)敏感(gan)(gan)的(de)(de)。因此(ci)，射(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對(dui)氣孔、夾渣(zha)、未焊透等體積(ji)型缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感(gan)(gan)。即射(she)(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)適宜用(yong)(yong)于體積(ji)型缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)，而不(bu)適宜面積(ji)型缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。
人(ren)們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳(er)朵能(neng)(neng)直接(jie)接(jie)收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻率(lv)范(fan)圍通常(chang)(chang)(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即(ji)音(yin)（聲(sheng)(sheng)）頻。頻率(lv)低于20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為次(ci)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高于20kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工業上(shang)常(chang)(chang)(chang)用(yong)(yong)(yong)數兆赫茲(zi)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來探(tan)(tan)傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻率(lv)高，則傳播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)直線性強，又易于在(zai)固體中(zhong)傳播，并且遇到(dao)兩種不同介質形成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)(mian)時易于反射(she)，這樣就可(ke)(ke)以用(yong)(yong)(yong)它來探(tan)(tan)傷。通常(chang)(chang)(chang)用(yong)(yong)(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)工件表(biao)面(mian)(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)觸，探(tan)(tan)頭則可(ke)(ke)有效地向工件發射(she)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并能(neng)(neng)接(jie)收（缺陷(xian)）界(jie)面(mian)(mian)(mian)反射(she)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同時轉換成電信(xin)號，再傳輸給儀器進行處理。根據超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在(zai)介質中(zhong)傳播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)速度(du)（常(chang)(chang)(chang)稱(cheng)(cheng)聲(sheng)(sheng)速）和(he)傳播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時間，就可(ke)(ke)知(zhi)道(dao)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺陷(xian)越(yue)大，反射(she)面(mian)(mian)(mian)則越(yue)大，其反射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量(liang)也(ye)就越(yue)大，故可(ke)(ke)根據反射(she)能(neng)(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小來查知(zhi)各缺陷(xian)（當量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小。常(chang)(chang)(chang)用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷波(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)、橫(heng)波(bo)(bo)、表(biao)面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)等，前二者適用(yong)(yong)(yong)于探(tan)(tan)測(ce)內部缺陷(xian)，后者適宜于探(tan)(tan)測(ce)表(biao)面(mian)(mian)(mian)缺陷(xian)，但(dan)對(dui)表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)條件要求高。
磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)建立在漏磁(ci)(ci)(ci)原理基(ji)礎上(shang)的(de)一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)方法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)力線穿過(guo)鐵(tie)(tie)磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其制品(pin)(pin)時，在其（磁(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續處將產生(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)極。此(ci)時撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉或澆(jiao)上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸(xi)附磁(ci)(ci)(ci)粉，產生(sheng)用肉眼(yan)能直接(jie)觀(guan)察的(de)明顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可借助于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵(tie)(tie)磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其制品(pin)(pin)的(de)缺(que)陷(xian)情(qing)況。磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)可探(tan)(tan)測露(lu)(lu)出表(biao)(biao)面(mian)，用肉眼(yan)或借助于(yu)放大(da)鏡也不(bu)能直接(jie)觀(guan)察到(dao)的(de)微小(xiao)缺(que)陷(xian)，也可探(tan)(tan)測未露(lu)(lu)出表(biao)(biao)面(mian)，而(er)是(shi)埋藏在表(biao)(biao)面(mian)下幾毫米的(de)近表(biao)(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)。用這(zhe)種(zhong)方法(fa)雖然也能探(tan)(tan)查(cha)氣孔、夾雜、未焊透(tou)等(deng)體積(ji)型缺(que)陷(xian)，但對面(mian)積(ji)型缺(que)陷(xian)更靈(ling)敏，更適于(yu)檢查(cha)因淬火(huo)、軋制、鍛造、鑄造、焊接(jie)、電鍍、磨削(xue)、疲(pi)勞等(deng)引(yin)起的(de)裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)中對缺陷的(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)方(fang)法有多種，有用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)，也有不(bu)(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，因它(ta)顯(xian)示(shi)直(zhi)觀、操作簡單、人們(men)樂(le)于(yu)使用(yong)，故它(ta)是最常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)方(fang)法之(zhi)一。