1、超聲波(bo)(bo)在(zai)介質(zhi)中傳播時(shi)(shi)，在(zai)不同質(zhi)界(jie)面(mian)上(shang)具有(you)反射的特性，如遇到缺(que)陷(xian)(xian)，缺(que)陷(xian)(xian)的尺寸(cun)等于或(huo)大于超聲波(bo)(bo)波(bo)(bo)長(chang)時(shi)(shi)，則(ze)超聲波(bo)(bo)在(zai)缺(que)陷(xian)(xian)上(shang)反射回來，探傷儀可將反射波(bo)(bo)顯示(shi)出來；如缺(que)陷(xian)(xian)的尺寸(cun)甚至小(xiao)于波(bo)(bo)長(chang)時(shi)(shi)，聲波(bo)(bo)將繞過射線而不能反射。
2、波聲的(de)方向(xiang)性(xing)好，頻率越(yue)高，方向(xiang)性(xing)越(yue)好，以很窄的(de)波束向(xiang)介質中輻射，易于(yu)確定缺陷的(de)位置。
3、超聲波(bo)(bo)的傳(chuan)播(bo)能量大(da)，如(ru)頻率為1MHZ（1兆赫(he)茲）的超聲波(bo)(bo)所傳(chuan)播(bo)的能量，相當于振幅相同(tong)而(er)頻率為1000HZ（赫(he)茲）的聲波(bo)(bo)的100萬倍。
探(tan)傷儀檢測通常(chang)是對被測物體（比(bi)如工業材料、人體）發射超聲，然后利用其反射、多普勒效(xiao)應、透射等來獲取被測物體內(nei)部的(de)信息并經過(guo)處理形成圖(tu)像(xiang)。
探傷(shang)儀其(qi)中多普勒效應(ying)法是(shi)利用超(chao)聲在(zai)遇到運(yun)動的(de)物(wu)體時(shi)發生的(de)多普勒頻移效應(ying)來得(de)出(chu)該物(wu)體的(de)運(yun)動方向和速度等特性；透(tou)射法則是(shi)通過(guo)(guo)分析超(chao)聲穿(chuan)透(tou)過(guo)(guo)被測物(wu)體之后(hou)的(de)變化(hua)而(er)得(de)出(chu)物(wu)體的(de)內(nei)部特性的(de)，其(qi)應(ying)用還(huan)處于研(yan)制階段；
探傷儀內部缺陷性質的估判及原因和防止措施
單(dan)個氣(qi)孔回(hui)波高(gao)度低，波形為單(dan)縫(feng)，較穩定。從各個方向探測(ce)，反(fan)射波大體相(xiang)同(tong)，但稍一動探頭就(jiu)消失，密(mi)集氣(qi)孔會出(chu)(chu)現一簇反(fan)射波，波高(gao)隨氣(qi)孔大小(xiao)而不(bu)同(tong)，當探頭作定點轉動時(shi)，會出(chu)(chu)現此起彼(bi)落的(de)現象。產(chan)生(sheng)這類(lei)缺陷(xian)的(de)原因主(zhu)要是焊(han)(han)(han)(han)(han)材(cai)未按規(gui)定溫(wen)度烘(hong)干(gan)，焊(han)(han)(han)(han)(han)條(tiao)藥皮變質(zhi)脫落、焊(han)(han)(han)(han)(han)芯(xin)銹(xiu)蝕(shi)，焊(han)(han)(han)(han)(han)絲清理不(bu)干(gan)凈(jing)，手工(gong)焊(han)(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)(dian)流過(guo)大，電(dian)(dian)(dian)弧過(guo)長(chang);埋(mai)弧焊(han)(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)(dian)壓過(guo)高(gao)或(huo)網絡電(dian)(dian)(dian)壓波動太大;氣(qi)體保護(hu)焊(han)(han)(han)(han)(han)時(shi)保護(hu)氣(qi)體純度低等。如果焊(han)(han)(han)(han)(han)縫(feng)中存在著氣(qi)孔，既破(po)壞(huai)了焊(han)(han)(han)(han)(han)縫(feng)金屬(shu)的(de)致(zhi)密(mi)性，又(you)使(shi)得焊(han)(han)(han)(han)(han)縫(feng)有效截面積減少，降(jiang)低了機械性能(neng)，特別是存鏈狀氣(qi)孔時(shi)，對彎曲(qu)和沖(chong)擊(ji)韌性會有比較明顯降(jiang)低。防止這類(lei)缺陷(xian)產(chan)生(sheng)的(de)措(cuo)施有：不(bu)使(shi)用藥皮開裂、剝落、變質(zhi)及(ji)焊(han)(han)(han)(han)(han)芯(xin)銹(xiu)蝕(shi)的(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)條(tiao)，生(sheng)銹(xiu)的(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)絲必須除銹(xiu)后才能(neng)使(shi)用。所(suo)用焊(han)(han)(han)(han)(han)接(jie)材(cai)料應按規(gui)定溫(wen)度烘(hong)干(gan)，坡口及(ji)其兩側清理干(gan)凈(jing)，并要選用合適的(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)接(jie)電(dian)(dian)(dian)流、電(dian)(dian)(dian)弧電(dian)(dian)(dian)壓和焊(han)(han)(han)(han)(han)接(jie)速度等。
點狀夾渣(zha)回波(bo)(bo)信號與點狀氣(qi)孔(kong)相似，條狀夾渣(zha)回波(bo)(bo)信號多呈鋸齒(chi)狀波(bo)(bo)幅不高，波(bo)(bo)形(xing)多呈樹(shu)枝狀，主峰邊上有小(xiao)峰，探(tan)頭平移波(bo)(bo)幅有變動，從各(ge)個方向探(tan)測(ce)時反射(she)波(bo)(bo)幅不相同。這類缺陷(xian)產生的原因有：焊(han)接(jie)電流過小(xiao)，速(su)度(du)過快(kuai)，熔(rong)渣(zha)來不及浮起，被焊(han)邊緣(yuan)和各(ge)層焊(han)縫清理(li)不干凈(jing)(jing)，其本金屬和焊(han)接(jie)材料(liao)化學成分不當，含硫(liu)、磷較多等(deng)。防止措施有：正確選用焊(han)接(jie)電流，焊(han)接(jie)件的坡口角(jiao)度(du)不要太小(xiao)，焊(han)前(qian)必(bi)(bi)須把坡口清理(li)干凈(jing)(jing)，多層焊(han)時必(bi)(bi)須層層清除焊(han)渣(zha);并合理(li)選擇運條角(jiao)度(du)焊(han)接(jie)速(su)度(du)等(deng)。
反射率高，波(bo)幅(fu)(fu)也較高，探(tan)頭平移時，波(bo)形較穩定，在焊縫(feng)兩側探(tan)傷時均能得到大致相同的反射波(bo)幅(fu)(fu)。這類缺陷(xian)不僅降低了(le)焊接(jie)接(jie)頭的機械性能，而且在未焊透(tou)處(chu)的缺口和端(duan)部形成應力集中點，承載后往往會引起裂紋，是(shi)一(yi)種(zhong)危(wei)險性缺陷(xian)。其產生原因一(yi)般(ban)是(shi)：坡口純(chun)邊間(jian)(jian)隙(xi)太(tai)小，焊接(jie)電流太(tai)小或運條(tiao)速度(du)過快(kuai)，坡口角(jiao)度(du)小，運條(tiao)角(jiao)度(du)不對以及電弧偏吹等。防止措施有：合理(li)選用坡口型式、裝(zhuang)配間(jian)(jian)隙(xi)和采用正確(que)的焊接(jie)工藝等。
探(tan)頭平移時，波形較穩定(ding)，兩(liang)側(ce)探(tan)測時，反射波幅不(bu)(bu)同，有(you)時只能從一側(ce)探(tan)到。其產生的原(yuan)因：坡口(kou)不(bu)(bu)干凈，焊(han)速太快，電(dian)流過小或過大，焊(han)條角度不(bu)(bu)對，電(dian)弧偏吹等(deng)。防(fang)止措施：正確選(xuan)用坡口(kou)和電(dian)流，坡口(kou)清理干凈，正確操作防(fang)止焊(han)偏等(deng)。
