主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒有表示(shi)CPU沒通過(guo)

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表(biao)示內(nei)存不(bu)過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表(biao)示顯卡不過

某些集成顯卡主板23、24、25表(biao)(biao)示可(ke)以(yi)正常(chang)點(dian)亮，某些(xie)VIA芯片(pian)組(zu)顯示13則(ze)表(biao)(biao)示可(ke)以(yi)點(dian)亮，某些(xie)品(pin)牌機里的(de)(de)主板顯示0B則(ze)表(biao)(biao)示正常(chang)，某些(xie)主板顯示4E表(biao)(biao)示正常(chang)點(dian)亮，某些(xie)INTEL芯片(pian)組(zu)的(de)(de)主板顯示26或16則(ze)表(biao)(biao)示可(ke)以(yi)正常(chang)點(dian)亮。C1、C6、C3、01、02這個組(zu)合循環(huan)跳(tiao)變大(da)部(bu)分是I/0壞(huai)或刷(shua)BIOS。

如顯示(shi)05、ED、41則直接刷(shua)BIOS 00 。已顯示(shi)系(xi)統(tong)的(de)配置；即將控制INI19引(yin)導裝入。

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1、處理(li)器(qi)(qi)測(ce)試(shi)1，處理(li)器(qi)(qi)狀態核實，如(ru)果測(ce)試(shi)失敗，循環是無限的。 處理(li)器(qi)(qi)寄存器(qi)(qi)的測(ce)試(shi)即將開始，不可屏蔽中斷即將停(ting)用。 CPU寄存器(qi)(qi)測(ce)試(shi)正(zheng)在進行(xing)或者(zhe)失敗。

2、確定診斷的(de)類型（正(zheng)常或者(zhe)制造）。如(ru)果鍵盤(pan)緩沖器含有(you)數據就會(hui)失效。 停(ting)用不可屏蔽中(zhong)斷；通過延(yan)遲開始(shi)。 CMOS寫入／讀出正(zheng)在進(jin)行(xing)或者(zhe)失靈。

3、清除(chu)8042鍵盤控制(zhi)器，發出(chu)TESTKBRD命令（AAH） 通電延遲(chi)已完(wan)成。 ROM BIOS檢查部件正在進行或失靈。

4、使8042鍵(jian)盤(pan)控(kong)制器(qi)復(fu)位(wei)(wei)，核實TESTKBRD。 鍵(jian)盤(pan)控(kong)制器(qi)軟復(fu)位(wei)(wei)／通電測試。 可編程(cheng)間(jian)隔計時(shi)器(qi)的測試正(zheng)在(zai)進(jin)行(xing)或失靈。

5、如果不斷重復(fu)制造測試1至5，可獲得8042控制狀(zhuang)態。 已(yi)確定軟復(fu)位／通電；即將啟動ROM。 DMA初如準備(bei)正在進行或者失靈。

6、使電(dian)路(lu)片作初(chu)(chu)始準備(bei)，停用視(shi)頻、奇偶性、DMA電(dian)路(lu)片，以及清除DMA電(dian)路(lu)片，所有頁(ye)(ye)面寄存器(qi)和CMOS停機字節。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤(pan)緩沖器(qi)是否(fou)清除。 DMA初(chu)(chu)始頁(ye)(ye)面寄存器(qi)讀／寫(xie)測(ce)試正在進(jin)行(xing)或失靈。

7、處理器(qi)測試2，核實CPU寄(ji)存器(qi)的(de)工(gong)作(zuo)。 ROM BIOS檢查總和(he)正(zheng)常，鍵盤(pan)緩沖器(qi)已清除，向鍵盤(pan)發出BAT（基本保證測試）命令。

8、使CMOS計(ji)時(shi)器作初始(shi)準(zhun)備，正常(chang)的更(geng)新(xin)計(ji)時(shi)器的循環。 已(yi)向鍵盤發出BAT命令(ling)，即將寫入BAT命令(ling)。 RAM更(geng)新(xin)檢驗正在進行或失靈(ling)。

9、EPROM檢查總和且必須等于零(ling)才通過。 核(he)實鍵盤(pan)的基本保證測試，接著核(he)實鍵盤(pan)命令字節。 第一個64K RAM測試正(zheng)在進行。