不(bu)(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)示(shi)的(de)(de)(de)，習慣(guan)上稱(cheng)(cheng)(cheng)為漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，它(ta)常(chang)借助于(yu)感應(ying)線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍(huo)爾(er)元件(jian)等來(lai)反映缺陷，它(ta)比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)更衛(wei)生，但不(bu)(bu)如前(qian)者直(zhi)觀。由于(yu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯(xian)示(shi)缺陷，因此，人們(men)有時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直(zhi)接稱(cheng)(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，其設備稱(cheng)(cheng)(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)設備。
渦流(liu)(liu)(liu)探傷是由交(jiao)流(liu)(liu)(liu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)產生的(de)交(jiao)變磁場作(zuo)用(yong)(yong)于待(dai)探傷的(de)導電(dian)(dian)材料(liao)，感應出(chu)電(dian)(dian)渦流(liu)(liu)(liu)。如果材料(liao)中有(you)缺陷，它將干擾所產生的(de)電(dian)(dian)渦流(liu)(liu)(liu)，即形成(cheng)干擾信(xin)號(hao)。用(yong)(yong)渦流(liu)(liu)(liu)探傷儀檢測出(chu)其干擾信(xin)號(hao)，就可知道缺陷的(de)狀況。影響(xiang)渦流(liu)(liu)(liu)的(de)因素(su)很多(duo)，即是說(shuo)渦流(liu)(liu)(liu)中載(zai)有(you)豐富的(de)信(xin)號(hao)，這些信(xin)號(hao)與材料(liao)的(de)很多(duo)因素(su)有(you)關，如何(he)將其中有(you)用(yong)(yong)的(de)信(xin)號(hao)從諸多(duo)的(de)信(xin)號(hao)中一一分離(li)出(chu)來，是渦流(liu)(liu)(liu)研究工作(zuo)者的(de)難題，多(duo)年來已經取得了一些進(jin)展(zhan)，在一定條件下(xia)可解決一些問題，但還遠不能(neng)滿足現場的(de)要求，有(you)待(dai)于大力發展(zhan)。
渦(wo)流(liu)探(tan)(tan)傷的(de)顯著特點是對(dui)導(dao)電材料就能起作用(yong)，而(er)不一定(ding)是鐵(tie)磁(ci)材料，但對(dui)鐵(tie)磁(ci)材料的(de)效果較差(cha)。其次，待探(tan)(tan)工(gong)件表(biao)面的(de)光潔度、平整度、邊(bian)介(jie)等對(dui)渦(wo)流(liu)探(tan)(tan)傷都有較大影響，因(yin)此(ci)常將渦(wo)流(liu)探(tan)(tan)傷用(yong)于(yu)形狀較規則、表(biao)面較光潔的(de)銅(tong)管等非(fei)鐵(tie)磁(ci)性(xing)工(gong)件探(tan)(tan)傷。
滲透探(tan)(tan)(tan)(tan)傷是利(li)用(yong)(yong)毛細(xi)現象來進行探(tan)(tan)(tan)(tan)傷的(de)(de)(de)方(fang)法。對于(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面光(guang)(guang)滑(hua)而清潔的(de)(de)(de)零部件，用(yong)(yong)一種(zhong)帶(dai)色(se)（常(chang)為紅色(se)）或帶(dai)有(you)熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)(de)、滲透性很強的(de)(de)(de)液體(ti)，涂覆于(yu)待探(tan)(tan)(tan)(tan)零部件的(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)(biao)面。若表(biao)(biao)(biao)(biao)面有(you)肉眼(yan)不能(neng)直接察知的(de)(de)(de)微裂紋，由于(yu)該液體(ti)的(de)(de)(de)滲透性很強，它(ta)將(jiang)沿著(zhu)裂紋滲透到(dao)其(qi)根部。然后(hou)(hou)將(jiang)表(biao)(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)滲透液洗去，再涂上(shang)(shang)(shang)(shang)對比度較大(da)的(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)液（常(chang)為白(bai)色(se)）。放置片(pian)刻(ke)后(hou)(hou)，由于(yu)裂紋很窄，毛細(xi)現象作用(yong)(yong)顯(xian)著(zhu)，原滲透到(dao)裂紋內(nei)的(de)(de)(de)滲透液將(jiang)上(shang)(shang)(shang)(shang)升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)(biao)(biao)面并擴散，在白(bai)色(se)的(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)(shang)(shang)顯(xian)出較粗的(de)(de)(de)紅線，從(cong)而顯(xian)示(shi)出裂紋露于(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)形狀(zhuang)，因此(ci)，常(chang)稱(cheng)(cheng)為著(zhu)色(se)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。若滲透液采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)是帶(dai)熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)(de)液體(ti)，由毛細(xi)現象上(shang)(shang)(shang)(shang)升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)液體(ti)，則會在紫外(wai)燈照射下發出熒(ying)光(guang)(guang)，從(cong)而更能(neng)顯(xian)示(shi)出裂紋露于(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)形狀(zhuang)，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此(ci)時的(de)(de)(de)滲透探(tan)(tan)(tan)(tan)傷直接稱(cheng)(cheng)為熒(ying)光(guang)(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。此(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷方(fang)法也可用(yong)(yong)于(yu)金屬(shu)和非金屬(shu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面探(tan)(tan)(tan)(tan)傷。其(qi)使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷液劑(ji)有(you)較大(da)氣味，常(chang)有(you)一定(ding)毒(du)性。
除以(yi)上五大常規(gui)方法外(wai)(wai)，近年來(lai)又有了紅外(wai)(wai)、聲發射等一些(xie)新的探傷方法。
