著錄信息
- 專利名稱:鈦白粉遮蓋力的測定方法
- 專利類型:發明
- 申請號:CN201110354783.X
- 公開(公告)號:CN102507505B
- 申請日:20111110
- 公開(公告)日:20140305
- 申請人:攀枝花鼎星鈦業有限公司
- 發明人:杜長山,吳桂蘭,郭靖瑜,梁秀梅,劉燕珍
- 申請人地址:617009 四川省攀枝花市銀江鎮高梁坪工業園區攀枝花鼎星鈦業有限公司
- 申請人區域代碼:CN510402
- 專利權人:攀枝花鼎星鈦業有限公司
- 洛迦諾分類:無
- IPC:G01N21/55
- 優先權:無
- 專利代理機構:成都虹橋專利事務所(普通合伙) 51124
- 代理人:武森濤
- 審查員:任曉峰
- 國際申請:無
- 國際公開(公告):無
- 進入國家日期:無
- 分案申請:無
關鍵詞
鈦白粉,反射率,白板,涂膜,黑板,結果精確度,分析過程,攪拌混勻,清漆,涂刷
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