0A 使視頻(pin)接(jie)口作初始準備。 發出鍵(jian)盤命令字(zi)節代(dai)碼，即將寫入命令字(zi)節數據(ju)。 第一(yi)個64K RAM芯片或數據(ju)線失靈(ling)，移位。

0B 測(ce)試(shi)8254通道0。 寫入鍵盤控制器命(ming)(ming)令字節，即將發(fa)出引腳23和24的(de)封鎖／解鎖命(ming)(ming)令。 第一個64K RAM奇／偶邏輯失靈(ling)。

0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器(qi)引腳(jiao)23、24已封(feng)鎖／解鎖；已發出(chu)NOP命令(ling)。 第(di)一(yi)個(ge)64K RAN的地址(zhi)線故障。

0D：

1）檢查CPU速度是(shi)否與(yu)系統時鐘相匹配(pei)。

2）檢(jian)查控制芯片已編(bian)程值是否符合初設(she)置。

3）視頻通道(dao)測試，如(ru)果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命(ming)令；接著測試CMOS停開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶性(xing)失靈。

0E 測(ce)試CMOS停機字節。 CMOS停開寄存器讀／寫(xie)測(ce)試；將計算(suan)CMOS檢查總和。 初始化輸(shu)入(ru)／輸(shu)出端口地址。

0F 測試擴展(zhan)的CMOS。 已計算CMOS檢查總和寫入診(zhen)斷字節(jie)；CMOS開始初始準備(bei)。

10、測試DMA通道0。 CMOS已作初始(shi)準備，CMOS狀態(tai)寄存器(qi)即將為日(ri)期和時間作初始(shi)準備。 第一個(ge)64K RAM第0位(wei)故障。

11、測試DMA通道1。 CMOS狀態寄存器已作初始(shi)準(zhun)備，即將(jiang)停用(yong)DMA和中斷控制器。 第一個(ge)64DK RAM第1位故(gu)障(zhang)。

12、測試(shi)DMA頁面寄存(cun)器(qi)。 停用(yong)DMA控制器(qi)1以(yi)及中斷控制器(qi)1和2；即將視(shi)頻顯(xian)示器(qi)并使端口B作初始準備(bei)。 第(di)一個64DK RAM第(di)2位故(gu)障。

13、測試8741鍵盤控(kong)制器接口。 視頻顯(xian)示器已停用，端口B已作初始準備(bei)；即將開始電路片(pian)初始化／存儲器自動檢測。 第一個64DK RAM第3位故(gu)障。

14、測(ce)試存儲器更(geng)新(xin)觸(chu)發電路(lu)。 電路(lu)片初始(shi)化(hua)／存儲器處自動(dong)檢測(ce)結束(shu)；8254計時器測(ce)試即將開始(shi)。 第一個64DK RAM第4位故障。

15、測(ce)(ce)試開(kai)頭64K的系統存儲器(qi)。 第2通道(dao)計時器(qi)測(ce)(ce)試了一(yi)半；8254第2通道(dao)計時器(qi)即(ji)將(jiang)完成(cheng)測(ce)(ce)試。 第一(yi)個(ge)64DK RAM第5位故障。

16、建立8259所用的中(zhong)斷矢(shi)量表。 第2通道(dao)計(ji)(ji)時器測試(shi)結束；8254第1通道(dao)計(ji)(ji)時器即將完成測試(shi)。 第一個64DK RAM第6位故障。

17、調準視頻輸入(ru)／輸出工作，若(ruo)裝(zhuang)有視頻BIOS則啟用。 第(di)1通道計時器測試(shi)結(jie)束；8254第(di)0通道計時器即將完成(cheng)測試(shi)。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)7位故(gu)障。

18、測(ce)試視頻(pin)存儲器(qi)，如果(guo)安裝選(xuan)用的(de)視頻(pin)BIOS通過(guo)，由可繞(rao)過(guo)。 第(di)(di)0通道計(ji)時器(qi)測(ce)試結束(shu)；即將開始更新(xin)存儲器(qi)。 第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)8位故障。

19、測試第(di)1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 已開始(shi)更新存(cun)儲器，接著將(jiang)完成存(cun)儲器的更新。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)9位故障(zhang)。

1A 測試第2通道的中斷(duan)控制(zhi)器（8259）屏(ping)蔽位(wei)。 正在觸發存儲(chu)器更新線路，即將檢查15微秒(miao)通／斷(duan)時間。 第一(yi)個64DK RAM第10位(wei)故障。

