評價內存條的性能指標(biao)一(yi)共有(you)四個：
(1) 存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)容量(liang)：即一(yi)(yi)根(gen)內存(cun)(cun)(cun)(cun)條可(ke)以容納的(de)(de)(de)二進制信息量(liang)，如常(chang)用的(de)(de)(de)168線(xian)內存(cun)(cun)(cun)(cun)條的(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)容量(liang)一(yi)(yi)般多為(wei)32兆、64兆和128兆。而(er)DDRII3普遍為(wei)1GB到(dao)8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)速度（存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)期(qi)）：即兩次獨(du)立的(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)操作之(zhi)間(jian)所需的(de)(de)(de)最(zui)短時間(jian)，又稱(cheng)為(wei)存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)期(qi)，半導體存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)周(zhou)期(qi)一(yi)(yi)般為(wei)60納秒(miao)至100納秒(miao)。 (3) 存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)(xing)：存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)可(ke)靠性(xing)(xing)用平(ping)均故障間(jian)隔(ge)(ge)時間(jian)來衡量(liang)，可(ke)以理解為(wei)兩次故障之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)平(ping)均時間(jian)間(jian)隔(ge)(ge)。 (4)性(xing)(xing)能價格比：性(xing)(xing)能主要(yao)包括存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)容量(liang)、存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)期(qi)和可(ke)靠性(xing)(xing)三(san)項內容，性(xing)(xing)能價格比是一(yi)(yi)個(ge)綜合性(xing)(xing)指(zhi)標，對于不同(tong)的(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)有(you)不同(tong)的(de)(de)(de)要(yao)求。