回波高度(du)較大，波幅寬，會出(chu)現多峰，探頭平移時(shi)(shi)反(fan)射波連續出(chu)現波幅有變動，探頭轉時(shi)(shi)，波峰有上下錯動現象。裂(lie)(lie)紋(wen)是(shi)一種危(wei)險性最大的(de)(de)(de)缺陷，它除降低焊(han)(han)(han)接(jie)(jie)(jie)接(jie)(jie)(jie)頭的(de)(de)(de)強度(du)外(wai)，還因裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)末(mo)端呈尖銷的(de)(de)(de)缺口，焊(han)(han)(han)件承載后，引起應力集中(zhong)，成為結(jie)構斷裂(lie)(lie)的(de)(de)(de)起源。裂(lie)(lie)紋(wen)分(fen)為熱(re)裂(lie)(lie)紋(wen)、冷(leng)裂(lie)(lie)紋(wen)和再熱(re)裂(lie)(lie)紋(wen)三種。熱(re)裂(lie)(lie)紋(wen)產(chan)(chan)生(sheng)的(de)(de)(de)原(yuan)因是(shi)：焊(han)(han)(han)接(jie)(jie)(jie)時(shi)(shi)熔池的(de)(de)(de)冷(leng)卻速(su)度(du)很快，造(zao)成偏(pian)析(xi);焊(han)(han)(han)縫受熱(re)不均勻產(chan)(chan)生(sheng)拉應力。防止措施：限制(zhi)母材(cai)和焊(han)(han)(han)接(jie)(jie)(jie)材(cai)料中(zhong)易偏(pian)析(xi)元素(su)和有害雜質(zhi)的(de)(de)(de)含量(liang)，主要限制(zhi)硫含量(liang)，提(ti)(ti)高錳含量(liang);提(ti)(ti)高焊(han)(han)(han)條或焊(han)(han)(han)劑的(de)(de)(de)堿(jian)度(du)，以降低雜質(zhi)含量(liang)，改善(shan)偏(pian)析(xi)程度(du);改進焊(han)(han)(han)接(jie)(jie)(jie)結(jie)構形式，采用合理(li)的(de)(de)(de)焊(han)(han)(han)接(jie)(jie)(jie)順序(xu)，提(ti)(ti)高焊(han)(han)(han)縫收縮時(shi)(shi)的(de)(de)(de)自(zi)由度(du)。
探傷(shang)(shang)儀(yi)檢測(ce)這(zhe)里(li)主(zhu)(zhu)要介(jie)紹的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)應(ying)用(yong)(yong)最多的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通過反(fan)(fan)(fan)射(she)法(fa)(fa)來(lai)(lai)獲取物(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)(nei)(nei)部特性(xing)信(xin)(xin)(xin)息的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)。反(fan)(fan)(fan)射(she)法(fa)(fa)是(shi)(shi)基于超(chao)聲(sheng)在(zai)(zai)通過不同(tong)聲(sheng)阻抗組(zu)織(zhi)界面(mian)(mian)時(shi)會發生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)較強反(fan)(fan)(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原理(li)(li)工作的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正如(ru)我(wo)(wo)們所(suo)知道，聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在(zai)(zai)從一種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)傳(chuan)播到另外一種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候(hou)(hou)在(zai)(zai)兩者之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)處(chu)(chu)(chu)(chu)會發生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)反(fan)(fan)(fan)射(she)，而且介(jie)質(zhi)(zhi)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差別越(yue)大(da)反(fan)(fan)(fan)射(she)就(jiu)會越(yue)大(da)，所(suo)以(yi)(yi)(yi)我(wo)(wo)們可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)對(dui)一個物(wu)(wu)體(ti)(ti)發射(she)出穿透力(li)(li)強、能夠直線傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，探傷(shang)(shang)儀(yi)然后(hou)對(dui)反(fan)(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)進行(xing)(xing)接(jie)收(shou)并(bing)根(gen)據(ju)這(zhe)些反(fan)(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先(xian)后(hou)、幅度(du)等(deng)(deng)(deng)情況就(jiu)可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)判(pan)(pan)斷(duan)出這(zhe)個組(zu)織(zhi)中(zhong)含(han)有(you)(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小、分布(bu)情況以(yi)(yi)(yi)及各種(zhong)介(jie)質(zhi)(zhi)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比(bi)(bi)差別程(cheng)度(du)等(deng)(deng)(deng)信(xin)(xin)(xin)息（其(qi)(qi)中(zhong)反(fan)(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先(xian)后(hou)可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)反(fan)(fan)(fan)映(ying)(ying)出反(fan)(fan)(fan)射(she)界面(mian)(mian)離探測(ce)表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距(ju)離，幅度(du)則(ze)可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)反(fan)(fan)(fan)映(ying)(ying)出介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小、對(dui)比(bi)(bi)差別程(cheng)度(du)等(deng)(deng)(deng)特性(xing)），探傷(shang)(shang)儀(yi)從而判(pan)(pan)斷(duan)出該被(bei)測(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)是(shi)(shi)否有(you)(you)異常(chang)。在(zai)(zai)這(zhe)個過程(cheng)中(zhong)就(jiu)涉及到很多方(fang)(fang)(fang)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)(nei)(nei)容，包括超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、接(jie)收(shou)、信(xin)(xin)(xin)號(hao)轉(zhuan)(zhuan)換和處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)等(deng)(deng)(deng)。