著錄信息
- 專利名稱:微橋結構紅外探測器以及制造方法
- 專利類型:發明
- 申請號:CN200910153649.6
- 公開(公告)號:CN101927976B
- 申請日:20090930
- 公開(公告)日:20130925
- 申請人:浙江大立科技股份有限公司,上海集成電路研發中心有限公司
- 發明人:池積光,錢良山,康曉旭,姜利軍
- 申請人地址:310053 浙江省杭州市濱康路639號
- 申請人區域代碼:CN330108
- 專利權人:浙江大立科技股份有限公司,上海集成電路研發中心有限公司
- 洛迦諾分類:無
- IPC:B81B7/02,B81C1/00,G01J5/10
- 優先權:無
- 專利代理機構:浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100
- 代理人:徐關壽
- 審查員:嚴愷
- 國際申請:無
- 國際公開(公告):無
- 進入國家日期:無
- 分案申請:無
關鍵詞
沉積,金屬反射層,保護層,介質層,犧牲層,紅外探測器,金屬電極,微橋結構,硅襯底,通孔,橋墩,大馬士革工藝,化學機械拋光,微機電技術,讀出電路,光刻刻蝕,敏感材料,微橋,探測,平坦
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