1B 測(ce)試(shi)CMOS電池電平。 完成存儲(chu)器(qi)更新時間30微秒(miao)測(ce)試(shi)；即將開始(shi)基(ji)本(ben)的64K存儲(chu)器(qi)測(ce)試(shi)。 第(di)一個64DK RAM第(di)11位故(gu)障。

1C 測試CMOS檢(jian)查總和(he)。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)12位故障。

1D 調(diao)定CMOS配置 。 第(di)(di)一(yi)個64DK RAM第(di)(di)13位故障。

1E 測定系(xi)統(tong)存儲器的大小(xiao)，并且把它和CMOS值比較。第一個(ge)64DK RAM第14位故障(zhang)。

1F 測(ce)試64K存儲器至最高640K。第(di)一個64DK RAM第(di)15位故(gu)障。

20、測(ce)量固定的(de)8259中斷位。 開始(shi)基本的(de)64K存儲器測(ce)試；即(ji)將測(ce)試地(di)址(zhi)線。 從屬DMA寄存器測(ce)試正在進(jin)行或失靈(ling)。

21、維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性(xing)或輸(shu)入／輸(shu)出通道的檢查）。 通過地址(zhi)線(xian)測試(shi)；即將觸發(fa)奇偶性(xing)。 主DMA寄存器測試(shi)正在(zai)進行或失靈。

22、測試8259的中(zhong)斷(duan)功能。 結束(shu)觸發奇偶性；將開始串(chuan)行數據(ju)讀／寫測試。 主中(zhong)斷(duan)屏蔽寄存器測試正在進行或失靈。

23、測(ce)試(shi)保護方式8086虛擬方式和(he)8086頁面方式。 基本的64K串行數據(ju)讀／寫(xie)測(ce)試(shi)正(zheng)常(chang)；即將開始中斷矢(shi)量初始化(hua)之前(qian)的任何調節。 從屬中斷屏蔽存器(qi)測(ce)試(shi)正(zheng)在進(jin)行或失靈(ling)。

24、測定1MB以上的(de)擴展存(cun)儲器(qi)。 矢量初始化之前的(de)任何調節完成(cheng)，即將開始中斷矢量的(de)初始準(zhun)備(bei)。 設置ES段地址寄(ji)存(cun)器(qi)注冊(ce)表到內(nei)存(cun)高端。

25、測試除(chu)頭一個64K之后的所有存(cun)儲器(qi)。 完成中斷(duan)矢量初始(shi)準備；將為(wei)旋(xuan)轉式斷(duan)續開始(shi)讀出(chu)8042的輸入／輸出(chu)端口。 裝(zhuang)入中斷(duan)矢量正在進行或失靈(ling)。

26、測試(shi)保(bao)護(hu)方式的(de)例外情況。 讀(du)出8042的(de)輸(shu)入(ru)／輸(shu)出端口；即(ji)將(jiang)為旋(xuan)轉式斷續(xu)開始使(shi)全局數據作(zuo)初始準備。 開啟A20地址(zhi)線；使(shi)之參入(ru)尋址(zhi)。

27、確定超高(gao)速緩沖(chong)存儲器(qi)的控制或屏(ping)蔽RAM。 全1數據(ju)初始(shi)準備結(jie)束(shu)；接著將進(jin)行中斷矢量之后的任何初始(shi)準備。 鍵盤控制器(qi)測試(shi)正在進(jin)行或失靈。

28、確定(ding)超高速緩沖存(cun)儲(chu)器的控制或(huo)者(zhe)特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷(duan)矢(shi)量(liang)之后的初始(shi)準備；即(ji)將調定(ding)單色方式。 CMOS電源故(gu)障(zhang)／檢查總和計算正(zheng)在(zai)進行。

29、已(yi)調(diao)定單色(se)方(fang)(fang)式(shi)(shi)，即將調(diao)定彩色(se)方(fang)(fang)式(shi)(shi)。 CMOS配置(zhi)有(you)效性的檢(jian)查正(zheng)在進行。