其(qi)(qi)中(zhong)產生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)是(shi)(shi)通過電(dian)(dian)(dian)路(lu)產生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)激勵電(dian)(dian)(dian)信(xin)(xin)(xin)號(hao)傳(chuan)給具有(you)(you)壓電(dian)(dian)(dian)效應(ying)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶(jing)體(ti)(ti)（比(bi)(bi)如(ru)石英、硫酸鋰等(deng)(deng)(deng)），使其(qi)(qi)振動(dong)從而產生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)；而接(jie)收(shou)反(fan)(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候(hou)(hou)，這(zhe)個壓電(dian)(dian)(dian)晶(jing)體(ti)(ti)又(you)(you)會受到反(fan)(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓力(li)(li)而產生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)電(dian)(dian)(dian)信(xin)(xin)(xin)號(hao)并(bing)傳(chuan)送(song)給信(xin)(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)電(dian)(dian)(dian)路(lu)進行(xing)(xing)一系列的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)，探傷(shang)(shang)儀(yi)最后(hou)形(xing)(xing)(xing)(xing)成(cheng)(cheng)圖(tu)(tu)像(xiang)供人(ren)們觀(guan)(guan)察判(pan)(pan)斷(duan)。這(zhe)里(li)根(gen)據(ju)圖(tu)(tu)像(xiang)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)（也(ye)(ye)就(jiu)是(shi)(shi)將得到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)(xin)號(hao)轉(zhuan)(zhuan)換成(cheng)(cheng)什么(me)形(xing)(xing)(xing)(xing)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)像(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種(zhong)類又(you)(you)可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)分為A型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、M型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、B型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、C型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、F型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)等(deng)(deng)(deng)。其(qi)(qi)中(zhong)A型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)將接(jie)收(shou)到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)信(xin)(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)成(cheng)(cheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)圖(tu)(tu)像(xiang)，根(gen)據(ju)波(bo)(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)(xing)(xing)狀(zhuang)可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)看(kan)出被(bei)測(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)里(li)面(mian)(mian)是(shi)(shi)否有(you)(you)異常(chang)和缺陷在(zai)(zai)那里(li)、有(you)(you)多大(da)等(deng)(deng)(deng)，探傷(shang)(shang)儀(yi)主(zhu)(zhu)要用(yong)(yong)于工業檢測(ce)；M型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)將一條經過輝度(du)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探測(ce)信(xin)(xin)(xin)息按時(shi)間(jian)順序展(zhan)開形(xing)(xing)(xing)(xing)成(cheng)(cheng)一維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)多點運(yun)動(dong)時(shi)序圖(tu)(tu)"，適(shi)(shi)于觀(guan)(guan)察內(nei)(nei)(nei)部處(chu)(chu)(chu)(chu)于運(yun)動(dong)狀(zhuang)態(tai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)(ti)，探傷(shang)(shang)儀(yi)如(ru)運(yun)動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器(qi)、動(dong)脈血管等(deng)(deng)(deng)；B型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)將并(bing)排很多條經過輝度(du)處(chu)(chu)(chu)(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探測(ce)信(xin)(xin)(xin)息組(zu)合成(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)(fan)映(ying)(ying)出被(bei)測(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)(nei)(nei)部斷(duan)層切面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解(jie)剖圖(tu)(tu)像(xiang)"（醫(yi)院里(li)使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)就(jiu)是(shi)(shi)用(yong)(yong)這(zhe)種(zhong)原理(li)(li)做出來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探傷(shang)(shang)儀(yi)適(shi)(shi)于觀(guan)(guan)察內(nei)(nei)(nei)部處(chu)(chu)(chu)(chu)于靜(jing)態(tai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)(ti)；而C型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、F型(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)得比(bi)(bi)較少。探傷(shang)(shang)儀(yi)檢測(ce)不但可(ke)(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)做到非(fei)常(chang)準(zhun)確，而且相對(dui)其(qi)(qi)他檢測(ce)方(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)來(lai)(lai)說更為方(fang)(fang)(fang)便、快捷，也(ye)(ye)不會對(dui)檢測(ce)對(dui)象和操作者產生(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)危害，所(suo)以(yi)(yi)(yi)受到了人(ren)們越(yue)來(lai)(lai)越(yue)普遍的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有(you)(you)著非(fei)常(chang)廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展(zhan)前景(jing)。
