測(ce)厚(hou)(hou)儀可以(yi)用來(lai)在(zai)線測(ce)量(liang)軋(ya)(ya)制(zhi)(zhi)后的板帶(dai)材厚(hou)(hou)度，并以(yi)電(dian)訊號(hao)(hao)的形式(shi)輸出(chu)。該(gai)電(dian)訊號(hao)(hao)輸給(gei)顯示器和自動厚(hou)(hou)度控(kong)制(zhi)(zhi)系統，以(yi)實現對板帶(dai)厚(hou)(hou)度的自動厚(hou)(hou)度控(kong)制(zhi)(zhi)（AGC）。 目前常見的測(ce)厚(hou)(hou)儀有(you)γ射線、β射線、x射線及同位素射線等四種，其安(an)放(fang)位置(zhi)均(jun)在(zai)板帶(dai)軋(ya)(ya)機的出(chu)口或入口側。設計、安(an)裝測(ce)厚(hou)(hou)儀時要在(zai)可能的條(tiao)件下(xia)盡量(liang)靠(kao)近工作(zuo)輥，目的是降低板厚(hou)(hou)的滯后調整時間。
用于測定材(cai)(cai)料(liao)本(ben)身厚(hou)度(du)(du)或材(cai)(cai)料(liao)表面(mian)覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層厚(hou)度(du)(du)的(de)儀器。有些構件(jian)在制造(zao)和檢修時(shi)必須測量其(qi)厚(hou)度(du)(du)，以(yi)便了解材(cai)(cai)料(liao)的(de)厚(hou)薄規格，各點均勻(yun)度(du)(du)和材(cai)(cai)料(liao)腐蝕、磨(mo)損(sun)程度(du)(du)；有時(shi)則要測定材(cai)(cai)料(liao)表面(mian)的(de)覆(fu)(fu)蓋(gai)(gai)層厚(hou)度(du)(du)，以(yi)保證產品質(zhi)量和生產安全。根據(ju)測定原理的(de)不同，常用測厚(hou)儀有超聲、磁性、渦(wo)流、同位素等四(si)種。
超(chao)聲波(bo)(bo)測(ce)厚儀超(chao)聲波(bo)(bo)在各種介質(zhi)中(zhong)(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)聲速是(shi)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)，但在同(tong)一(yi)介質(zhi)中(zhong)(zhong)(zhong)聲速是(shi)一(yi)常(chang)數。超(chao)聲波(bo)(bo)在介質(zhi)中(zhong)(zhong)(zhong)傳(chuan)播遇到第(di)二種介質(zhi)時(shi)會被(bei)反(fan)射，測(ce)量超(chao)聲波(bo)(bo)脈沖從發射至接收的(de)(de)(de)間隔時(shi)間，即可將這(zhe)間隔時(shi)間換算成(cheng)厚度(du)。在電力(li)工業中(zhong)(zhong)(zhong)應用最(zui)廣的(de)(de)(de)就是(shi)這(zhe)類測(ce)厚儀。常(chang)用于(yu)測(ce)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等(deng)的(de)(de)(de)厚度(du)，也用于(yu)校核工件結構尺寸(cun)等(deng)。這(zhe)類測(ce)厚儀多是(shi)攜帶式(shi)的(de)(de)(de)，體積與小型半導(dao)體收音(yin)機相近，厚度(du)值(zhi)的(de)(de)(de)顯示(shi)多是(shi)數字(zi)式(shi)的(de)(de)(de)。對于(yu)鋼材，最(zui)大測(ce)定厚度(du)達2000mm左(zuo)右(you)，精度(du)在±0.01～±0.1mm之間。
磁(ci)(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀在測(ce)定(ding)(ding)各種導(dao)磁(ci)(ci)材料(liao)的磁(ci)(ci)阻時，測(ce)定(ding)(ding)值(zhi)會因其表面(mian)非導(dao)磁(ci)(ci)覆蓋層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度的不同(tong)而發生變(bian)化。利用這種變(bian)化即可測(ce)知覆蓋層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度值(zhi)。常用于測(ce)定(ding)(ding)鐵(tie)磁(ci)(ci)金屬表面(mian)上(shang)的噴鋁層(ceng)(ceng)(ceng)、塑料(liao)層(ceng)(ceng)(ceng)、電(dian)鍍層(ceng)(ceng)(ceng)、磷化層(ceng)(ceng)(ceng)、油漆層(ceng)(ceng)(ceng)等的厚(hou)度。
