著錄信息
- 專利名稱：一種孔距比較測量儀
- 專利類型：發明
- 申請號：CN201410067422.0
- 公開(公告)號：CN103822565B
- 申請日：20140226
- 公開(公告)日：20160629
- 申請人：自貢市川力科技股份有限公司
- 發明人：王際祥,彭桂良,鄭裕奎
- 申請人地址：643000 四川省自貢市高新工業園區榮川路9號
- 申請人區域代碼：CN510302
- 專利權人：自貢市川力科技股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01B5/14
- 優先權：無
- 專利代理機構：成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
- 代理人：韓雪;錢成岑
- 審查員：杜智慧
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
定位微調裝置,定位裝置,讀數裝置,公差,固定座,孔距,測量,測量儀器領域,直線運動距離,比較測量儀,標準件,被測工件,比較測量,活動連接,距離可調,連接固定,數據顯示,數值穩定,被測件,通過孔,檢測,種孔,直觀,加工
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