評價內存條的性(xing)能(neng)指標一共有四個：

(1) 存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)容(rong)量：即一(yi)(yi)根(gen)內存(cun)(cun)(cun)條可(ke)(ke)以(yi)容(rong)納的(de)(de)(de)(de)(de)二進制信息量，如常用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)168線內存(cun)(cun)(cun)條的(de)(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)容(rong)量一(yi)(yi)般多為(wei)32兆(zhao)、64兆(zhao)和(he)128兆(zhao)。而DDRII3普(pu)遍為(wei)1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)取速度（存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周期(qi)）：即兩次獨立的(de)(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)取操(cao)作之間所需的(de)(de)(de)(de)(de)最短(duan)時(shi)間，又稱為(wei)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周期(qi)，半導體(ti)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)取周期(qi)一(yi)(yi)般為(wei)60納秒(miao)至100納秒(miao)。 (3) 存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)(xing)：存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)(xing)用(yong)平均(jun)故障(zhang)間隔(ge)時(shi)間來衡量，可(ke)(ke)以(yi)理解為(wei)兩次故障(zhang)之間的(de)(de)(de)(de)(de)平均(jun)時(shi)間間隔(ge)。 (4)性(xing)(xing)能價格(ge)比(bi)(bi)：性(xing)(xing)能主要包(bao)括存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)容(rong)量、存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周期(qi)和(he)可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)(xing)三項內容(rong)，性(xing)(xing)能價格(ge)比(bi)(bi)是一(yi)(yi)個(ge)綜合(he)性(xing)(xing)指標，對于(yu)不同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)有不同(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)要求(qiu)。