物(wu)位(wei)測(ce)(ce)量通常(chang)指對(dui)工業生產過程中封(feng)閉式或(huo)敞(chang)開容器中物(wu)料（固體(ti)(ti)或(huo)液(ye)位(wei)）的(de)高度(du)進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)；如果是對(dui)物(wu)料高度(du)進行連(lian)續(xu)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，稱(cheng)為(wei)連(lian)續(xu)測(ce)(ce)量。如果只對(dui)物(wu)料高度(du)是否到達(da)某一(yi)位(wei)置進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)稱(cheng)為(wei)限位(wei)測(ce)(ce)量。完(wan)成這種測(ce)(ce)量任(ren)務的(de)儀(yi)表叫做物(wu)位(wei)計。物(wu)位(wei)測(ce)(ce)量儀(yi)表用來監(jian)測(ce)(ce)液(ye)體(ti)(ti)或(huo)固體(ti)(ti)料位(wei)，包括漿料和顆粒狀(zhuang)固體(ti)(ti)。
按測(ce)量手段來區(qu)分主要有(you)直讀式(shi)(shi)(shi)、浮(fu)(fu)力式(shi)(shi)(shi)（浮(fu)(fu)球(qiu)、浮(fu)(fu)子、磁(ci)翻轉、電(dian)(dian)浮(fu)(fu)筒、磁(ci)致伸縮等）；回波(bo)反射式(shi)(shi)(shi)（超聲(sheng)、微波(bo)、導(dao)波(bo)雷達等）；電(dian)(dian)容式(shi)(shi)(shi)；重錘探測(ce)式(shi)(shi)(shi)；音叉式(shi)(shi)(shi)；阻旋式(shi)(shi)(shi)；靜壓式(shi)(shi)(shi)等多種；其它還有(you)核(he)輻射式(shi)(shi)(shi)、激光式(shi)(shi)(shi)等用(yong)于(yu)特殊場合的測(ce)量方法。
物(wu)位(wei)(wei)(wei)儀表的(de)命名方(fang)式通常(chang)由儀表的(de)測(ce)量(liang)手段、測(ce)量(liang)對象和(he)測(ce)量(liang)目的(de)三個部(bu)分組成。例如音(yin)叉物(wu)位(wei)(wei)(wei)控制器、電浮筒液位(wei)(wei)(wei)計(ji)等(deng)(deng)。對于既能測(ce)量(liang)液位(wei)(wei)(wei)又可測(ce)量(liang)料位(wei)(wei)(wei)的(de)儀表則稱為(wei)物(wu)位(wei)(wei)(wei)計(ji)。例如超聲物(wu)位(wei)(wei)(wei)計(ji)、微波物(wu)位(wei)(wei)(wei)計(ji)、導波雷達物(wu)位(wei)(wei)(wei)計(ji)等(deng)(deng)。
物位(wei)(wei)測量(liang)(liang)儀(yi)(yi)(yi)表(biao)(biao)是測量(liang)(liang)液(ye)(ye)態和粉(fen)粒狀(zhuang)材(cai)料(liao)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)面(mian)和裝載高(gao)度(du)(du)的(de)(de)(de)工(gong)業自動化(hua)儀(yi)(yi)(yi)表(biao)(biao)。測量(liang)(liang)塊狀(zhuang)、顆粒狀(zhuang)和粉(fen)料(liao)等(deng)固(gu)體物料(liao)堆積高(gao)度(du)(du)，或(huo)(huo)表(biao)(biao)面(mian)位(wei)(wei)置的(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)表(biao)(biao)稱(cheng)(cheng)為(wei)料(liao)位(wei)(wei)計(ji)；測量(liang)(liang)罐、塔(ta)和槽等(deng)容器內液(ye)(ye)體高(gao)度(du)(du)，或(huo)(huo)液(ye)(ye)面(mian)位(wei)(wei)置的(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)表(biao)(biao)稱(cheng)(cheng)為(wei)液(ye)(ye)位(wei)(wei)計(ji)，又稱(cheng)(cheng)液(ye)(ye)面(mian)計(ji)；測量(liang)(liang)容器中兩種互不(bu)溶解液(ye)(ye)體或(huo)(huo)固(gu)體與液(ye)(ye)體相界面(mian)位(wei)(wei)置的(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)表(biao)(biao)稱(cheng)(cheng)為(wei)相界面(mian)計(ji)。
