評(ping)價內存條(tiao)的性能(neng)指標一(yi)共有四個:
(1) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)容(rong)量(liang)(liang):即一(yi)根(gen)內(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條(tiao)可(ke)以(yi)容(rong)納的(de)(de)(de)(de)二進制信息量(liang)(liang),如常(chang)用的(de)(de)(de)(de)168線內(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條(tiao)的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)容(rong)量(liang)(liang)一(yi)般多為(wei)32兆、64兆和128兆。而(er)DDRII3普遍(bian)為(wei)1GB到(dao)8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)速度(存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)周(zhou)(zhou)期(qi)):即兩(liang)次(ci)獨立的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)操作之間(jian)(jian)(jian)所需的(de)(de)(de)(de)最短時間(jian)(jian)(jian),又稱為(wei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)周(zhou)(zhou)期(qi),半導體存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)周(zhou)(zhou)期(qi)一(yi)般為(wei)60納秒至100納秒。 (3) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)(xing):存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)(xing)用平均(jun)故障間(jian)(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)(jian)來衡量(liang)(liang),可(ke)以(yi)理解為(wei)兩(liang)次(ci)故障之間(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)平均(jun)時間(jian)(jian)(jian)間(jian)(jian)(jian)隔。 (4)性(xing)(xing)(xing)能價格(ge)比:性(xing)(xing)(xing)能主要包括存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)器(qi)容(rong)量(liang)(liang)、存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)周(zhou)(zhou)期(qi)和可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)(xing)三項內(nei)容(rong),性(xing)(xing)(xing)能價格(ge)比是一(yi)個綜合性(xing)(xing)(xing)指標,對于不(bu)同的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)器(qi)有(you)不(bu)同的(de)(de)(de)(de)要求。