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著(zhu)錄(lu)信息

專利名稱：可靠性測試板及PCB板孔間CAF失效分析方法
專利類型：發明
申請號：CN201310738219.7
公開(公告)號：CN103728512B
申請日：20131226
公開(公告)日：20161130
申請人：廣州興森快捷電路科技有限公司,深圳市興森快捷電路科技股份有限公司,宜興硅谷電子科技有限公司
發明人：李文杰
申請人地址：510663 廣東省廣州市科學城光譜中路33號
申請人區域代碼：CN440106
專利權人：廣州興森快捷電路科技有限公司,深圳市興森快捷電路科技股份有限公司,宜興硅谷電子科技有限公司
洛迦諾分類：無
IPC：G01R31/00
優先權：無
專利代理機構：廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
代理人：謝偉;曾旻輝
審查員：章英
國際申請：無
國際公開(公告)：無
進入國家日期：無
分案申請：無

關鍵詞

可靠性測試板,導電陽極,鄰近區域,研磨,觀察孔壁,失效分析,所在平面,測試法,切片,垂直,分析,制定

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