2A 使鍵盤控(kong)制器作初始準備(bei)。 已調定彩色方式，即將進行ROM測試前(qian)的觸發(fa)奇(qi)偶性。 置空64K基本內存。

2B 使磁碟(die)驅動器(qi)和(he)控(kong)制器(qi)作初始準備。 觸(chu)發奇(qi)偶(ou)性結(jie)束(shu)；即將控(kong)制任選的視頻ROM檢查前所需(xu)的任何調節(jie)。 屏幕存儲器(qi)測試正在進行或(huo)失靈。

2C 檢查(cha)串(chuan)行(xing)端(duan)口，并(bing)使之(zhi)(zhi)作(zuo)初(chu)(chu)始(shi)準備。 完成視頻ROM控制之(zhi)(zhi)前的(de)處理；即(ji)將查(cha)看任選的(de)視頻ROM并(bing)加以控制。 屏幕初(chu)(chu)始(shi)準備正在進行(xing)或(huo)失靈(ling)。

2D 檢測(ce)(ce)并行端口，并使之(zhi)作初(chu)始準備(bei)。 已完成任(ren)(ren)選的(de)視頻ROM控制(zhi)，即將進(jin)行視頻ROM回復控制(zhi)之(zhi)后任(ren)(ren)何其他處理的(de)控制(zhi)。 屏幕回掃(sao)測(ce)(ce)試正(zheng)在進(jin)行或(huo)失靈。

2E 使硬磁盤驅(qu)動(dong)器(qi)和控制器(qi)作初始準備。 從(cong)視(shi)頻ROM控制之后的處理復原；如果沒有(you)發現EGA／VGA就要進(jin)行(xing)(xing)顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試(shi)。 檢測視(shi)頻ROM正在進(jin)行(xing)(xing)。

2F 檢測(ce)數(shu)學協處理器(qi)，并使之作初始(shi)準備(bei)。 沒發(fa)現EGA／VGA；即將開始(shi)顯示器(qi)存(cun)儲器(qi)讀／寫測(ce)試。

30、建立基本內(nei)存(cun)(cun)和(he)擴展內(nei)存(cun)(cun)。 通過顯示器存(cun)(cun)儲(chu)器讀／寫測(ce)試；即將進行掃描檢查(cha)。 認(ren)為屏幕是可(ke)以(yi)工作的。

31、檢(jian)測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。 顯示器存儲器讀／寫(xie)測試或掃描(miao)檢(jian)查失(shi)敗，即將(jiang)進(jin)行另一(yi)種顯示器存儲器讀／寫(xie)測試。 單(dan)色監視器是可以工(gong)作的。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音(yin)設(she)備(bei)等I／O芯片編程使之(zhi)適(shi)合設(she)置值(zhi)。 通過(guo)另一(yi)種(zhong)顯(xian)示器(qi)(qi)存儲器(qi)(qi)讀／寫(xie)測(ce)試(shi)；卻(que)將(jiang)進行另一(yi)種(zhong)顯(xian)示器(qi)(qi)掃描檢查(cha)。 彩色(se)監視器(qi)(qi)（40列）是可以工(gong)作(zuo)的。

33、視頻顯示(shi)(shi)器檢查結束；將(jiang)開始利用調節開關和實際插卡檢驗顯示(shi)(shi)器的關型。 彩色監視器（80列）是可以(yi)工作(zuo)的。

34、已檢驗顯示(shi)器(qi)適配器(qi)；接著將調定顯示(shi)方式。 計時器(qi)滴答聲中(zhong)斷測試正在進行或失靈(ling)。

35、完成調定(ding)顯(xian)示方(fang)式；即將檢查BIOS ROM的(de)數(shu)據區。 停機測(ce)試正(zheng)在進行或失靈(ling)。

36、已檢查BIOS ROM數(shu)據區；即將調定通電(dian)信(xin)息的游(you)標。 門電(dian)路中A－20失(shi)靈。

37、識(shi)別通(tong)電(dian)信(xin)息(xi)的游(you)標調定已完成；即將顯示通(tong)電(dian)信(xin)息(xi)。 保護(hu)方式中的意外(wai)中斷。