探(tan)傷(shang)儀的(de)(de)(de)應用(yong)有(you)很廣泛，比如用(yong)超(chao)聲的(de)(de)(de)反射來測(ce)(ce)(ce)(ce)量距離，利(li)用(yong)大功率超(chao)聲的(de)(de)(de)振(zhen)動來清除附(fu)著在鍋(guo)爐上面的(de)(de)(de)水垢(gou)，利(li)用(yong)高(gao)能超(chao)聲做成"超(chao)聲刀"來消滅(mie)、擊碎人體內的(de)(de)(de)癌變、結石等，探(tan)傷(shang)儀而(er)利(li)用(yong)超(chao)聲的(de)(de)(de)反射等效應和穿透力(li)強、能夠直(zhi)線傳播等的(de)(de)(de)特性來進行檢測(ce)(ce)(ce)(ce)也是其中一個很大的(de)(de)(de)應用(yong)領域。探(tan)傷(shang)儀的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)應用(yong)主要包括在工業上對各種材料的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)和在醫療上對人體的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)診斷，通過它人們(men)可(ke)以探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)出金(jin)屬等工業材料中有(you)沒有(you)氣泡、傷(shang)痕、裂縫等缺陷，可(ke)以檢測(ce)(ce)(ce)(ce)出人們(men)身體的(de)(de)(de)軟組織、血流等是否正常。
粉探傷儀適用于(yu)零件表(biao)(biao)面(mian)的探傷，主要適用于(yu)濕(shi)磁粉法檢(jian)測曲軸、凸輪軸、花鍵軸等各種中小(xiao)型零件的表(biao)(biao)面(mian)及近表(biao)(biao)面(mian)因鑄造、淬火、加工、疲勞等原因引起的裂紋及細微缺陷，是單件檢(jian)測，小(xiao)批抽檢(jian)，大批量檢(jian)測的首選(xuan)機型。
輕小，可以(yi)到現場(chang)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)乃至(zhi)高(gao)(gao)空進(jin)行(xing)(xing)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)作業。包括對(dui)大型零部(bu)(bu)件進(jin)行(xing)(xing)局部(bu)(bu)磁化探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。特別適用于(yu)平(ping)焊(han)縫(feng)、角焊(han)縫(feng)、壓力(li)容器、管(guan)道及形狀(zhuang)復雜(za)零部(bu)(bu)件的探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。對(dui)不(bu)允許高(gao)(gao)電壓進(jin)入設備內(nei)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)的場(chang)合更為適合。
磁粉探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)只能對大(da)型工件分(fen)段探(tan)(tan)傷(shang)，不能一(yi)次性檢測出全(quan)方位的裂紋，所(suo)以其探(tan)(tan)傷(shang)效率(lv)較低。
該(gai)設備(bei)操(cao)作簡便，工(gong)作效率高，采用工(gong)業(ye)PLC控(kong)制，既可手動(dong)單步操(cao)作，亦(yi)可自(zi)動(dong)循(xun)環工(gong)作，周(zhou)、縱向電流分別可調，具(ju)有斷電相位控(kong)制功(gong)能。可分別進行周(zhou)向、縱向、復合磁化。工(gong)件可以(yi)轉(zhuan)動(dong)，檢測時機(ji)器可按工(gong)藝要求(qiu)設定的(de)(de)程(cheng)序自(zi)動(dong)完成除上下料及觀察外（如(ru)夾緊(jin)、噴液、磁化、退磁、轉(zhuan)動(dong)等等）的(de)(de)自(zi)動(dong)化工(gong)作。
1、周向磁化電流：AC0－4000A連(lian)續可(ke)調(diao)駛帶斷(duan)電相位控制；
2、縱向磁化電流：DC0－20000AT連續可(ke)調(diao)帶(dai)斷電相位控制；
3、退磁磁勢：AC20000－0AT連續可調自動衰減；
4、退磁效果(guo)：≤0.2mT；
5、夾(jia)緊(jin)方(fang)式(shi)：氣(qi)動或電動夾(jia)緊(jin)；
6、電極(ji)間距：0－1000mm由夾具(ju)確定(ding)；
7、夾緊(jin)行(xing)程：0－50mm；
8、夾頭轉速：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分辨率TFTLCD，獨特的遮陽設計，符合(he)人體工程學。
采用高端(duan)ARM處理器，系統(tong)響(xiang)應(ying)速度快，實時性好。
采用性能先進的前置放大(da)器(qi)，大(da)大(da)減小(xiao)檢測盲區。
簡潔易用的人機交互，儀器(qi)操控(kong)性強。
高達4GB海量(liang)存儲，能夠(gou)進(jin)行長(chang)時間的探傷波形(xing)動態(tai)記錄，存儲大量(liang)波形(xing)信(xin)息。
具有豐富(fu)的(de)通(tong)信接(jie)口(kou)，強(qiang)大(da)的(de)數據備份和(he)數據轉儲(chu)能(neng)力。
防水等級(ji)IP64。
鍵盤背光功能。
探頭接口采用(yong)瑞士原裝(zhuang)進口的(de)LEMO接頭，美觀大方(fang)，耐用(yong)性好。
增(zeng)加Ethernet網口，可(ke)接入以太網。
增(zeng)加了大量的操作(zuo)提示信息，人機交(jiao)互界面更加友好(hao)。
用戶(hu)可根(gen)據(ju)自己喜好來選(xuan)擇不(bu)同(tong)的屏幕(mu)顏色。
內置AWS、API5UE等多種(zhong)標準(zhun)。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范圍：(0~9999)mm
工作頻率：(0.25~20)MHz
各頻段等效輸入噪聲：<15%
發射脈(mo)沖：負(fu)脈(mo)沖s
能量可選擇，適(shi)用探頭范圍廣。
脈沖(chong)寬度在(0.1~0.5)μs范(fan)圍內連續調節，以匹配不同頻(pin)率的探頭。
脈沖幅(fu)度：低（300伏）、中（500伏）、高(gao)（700伏）分級選擇，適用(yong)探頭范圍(wei)廣。
脈沖寬度：在（0.1~0.5）μs范圍內(nei)連續調(diao)節(jie)，以(yi)匹配不同頻率的(de)探頭。
超(chao)聲波(bo)探傷儀探頭阻尼：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選(xuan)，滿足靈敏(min)度及分辨率的不(bu)同工作。
動(dong)態范圍：≥36dB
數字抑制：(0~80)%，不影(ying)響線性與增益。
垂直線性誤(wu)差：≤2.6%。
水(shui)平線(xian)性誤差：≤0.1%。
分(fen)辨力：>38dB。
靈敏度余量：60dB。
電噪聲電平：≤10%。
濾波頻(pin)帶：（0.25~20）MHz，根據探頭頻(pin)率(lv)全自動匹配(pei)，無需手動設置。
探傷通道：200組探傷工作通道。
探頭(tou)接口(kou)：LEMO接口(kou)，ERA.1S。
