著錄信息
- 專利名稱：一種光模塊測試電路及測試裝置
- 專利類型：實用新型
- 申請號：CN201620040022.5
- 公開(公告)號：CN205545267U
- 申請日：20160115
- 公開(公告)日：20160831
- 申請人：深圳市恒寶通光電子股份有限公司
- 發明人：揭志偉,張小棟
- 申請人地址：518000 廣東省深圳市南山區北環路貓頭山高發工業區高發2號廠房3樓東、4樓、5樓、6樓
- 申請人區域代碼：CN440305
- 專利權人：深圳市恒寶通光電子股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：H04B10/07,G01M11/02
- 優先權：無
- 專利代理機構：深圳市科吉華烽知識產權事務所(普通合伙) 44248
- 代理人：許建;田亞軍
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
扣壓,測試座,光模塊,夾具,本實用新型,測試電路,連接模塊,推進模塊,光模塊測試,測試裝置,定位槽,鈑金,簡化生產工序,短路測試,自動固定,推入,電路,周轉
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光模塊