38、完成顯示(shi)通電(dian)信息；即將讀出新的游(you)標位置(zhi)。 RAM測試正在進行或者(zhe)地(di)址故障＞FFFFH。

39、已讀出保存游標位置，即將顯示引用信息串。

3A 引用信(xin)息串顯示(shi)結束；即將顯示(shi)發(fa)現《ESC》信(xin)息。 間隔計時器通道2測試或失靈。

3B 用OPTI電路片（只(zhi)是486）使輔(fu)助(zhu)超高速緩沖存儲(chu)器(qi)作初始準(zhun)備。 已顯示發現＜ESC＞信息；虛(xu)擬(ni)方式(shi)，存儲(chu)器(qi)測(ce)(ce)試即(ji)將開始。 按日(ri)計算(suan)的日(ri)歷時鐘測(ce)(ce)試正在進行(xing)或失靈。

3C 建立允許進入CMOS設置的標志。 。 串行(xing)端口測試正在進行(xing)或失靈。

3D 初始化鍵盤／PS2鼠標／PNP設備及總內存(cun)節點。并(bing)行端口測試正在進行或失靈。3E 嘗試打開L2高速緩存(cun)。數學協處理(li)器測試正在進行或失靈。

40、已開始準備虛擬方式的測試；即將(jiang)從視頻存儲器來檢(jian)驗。 調整CPU速度，使之與外圍時鐘精(jing)確(que)匹配。

41、中斷已打開，將(jiang)初始化數據以便于0：0檢(jian)測(ce)內存變換（中斷控制(zhi)器(qi)(qi)或(huo)內存不(bu)良） 從視頻存儲器(qi)(qi)檢(jian)驗之后復原；即將(jiang)準備描述(shu)符表。 系(xi)統插件板選(xuan)擇(ze)失(shi)靈。

42、顯示窗口進入SETUP。 描述符表已準備好；即將(jiang)進行虛(xu)擬方式作存儲器測試。 擴展(zhan)CMOS RAM故障。

43、若是即(ji)(ji)插即(ji)(ji)用BIOS，則串口、并口初始化。 進入虛擬方式(shi)；即(ji)(ji)將為診斷(duan)(duan)方式(shi)實現中斷(duan)(duan)。

44、已實(shi)現中(zhong)斷（如已接通診(zhen)斷開關；即將使數(shu)據(ju)作初始(shi)準備以檢查存儲器在0：0返轉。） BIOS中(zhong)斷進(jin)行初始(shi)化。

45、初(chu)始化(hua)數(shu)(shu)學協處理(li)器。 數(shu)(shu)據已作初(chu)始準備(bei)；即將檢查存(cun)儲(chu)器在0：0返轉以及找出系統存(cun)儲(chu)器的規模。

46、測(ce)試存(cun)(cun)儲(chu)(chu)器已返回；存(cun)(cun)儲(chu)(chu)器大(da)小計算完畢，即將寫入(ru)頁面(mian)來測(ce)試存(cun)(cun)儲(chu)(chu)器。 檢查只讀存(cun)(cun)儲(chu)(chu)器ROM版(ban)本(ben)。

47、即將在擴展(zhan)的存儲器(qi)試(shi)寫(xie)頁(ye)面；即將基本(ben)640K存儲器(qi)寫(xie)入頁(ye)面。

48、已將基本存(cun)儲(chu)器寫入頁面；即將確定(ding)1MB以(yi)上(shang)的存(cun)儲(chu)器。 視頻檢查，CMOS重新(xin)配置(zhi)。

49、找出1BM以(yi)下的存(cun)儲器并檢驗；即將確定1MB以(yi)上的存(cun)儲器。 。

4A 找出1MB以(yi)上的存儲(chu)器(qi)并檢驗(yan)；即將檢查(cha)BIOS ROM數據區。進(jin)行視頻的初始化。

4B BIOS ROM數據區的(de)檢(jian)(jian)驗(yan)結束，即將檢(jian)(jian)查＜ESC＞和為軟復位清(qing)除1MB以(yi)上的(de)存儲器。

4C 清除1MB以上(shang)的(de)存儲(chu)器（軟復位）即將清除1MB以上(shang)的(de)存儲(chu)器。 屏蔽視頻BIOS ROM。

4D 已清除1MB以上的存儲(chu)器（軟復位）；將(jiang)保存存儲(chu)器的大小。

4E 若檢測到有錯(cuo)誤(wu)；在顯(xian)示(shi)器上(shang)顯(xian)示(shi)錯(cuo)誤(wu)信(xin)息，并(bing)等(deng)待(dai)客戶按＜F1＞鍵繼續。 開始存(cun)(cun)儲(chu)器的(de)測試(shi)：（無軟復位(wei)）；即將顯(xian)示(shi)第一個64K存(cun)(cun)儲(chu)器的(de)測試(shi)。 顯(xian)示(shi)版權信(xin)息。