探頭(tou)類型：直(zhi)探頭(tou)、斜探頭(tou)、雙晶探頭(tou)、穿透探頭(tou)。
報警(jing)：蜂(feng)鳴(ming)器報警(jing)，鍵盤背(bei)光燈報警(jing)。
電源：直流（DC）9V；鋰電池連續工作6~8小時以(yi)上。
外型(xing)尺寸(cun)：220×156×58(mm)結構待定(ding)。
環境溫度：(-10~50)℃。
相對(dui)濕度：(20~95)%RH。
注：以上指標是在探頭頻(pin)率為2.5MHz、檢波方(fang)式為全(quan)波的(de)情況下所(suo)測得的(de)。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件實時采樣(yang)：10位AD轉換器，采樣(yang)速度(du)125MHz，波形高度(du)保真。
檢(jian)波方式：正(zheng)半波、負半波、全波、射(she)頻檢(jian)波。
閘(zha)(zha)門(men)(men)讀數(shu)：單閘(zha)(zha)門(men)(men)和雙閘(zha)(zha)門(men)(men)讀數(shu)方(fang)式可選；閘(zha)(zha)門(men)(men)內(nei)峰(feng)值讀數(shu)、邊緣檢測可選。
增(zeng)(zeng)益(yi)：0-110dB，最小增(zeng)(zeng)益(yi)調節量0.1dB，獨特的全(quan)自(zi)動增(zeng)(zeng)益(yi)調節及掃查增(zeng)(zeng)益(yi)功能。
超聲波探傷儀探傷功能
波(bo)峰記憶：實時檢索缺(que)陷最(zui)高(gao)波(bo)，記錄缺(que)陷最(zui)大值。
Φ值計算：直探頭鍛件探傷(shang)找準缺(que)陷最(zui)高(gao)波(bo)后自動計算、顯(xian)示缺(que)陷當量(liang)尺(chi)寸。
缺陷定位：實時顯示(shi)缺陷水平、深度（垂直）、聲(sheng)程(cheng)位置。
缺陷定量：缺陷當量dB值實(shi)時顯示；
缺陷定性：通過回波包(bao)絡波形，方便人(ren)工經(jing)驗判斷；
探頭頻率檢(jian)測：通過抓取回波(bo)(bo)(bo)，準確(que)檢(jian)測出探頭的中(zhong)心頻率，500mm范圍內(nei)任意(yi)波(bo)(bo)(bo)幅回波(bo)(bo)(bo)，一(yi)鍵輕松完成檢(jian)測；
曲(qu)面修正：修正斜探頭圓管(guan)檢測(ce)時的(de)深度和(he)水平距離；
超聲波(bo)探傷儀(yi)修(xiu)正模式：內(nei)弧(hu)/外(wai)弧(hu)；
DAC/AVG：曲(qu)線自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)生成(cheng)，取樣點不受限制，并可進行補償(chang)與修(xiu)正。曲(qu)線隨(sui)(sui)增益自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)浮(fu)動(dong)(dong)(dong)、隨(sui)(sui)聲(sheng)程(cheng)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)擴展、隨(sui)(sui)延時自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)移動(dong)(dong)(dong)。能顯示(shi)任意孔徑的AVG曲(qu)線。
裂紋測高：利(li)用(yong)端點(dian)衍射(she)波自動測量、計算裂紋高度。
B型掃描：采用(yong)定時掃描方式形成(cheng)B型圖像。
門內展寬(kuan)：放大回(hui)波細節，便于回(hui)波分析(xi)。
動態(tai)記(ji)錄(lu)(lu)：檢測實(shi)時動態(tai)記(ji)錄(lu)(lu)、存儲、回放波(bo)形，每(mei)段(duan)記(ji)錄(lu)(lu)可達8分鐘。
波(bo)形凍結：凍結屏幕上(shang)顯示的波(bo)形，便于缺陷分析。
焊(han)縫圖(tu)示：顯示焊(han)縫坡(po)口形(xing)式和聲束走向，直觀顯示缺陷位置。
內置(zhi)標(biao)準：可自(zi)由設置(zhi)各行業探傷工藝標(biao)準。
回波編碼：輸入工件厚度，儀器根據一次(ci)波、二次(ci)波及(ji)多次(ci)波的區域能生(sheng)成不同的背景色(se)彩。
工作方式：直(zhi)探頭(tou)、斜探頭(tou)、雙晶探頭(tou)、穿透探傷(shang)。
閘門報警(jing)(jing)：門位、門寬、門高(gao)任意(yi)可(ke)調；B閘門可(ke)選擇(ze)設(she)置(zhi)(zhi)進波(bo)(bo)報警(jing)(jing)或(huo)失波(bo)(bo)報警(jing)(jing)；數據存儲：200組探(tan)傷(shang)參數通道(dao)，可(ke)預先調校好(hao)各類探(tan)頭和儀器的(de)組合參數，自由設(she)置(zhi)(zhi)各行(xing)業探(tan)傷(shang)標準；可(ke)存儲10000幅(fu)探(tan)傷(shang)回波(bo)(bo)信號及(ji)(ji)參數，實現存儲、讀(du)出及(ji)(ji)通過USB接口傳輸。
實時時鐘：實時探傷日期、時間的跟蹤(zong)記錄，并記錄存儲。
通(tong)訊接(jie)口：USB主機接(jie)口和從機接(jie)口，既(ji)能與PC機通(tong)信(xin)，又能方便地訪問U盤。藍牙無(wu)線(xian)通(tong)信(xin)模塊。
電(dian)池(chi)模塊：高容量鋰電(dian)池(chi)模塊，在線充電(dian)和(he)脫機充電(dian)兩(liang)種充電(dian)方式，方便探傷(shang)。
醫用超聲波探傷儀
超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探傷儀(yi)工作原理與聲(sheng)納有(you)一定(ding)的(de)(de)相似性，即將超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)發射(she)到人(ren)體內，當它在(zai)體內遇到界面時會發生(sheng)反(fan)射(she)及折射(she)，并且在(zai)人(ren)體組織中可能被吸(xi)收而衰減。因為人(ren)體各(ge)種組織的(de)(de)形(xing)態與結(jie)構是(shi)不相同的(de)(de)，因此其反(fan)射(she)與折射(she)以及吸(xi)收超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)程度也就不同，醫生(sheng)們正(zheng)是(shi)通過(guo)儀(yi)器(qi)所(suo)反(fan)映出的(de)(de)波(bo)型、曲(qu)線，或(huo)影象的(de)(de)特征來(lai)辨別(bie)它們。此外再結(jie)合解剖學知識、正(zheng)常與病理的(de)(de)改變，便可診斷所(suo)檢查的(de)(de)器(qi)官是(shi)否(fou)有(you)病。醫生(sheng)們應用的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)診斷方法(fa)有(you)不同的(de)(de)形(xing)式，可分為A型、B型、M型及D型四大類:
A型(xing)：是(shi)以(yi)波形來顯示組(zu)(zu)織(zhi)特(te)征的方(fang)法，主要用(yong)于測量器官的徑線(xian)，以(yi)判定其大小。可用(yong)來鑒別病變組(zu)(zu)織(zhi)的一些物理特(te)性，如(ru)實質性、液體或是(shi)氣體是(shi)否(fou)存(cun)在等。
B型：用(yong)平面圖形的形式來顯示(shi)被(bei)探查組織(zhi)的具體情況。檢查時，將人(ren)體界(jie)面的反(fan)射信號轉變為強弱不同(tong)的光點，這(zhe)些光點可通過(guo)熒光屏顯現出來，這(zhe)種方法直觀性好，重復性強，可供(gong)前(qian)后對比，所以廣泛用(yong)于(yu)婦產科、泌尿、消化及心血管等系(xi)統疾(ji)病的診斷。
M型：是(shi)用于(yu)觀(guan)察(cha)活動界(jie)面時(shi)間變化的(de)(de)一(yi)種方(fang)法。最(zui)適(shi)用于(yu)檢查心(xin)臟(zang)的(de)(de)活動情況，其曲線的(de)(de)動態改變稱(cheng)為超聲心(xin)動圖(tu)，可以(yi)用來(lai)觀(guan)察(cha)心(xin)臟(zang)各層結構的(de)(de)位置、活動狀態、結構的(de)(de)狀況等，多用于(yu)輔助心(xin)臟(zang)及大血(xue)管疫病的(de)(de)診斷(duan)。
