著錄信息
- 專利名稱：可檢測位置深度距離的綜合檢具
- 專利類型：實用新型
- 申請號：CN201020277380.0
- 公開(公告)號：CN201754075U
- 申請日：20100730
- 公開(公告)日：20110302
- 申請人：廣東鴻特精密技術股份有限公司
- 發明人：李維明,岑祥榮,周國成
- 申請人地址：526070 廣東省肇慶市鼎湖區新城北十區
- 申請人區域代碼：CN441203
- 專利權人：廣東鴻特精密技術股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01B5/00,G01B5/18
- 優先權：無
- 專利代理機構：廣州新諾專利商標事務所有限公司 44100
- 代理人：華輝
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
定位基座,檢測位置深度距離,結構簡單緊湊,孔位置度檢具,測量精度,測量速度,方便快捷,工件測量,模擬裝配,位置深度,綜合檢具,成品率,導向孔,工作臺,檢具,檢測
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