渦(wo)(wo)流測(ce)厚(hou)儀當載有高(gao)頻電流的(de)(de)(de)探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)置于(yu)(yu)被測(ce)金(jin)(jin)屬表(biao)(biao)面(mian)時，由于(yu)(yu)高(gao)頻磁(ci)場(chang)的(de)(de)(de)作用(yong)(yong)而使(shi)金(jin)(jin)屬體內產(chan)生(sheng)渦(wo)(wo)流，此(ci)(ci)渦(wo)(wo)流產(chan)生(sheng)的(de)(de)(de)磁(ci)場(chang)又反作用(yong)(yong)于(yu)(yu)探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)，使(shi)其(qi)阻(zu)抗發生(sheng)變(bian)化(hua)，此(ci)(ci)變(bian)化(hua)量(liang)與探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)離金(jin)(jin)屬表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)距離（即(ji)覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)度）有關，因(yin)而根據探頭(tou)線(xian)(xian)圈(quan)阻(zu)抗的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)可間接測(ce)量(liang)金(jin)(jin)屬表(biao)(biao)面(mian)覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)度。常(chang)用(yong)(yong)于(yu)(yu)測(ce)定鋁材上的(de)(de)(de)氧化(hua)膜或鋁、銅表(biao)(biao)面(mian)上其(qi)他絕緣覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)(de)(de)厚(hou)度。
同(tong)(tong)位素測厚儀利用物質厚度(du)(du)不同(tong)(tong)對輻射的(de)吸收與散射不同(tong)(tong)的(de)原理，可以測定(ding)薄(bo)鋼(gang)板(ban)、薄(bo)銅板(ban)、薄(bo)鋁板(ban)、硅鋼(gang)片(pian)、合金(jin)片(pian)等金(jin)屬材料及橡膠片(pian)，塑料膜，紙張等的(de)厚度(du)(du)。常用的(de)同(tong)(tong)位素射線(xian)有(you)γ射線(xian)、β射線(xian)等。
測(ce)厚儀的測(ce)試方法(fa)主(zhu)要有：磁性(xing)測(ce)厚法(fa)，放射測(ce)厚法(fa)，電解測(ce)厚法(fa)，渦(wo)流測(ce)厚法(fa)，超聲波(bo)測(ce)厚法(fa)。
測量注意事項：
⒈在(zai)進(jin)行(xing)測試(shi)的時(shi)候要注意標(biao)準片集(ji)體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試(shi)件相似。
⒉測(ce)量時側(ce)頭與試樣表面(mian)保持垂直(zhi)。
⒊測(ce)量時要(yao)注(zhu)意基體(ti)金屬(shu)的臨界厚(hou)度，如果大于這(zhe)個厚(hou)度測(ce)量就不(bu)受基體(ti)金屬(shu)厚(hou)度的影響(xiang)。
⒋測量時(shi)(shi)要注意試件的(de)(de)曲率對測量的(de)(de)影響。因此在彎曲的(de)(de)試件表(biao)面上(shang)測量時(shi)(shi)不可(ke)靠(kao)的(de)(de)。