D型(xing)：是(shi)專門用(yong)來(lai)檢測血液(ye)流動和器官活動的(de)一(yi)種超(chao)聲診斷方法，又稱為(wei)多(duo)普勒超(chao)聲診斷法。可(ke)確定血管是(shi)否通暢、管腔有否狹窄、閉(bi)塞以(yi)及病變部位。新一(yi)代的(de)D型(xing)超(chao)聲波(bo)還能定量(liang)地測定管腔內血液(ye)的(de)流量(liang)。科學(xue)家又發展了彩色編碼(ma)多(duo)普勒系統，可(ke)在超(chao)聲心(xin)動圖(tu)解剖標志的(de)指(zhi)示下(xia)，以(yi)不同(tong)顏色顯示血流的(de)方向(xiang)，色澤(ze)的(de)深淺(qian)代表血流的(de)流速。還有立體超(chao)聲顯象、超(chao)聲CT、超(chao)聲內窺鏡等超(chao)聲技術不斷涌(yong)現出來(lai)，并且還可(ke)以(yi)與其(qi)他檢查(cha)儀器結合使用(yong)，使疾病的(de)診斷準確率大大提高。超(chao)聲波(bo)技術正在醫學(xue)界發揮(hui)著巨大的(de)作用(yong)，隨著科學(xue)的(de)進步，它將(jiang)更(geng)加完善，將(jiang)更(geng)好地造福于人(ren)類。
主要用于探測機加工件內部(bu)有(you)無缺(que)陷（裂紋、砂眼、氣孔、白點、夾雜等），焊(han)縫是(shi)否合格(ge)(ge)，查找有(you)無暗傷，從而(er)判(pan)定(ding)工件合格(ge)(ge)與否。
全數字
真彩(cai)顯示器：五(wu)種顏(yan)色可選(xuan)、亮度可調
高性能(neng)鋰電(dian)池，連(lian)續工作7小時
與計算機通訊，可自(zi)動(dong)生成探傷報告
實(shi)時顯示(shi)SL、EL、GL、RL定量值(zhi)
自動校準：自動測試“探頭零點”、“K值(zhi)”、“前沿”及“材料聲速”；
自動(dong)顯(xian)示缺陷回波位置(zhi)（深度d、水平p、距離s、波幅、當量(liang)dB、孔徑ф值(zhi)）；
自由切換三種(zhong)標尺(chi)（深(shen)度(du)d、水平p、距離s），滿足(zu)不同的探(tan)傷標準要求和探(tan)傷工程師的標尺(chi)使用習慣；
自(zi)動增益(yi)：自(zi)動將波(bo)形調(diao)至屏高的80%，大(da)大(da)提高了探傷效率(lv)；
自動(dong)錄制探傷過程并可以進行動(dong)態回(hui)放；
自動φ值計算(suan)(suan)：直探頭鍛(duan)件探傷，找準缺陷最高波自動換算(suan)(suan)孔徑(jing)ф值；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻尼(ni)自(zi)動。
硬件實時采樣(yang)：150MHz，波形(xing)高度保真(zhen)
閘(zha)門(men)信號(hao)：單(dan)閘(zha)門(men)、雙閘(zha)門(men)，峰值或(huo)邊緣讀數(shu)
增益調節：手動調節110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或自動調節至(zhi)屏高的80%
曲線包絡和波(bo)峰(feng)記憶：實時檢索并記錄缺陷最(zui)高波(bo)
φ值計算(suan)：直探頭鍛件探傷找準缺陷最高(gao)波自動換算(suan)
動態錄制(zhi)：實(shi)時動態錄制(zhi)波形，并可存儲、回(hui)放(fang)
缺陷定位：實時顯示水平值L、深度(du)值H、聲(sheng)程(cheng)值S
缺陷定量：實時顯示SL、EL、GL、RL定量值
實時顯示孔狀缺陷Φ值
缺陷(xian)定性：通過波形(xing)，人工經(jing)驗判斷(duan)
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算(suan)
B型掃(sao)描：實時(shi)掃(sao)查，描述(shu)缺(que)陷(xian)橫切面
閘門(men)報警(jing)：進波報警(jing)、失波報警(jing)
DAC報(bao)警：自由設置(zhi)SL、EL、GL、RL報(bao)警
五大常規方法(fa)是指射線探(tan)傷(shang)法(fa)、超聲(sheng)波探(tan)傷(shang)法(fa)、磁(ci)粉探(tan)傷(shang)法(fa)、渦流(liu)探(tan)傷(shang)法(fa)和滲透(tou)探(tan)傷(shang)法(fa)。
射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是利用射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)(chuan)透(tou)性和直(zhi)(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法。這些射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖(sui)然不(bu)(bu)會像可(ke)見(jian)光(guang)那樣憑肉眼就能(neng)直(zhi)(zhi)接(jie)(jie)察知，但它可(ke)使(shi)照相底片(pian)感(gan)光(guang)，也可(ke)用特殊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)。常(chang)用于探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有x光(guang)和同位素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱(cheng)為x光(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。當這些射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)時(shi)(shi)，該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)密度(du)(du)越大，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)(du)減(jian)弱得(de)越多(duo)，即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)(chuan)透(tou)過(guo)該物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就越小。此(ci)時(shi)(shi)，若(ruo)用照相底片(pian)接(jie)(jie)收(shou)，則底片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光(guang)量就小；若(ruo)用儀器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號就弱。因此(ci)，用射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部件時(shi)(shi)，若(ruo)其(qi)內部有氣孔、夾渣等缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)有缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)比(bi)沒有缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密度(du)(du)要(yao)小得(de)多(duo)，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就減(jian)弱得(de)少些，即透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就大些，若(ruo)用底片(pian)接(jie)(jie)收(shou)，則感(gan)光(guang)量就大些，就可(ke)以(yi)從(cong)底片(pian)上(shang)反映出缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)(zhi)于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平面投影；若(ruo)用其(qi)它接(jie)(jie)收(shou)器(qi)也同樣可(ke)以(yi)用儀表來(lai)反映缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)(zhi)于射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平面投影和射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量。