4F 讀寫軟、硬盤(pan)數據，進行(xing)DOS引(yin)導(dao)。 開始顯(xian)示存儲(chu)器(qi)的(de)大小，正在測試(shi)(shi)存儲(chu)器(qi)將使之更(geng)新(xin)；將進行(xing)串行(xing)和隨機的(de)存儲(chu)器(qi)測試(shi)(shi)。

50、將(jiang)當前BIOS監時區內的CMOS值(zhi)存到CMOS中(zhong)。 完成(cheng)1MB以下的存儲(chu)器測試；即將(jiang)高速存儲(chu)器的大小以便再定位和掩蔽。 將(jiang)CPU類(lei)型和速度(du)送(song)到屏幕。

51、測(ce)試1MB以上的存儲(chu)器。

52、所有ISA只讀(du)存儲(chu)(chu)器ROM進行初始(shi)化(hua)，最終給PCI分(fen)配(pei)IRQ號等初始(shi)化(hua)工作。 已完成1MB以(yi)上的存儲(chu)(chu)器測(ce)試；即(ji)將準備回到實址(zhi)方式。 進入鍵盤(pan)檢測(ce)。

53、如果(guo)不是即插即用BIOS，則初始(shi)化串口(kou)、并口(kou)和設置時種值。 保(bao)存(cun)CPU寄存(cun)器(qi)和存(cun)儲器(qi)的大小，將(jiang)進(jin)入實址方式。

54、成(cheng)功地開(kai)啟實(shi)址方(fang)式；即將(jiang)復原準備停(ting)機時保存的寄存器。 掃描“打(da)擊鍵”。

55、寄存器已(yi)復(fu)原，將停用門電路A－20的地址線。

56、成功地停用(yong)A－20的地址線；即將檢查BIOS ROM數據區(qu)。 鍵盤測(ce)試結束。

57、BIOS ROM數據區檢查了一半；繼續進行。

58、BIOS ROM的(de)數據區(qu)檢(jian)查(cha)結(jie)束；將清除發現(xian)＜ESC＞信息。 非設置中斷測試。

59、已清除＜ESC＞信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控(kong)制器(qi)的(de)測(ce)試。

5A 顯示按“F2”鍵進行設置。

5B 測(ce)試基本(ben)內(nei)存地址。

5C 測試640K基本內存(cun)。

60、設置硬盤引導扇(shan)區病毒保護功能。 通過DMA頁面寄(ji)存器(qi)(qi)的測試(shi)；即(ji)將檢(jian)驗視(shi)頻存儲器(qi)(qi)。 測試(shi)擴展內存。

61、顯(xian)示系統配置表。 視頻存儲器(qi)(qi)檢驗結束；即將進行DMA＃1基(ji)本寄存器(qi)(qi)的測(ce)試。

62、開始用中斷19H進行系統引(yin)導(dao)。 通過DMA＃1基本寄存器的測(ce)試；即將進行DMA＃2寄存器的測(ce)試。 測(ce)試擴展內存地址線。

63、通過DMA＃2基本寄存器的測(ce)試；即(ji)將檢查BIOS ROM數(shu)據區。

64、BIOS ROM數據區檢(jian)查(cha)了一半，繼(ji)續進行。

65、BIOS ROM數據(ju)區檢查結束；將把(ba)DMA裝置1和(he)2編程。

66、DMA裝置(zhi)(zhi)1和2編程結束；即將使用59號中斷控制器(qi)作初始準備。 Cache注冊表進行優化(hua)配置(zhi)(zhi)。

67、8259初始準備已結束；即將開始鍵盤測(ce)試。

68、使外部Cache和CPU內(nei)部Cache都工作(zuo)。

6A 測試并顯示外(wai)部(bu)Cache值。

6C 顯示被(bei)屏蔽內容。

6E 顯示附(fu)屬配置(zhi)信息。

69、檢測到(dao)的錯誤代碼送到(dao)屏幕顯示。

70、檢測配置有否(fou)錯誤。

71、測試實時時鐘。

72、掃查鍵盤(pan)錯(cuo)誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設(she)置硬件(jian)中斷(duan)矢量。

7E 測試有否安裝數學處理器(qi)。