⒌測(ce)(ce)量前要注意(yi)周(zhou)圍(wei)其他(ta)的電器設備會(hui)不會(hui)產生磁(ci)場，如果(guo)會(hui)將會(hui)干擾磁(ci)性測(ce)(ce)厚法。
⒍測量(liang)(liang)時(shi)要注意不要在內轉(zhuan)角處和靠近試件(jian)邊緣處測量(liang)(liang)，因(yin)為一般的(de)測厚儀試件(jian)表面形狀的(de)忽然變化很敏感(gan)。
⒎在測量(liang)時要保持壓力的恒定，否則會影(ying)響測量(liang)的讀數。
⒏在(zai)進(jin)行(xing)測試(shi)的時候(hou)要注意(yi)儀(yi)(yi)器測頭(tou)和被測試(shi)件(jian)的要直接接觸，因此超聲波測厚儀(yi)(yi)在(zai)進(jin)行(xing)對(dui)側(ce)頭(tou)清除附著(zhu)物質。
1、激光測(ce)厚儀(yi)是利用激光的反(fan)射原理，根據(ju)光切法測(ce)量和觀察機械(xie)制(zhi)造中零件(jian)加工(gong)表(biao)面的微(wei)觀幾何形狀來(lai)測(ce)量產品的厚度，是一種非接(jie)(jie)觸(chu)式(shi)的動態測(ce)量儀(yi)器。它可直接(jie)(jie)輸(shu)出數(shu)(shu)字(zi)信號與工(gong)業計算機相連接(jie)(jie)，并迅速處理數(shu)(shu)據(ju)并輸(shu)出偏差值到(dao)各種工(gong)業設備。
2、X射線測(ce)厚儀(yi)利用(yong)X射線穿透被測(ce)材料時，X射線的強(qiang)度的變化與材料的厚度相(xiang)關的特性(xing)，滄州歐譜從(cong)而(er)測(ce)定材料的厚度，是一種非接觸式(shi)的動態計(ji)量儀(yi)器。它(ta)以(yi)PLC和工業(ye)計(ji)算(suan)機為(wei)核心，采集(ji)計(ji)算(suan)數(shu)據(ju)并輸出目(mu)標偏(pian)差值(zhi)給(gei)軋機厚度控(kong)制(zhi)系統，達(da)到要求的軋制(zhi)厚度。主要應(ying)用(yong)行(xing)業(ye)：有(you)色金(jin)屬的板帶箔(bo)加工、冶金(jin)行(xing)業(ye)的板帶加工。
3、紙(zhi)張測厚儀(yi)：適用于(yu)4mm以(yi)(yi)下的各(ge)種薄膜、紙(zhi)張、紙(zhi)板以(yi)(yi)及其他片(pian)狀材(cai)料厚度的測量。
4、薄(bo)膜測(ce)厚(hou)(hou)儀：用于測(ce)定薄(bo)膜、薄(bo)片等材料的(de)厚(hou)(hou)度(du)，測(ce)量(liang)范(fan)圍寬、測(ce)量(liang)精(jing)度(du)高，具有數據輸出、任意位(wei)置(zhi)(zhi)置(zhi)(zhi)零、公英制轉換(huan)、自動斷電等特點。
5、涂(tu)層(ceng)測厚(hou)儀：用(yong)于測量鐵及非鐵金屬(shu)基體上涂(tu)層(ceng)的厚(hou)度(du)。
6、超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)測厚(hou)儀(yi)：超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)測厚(hou)儀(yi)是根據超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)脈(mo)沖反射原理來(lai)(lai)進行厚(hou)度測量的(de)(de)，當探頭發射的(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)脈(mo)沖通(tong)過被(bei)測物體(ti)到達材(cai)料(liao)分界面(mian)時，脈(mo)沖被(bei)反射回探頭，通(tong)過精(jing)確(que)測量超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)在(zai)材(cai)料(liao)中傳(chuan)播的(de)(de)時間來(lai)(lai)確(que)定(ding)被(bei)測材(cai)料(liao)的(de)(de)厚(hou)度。凡能(neng)使超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)以一恒定(ding)速度在(zai)其(qi)內(nei)部傳(chuan)播的(de)(de)各(ge)種材(cai)料(liao)均(jun)可采(cai)用此(ci)原理測量。