由此(ci)可(ke)見(jian)，一(yi)般情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是不(bu)(bu)易發(fa)現裂(lie)紋的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對裂(lie)紋是不(bu)(bu)敏(min)感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)。因此(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對氣孔、夾渣、未焊透(tou)等體積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)最敏(min)感(gan)。即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)適(shi)宜用于體積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，而不(bu)(bu)適(shi)宜面積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。
人(ren)們的(de)(de)耳朵能(neng)直(zhi)接(jie)接(jie)收到(dao)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)頻(pin)(pin)率范(fan)圍(wei)通常是20Hz到(dao)20kHz，即(ji)音(yin)（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻(pin)(pin)。頻(pin)(pin)率低于20Hz的(de)(de)稱為(wei)次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高于20kHz的(de)(de)稱為(wei)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工業上常用(yong)(yong)(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來探(tan)傷。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻(pin)(pin)率高，則(ze)(ze)傳播的(de)(de)直(zhi)線(xian)性強(qiang)，又易于在固體中傳播，并(bing)且遇到(dao)兩種不(bu)同介(jie)質(zhi)形(xing)成的(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)(mian)(mian)時易于反射(she)，這樣就可以用(yong)(yong)(yong)(yong)它(ta)來探(tan)傷。通常用(yong)(yong)(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)與待(dai)探(tan)工件(jian)表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)良好的(de)(de)接(jie)觸，探(tan)頭(tou)則(ze)(ze)可有效地向(xiang)工件(jian)發射(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并(bing)能(neng)接(jie)收（缺陷(xian)）界(jie)面(mian)(mian)(mian)(mian)反射(she)來的(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同時轉(zhuan)換成電信(xin)號，再傳輸給儀器(qi)進行處(chu)理。根據(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在介(jie)質(zhi)中傳播的(de)(de)速度(du)（常稱聲(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳播的(de)(de)時間，就可知道缺陷(xian)的(de)(de)位(wei)置。當(dang)缺陷(xian)越(yue)(yue)大，反射(she)面(mian)(mian)(mian)(mian)則(ze)(ze)越(yue)(yue)大，其(qi)反射(she)的(de)(de)能(neng)量(liang)也就越(yue)(yue)大，故(gu)可根據(ju)反射(she)能(neng)量(liang)的(de)(de)大小來查知各缺陷(xian)（當(dang)量(liang)）的(de)(de)大小。常用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)探(tan)傷波(bo)(bo)形(xing)有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)等，前二(er)者適(shi)用(yong)(yong)(yong)(yong)于探(tan)測內部(bu)缺陷(xian)，后者適(shi)宜于探(tan)測表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)缺陷(xian)，但對表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)條件(jian)要求高。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷(shang)是建立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎(chu)上的一(yi)種磁(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿(chuan)過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)(qi)制(zhi)品時(shi)，在(zai)其(qi)(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續(xu)處將產生(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此時(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉或澆(jiao)上磁(ci)(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉，產生(sheng)用肉(rou)(rou)眼(yan)(yan)能(neng)直接觀察的明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因此，可(ke)借(jie)助(zhu)于該(gai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)(qi)制(zhi)品的缺陷(xian)情(qing)況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)可(ke)探(tan)測(ce)露(lu)出表(biao)面(mian)，用肉(rou)(rou)眼(yan)(yan)或借(jie)助(zhu)于放(fang)大鏡(jing)也不(bu)能(neng)直接觀察到的微小(xiao)缺陷(xian)，也可(ke)探(tan)測(ce)未露(lu)出表(biao)面(mian)，而(er)是埋藏(zang)在(zai)表(biao)面(mian)下幾(ji)毫(hao)米的近表(biao)面(mian)缺陷(xian)。用這種方(fang)法(fa)(fa)雖然(ran)也能(neng)探(tan)查氣孔、夾雜、未焊(han)透(tou)等體(ti)積(ji)型缺陷(xian)，但對面(mian)積(ji)型缺陷(xian)更靈敏，更適于檢查因淬火、軋制(zhi)、鍛(duan)造(zao)、鑄造(zao)、焊(han)接、電(dian)鍍、磨削、疲勞等引(yin)起的裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)方法有多種，有用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也有不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，因它顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)直(zhi)觀、操作(zuo)簡單、人(ren)們(men)樂于(yu)(yu)使用(yong)(yong)，故它是最常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)方法之(zhi)一。