著錄信息
- 專利名稱：自動化測量半導體電阻率及賽貝克系數的測試方法及系統
- 專利類型：發明
- 申請號：CN201510075078.4
- 公開(公告)號：CN104635058B
- 申請日：20150212
- 公開(公告)日：20171222
- 申請人：武漢嘉儀通科技有限公司
- 發明人：繆向水,童浩,王愿兵,吳燕雄,蔡穎銳,劉長江,彭成淡,連小康,喬偉,房山,張雨
- 申請人地址：430075 湖北省武漢市東湖新技術開發區未來科技城起步區A5北4號樓11層
- 申請人區域代碼：CN420111
- 專利權人：武漢嘉儀通科技有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R27/14,G01N25/00
- 優先權：無
- 專利代理機構：湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
- 代理人：許美紅
- 審查員：林婷
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
賽貝克系數,電阻率,物理量數據,待測樣品,溫度點,預設,測試方法及系統,采集,測量半導體,測試溫度點,初始溫度點,測試,間隔發送,曲線確定,溫度測試,真空環境,溫度差,加熱,自動化
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