不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習慣上(shang)稱(cheng)為漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，它常(chang)借助于(yu)(yu)感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元(yuan)件等來(lai)反映缺(que)陷(xian)(xian)，它比磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)(shang)更衛生，但不如(ru)前者直(zhi)觀。由于(yu)(yu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)主要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉來(lai)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)缺(que)陷(xian)(xian)，因此(ci)，人(ren)們(men)有時(shi)把磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，其設備稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)設備。
渦(wo)(wo)流探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)由交流電流產(chan)生的(de)(de)交變磁場(chang)作用于待探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)導(dao)電材(cai)料(liao)，感應出(chu)電渦(wo)(wo)流。如果材(cai)料(liao)中(zhong)有缺陷(xian)，它將干(gan)擾所(suo)產(chan)生的(de)(de)電渦(wo)(wo)流，即形成干(gan)擾信(xin)號。用渦(wo)(wo)流探(tan)(tan)傷(shang)儀檢測出(chu)其干(gan)擾信(xin)號，就可知道缺陷(xian)的(de)(de)狀況(kuang)。影響渦(wo)(wo)流的(de)(de)因素很多(duo)，即是(shi)說渦(wo)(wo)流中(zhong)載有豐富的(de)(de)信(xin)號，這些(xie)信(xin)號與(yu)材(cai)料(liao)的(de)(de)很多(duo)因素有關，如何(he)將其中(zhong)有用的(de)(de)信(xin)號從諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號中(zhong)一(yi)(yi)一(yi)(yi)分(fen)離出(chu)來，是(shi)渦(wo)(wo)流研究(jiu)工(gong)作者的(de)(de)難題(ti)，多(duo)年來已經取得了一(yi)(yi)些(xie)進(jin)展(zhan)，在(zai)一(yi)(yi)定條件下可解決一(yi)(yi)些(xie)問題(ti)，但還遠不能(neng)滿足現場(chang)的(de)(de)要求(qiu)，有待于大力發展(zhan)。
渦(wo)流探傷(shang)的顯(xian)著特點是對(dui)導電材(cai)(cai)料(liao)(liao)就能起(qi)作(zuo)用，而不一定是鐵磁(ci)材(cai)(cai)料(liao)(liao)，但對(dui)鐵磁(ci)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的效果較差(cha)。其次，待(dai)探工件(jian)表面的光潔度、平(ping)整度、邊介(jie)等對(dui)渦(wo)流探傷(shang)都(dou)有較大影(ying)響，因此常(chang)將渦(wo)流探傷(shang)用于(yu)形狀較規則、表面較光潔的銅管等非鐵磁(ci)性(xing)工件(jian)探傷(shang)。
滲透探(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)毛細現(xian)象(xiang)來進(jin)行探(tan)傷(shang)的(de)(de)方法(fa)。對于(yu)(yu)(yu)表(biao)面(mian)光(guang)(guang)滑而清(qing)潔的(de)(de)零部(bu)件，用(yong)一(yi)種帶色(se)(se)（常(chang)為(wei)紅色(se)(se)）或帶有熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)、滲透性很強(qiang)(qiang)的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)(ti)，涂覆于(yu)(yu)(yu)待(dai)探(tan)零部(bu)件的(de)(de)表(biao)面(mian)。若表(biao)面(mian)有肉眼不能直(zhi)接察知的(de)(de)微裂紋(wen)，由(you)于(yu)(yu)(yu)該液(ye)(ye)體(ti)(ti)的(de)(de)滲透性很強(qiang)(qiang)，它將(jiang)(jiang)沿著裂紋(wen)滲透到其根部(bu)。然后將(jiang)(jiang)表(biao)面(mian)的(de)(de)滲透液(ye)(ye)洗去(qu)，再涂上(shang)(shang)(shang)對比度(du)較大的(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)(ye)（常(chang)為(wei)白(bai)色(se)(se)）。放置片刻后，由(you)于(yu)(yu)(yu)裂紋(wen)很窄(zhai)，毛細現(xian)象(xiang)作用(yong)顯(xian)著，原滲透到裂紋(wen)內的(de)(de)滲透液(ye)(ye)將(jiang)(jiang)上(shang)(shang)(shang)升到表(biao)面(mian)并擴散，在白(bai)色(se)(se)的(de)(de)襯(chen)底(di)上(shang)(shang)(shang)顯(xian)出(chu)(chu)較粗的(de)(de)紅線(xian)，從而顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂紋(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)面(mian)的(de)(de)形(xing)狀，因此，常(chang)稱為(wei)著色(se)(se)探(tan)傷(shang)。若滲透液(ye)(ye)采(cai)用(yong)的(de)(de)是(shi)帶熒(ying)光(guang)(guang)的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)(ti)，由(you)毛細現(xian)象(xiang)上(shang)(shang)(shang)升到表(biao)面(mian)的(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)(ti)，則會在紫外(wai)燈(deng)照射(she)下發出(chu)(chu)熒(ying)光(guang)(guang)，從而更能顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂紋(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)面(mian)的(de)(de)形(xing)狀，故常(chang)常(chang)又(you)將(jiang)(jiang)此時的(de)(de)滲透探(tan)傷(shang)直(zhi)接稱為(wei)熒(ying)光(guang)(guang)探(tan)傷(shang)。此探(tan)傷(shang)方法(fa)也(ye)可用(yong)于(yu)(yu)(yu)金屬和非(fei)金屬表(biao)面(mian)探(tan)傷(shang)。其使用(yong)的(de)(de)探(tan)傷(shang)液(ye)(ye)劑有較大氣味，常(chang)有一(yi)定毒性。
除以(yi)上五大常(chang)規方(fang)法(fa)外，近(jin)年來又有了紅外、聲發射等一(yi)些新的探傷方(fang)法(fa)。
