一、探傷儀是干什么用的
探(tan)傷儀是(shi)(shi)一種探(tan)測機器(qi)缺陷(xian)的的工程器(qi)械，它的主要用(yong)途是(shi)(shi)探(tan)測機器(qi)加(jia)工件內部是(shi)(shi)否有(you)缺陷(xian)，如裂紋、砂眼、氣孔、白點(dian)、夾雜(za)等，檢查(cha)焊縫是(shi)(shi)否合格，查(cha)找(zhao)有(you)無(wu)暗傷，進而判(pan)定工件合格與否。
探傷(shang)儀的應(ying)用(yong)十分廣泛(fan)，目前探傷(shang)儀主要用(yong)在(zai)工業和醫(yi)(yi)療上(shang)，工業上(shang)用(yong)于(yu)檢測金屬材料中(zhong)是(shi)否有傷(shang)痕、氣泡、裂縫等(deng)(deng)，醫(yi)(yi)學上(shang)用(yong)于(yu)檢測人體的軟組織、血流等(deng)(deng)是(shi)否正常。
二、探傷儀的原理是什么
探傷(shang)儀(yi)檢測通常是對被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)（比如工業(ye)材料、人體(ti)）發射(she)超聲，然后(hou)利用(yong)其(qi)反(fan)射(she)、多普(pu)勒(le)(le)效(xiao)應、透射(she)等(deng)來(lai)獲取被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)內部(bu)的信息并(bing)經過處理形成(cheng)圖像。探傷(shang)儀(yi)其(qi)中多普(pu)勒(le)(le)效(xiao)應法(fa)是利用(yong)超聲在(zai)遇(yu)到(dao)運(yun)動的物(wu)(wu)體(ti)時發生的多普(pu)勒(le)(le)頻移效(xiao)應來(lai)得(de)出該物(wu)(wu)體(ti)的運(yun)動方向(xiang)和速(su)度等(deng)特性(xing)；透射(she)法(fa)則(ze)是通過分(fen)析超聲穿(chuan)透過被(bei)測物(wu)(wu)體(ti)之后(hou)的變化而得(de)出物(wu)(wu)體(ti)的內部(bu)特性(xing)的，其(qi)應用(yong)還處于(yu)研制階(jie)段(duan)。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)五(wu)大常(chang)規(gui)方法(fa)是指射線(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)、超聲波探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)、磁(ci)粉探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)、渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)和滲透探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)(yong)射(she)線的(de)穿透(tou)性(xing)和(he)(he)直(zhi)線性(xing)來探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)方(fang)法。這些(xie)(xie)(xie)(xie)射(she)線雖然不會像可(ke)(ke)見(jian)光(guang)那樣憑肉眼就能直(zhi)接(jie)(jie)(jie)察知(zhi)，但它可(ke)(ke)使照相底(di)(di)(di)片(pian)(pian)感(gan)光(guang)，也(ye)可(ke)(ke)用(yong)(yong)特(te)殊的(de)接(jie)(jie)(jie)收器(qi)(qi)來接(jie)(jie)(jie)收。常用(yong)(yong)于探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)射(she)線有(you)x光(guang)和(he)(he)同(tong)位素發(fa)出(chu)的(de)γ射(she)線，分別稱為x光(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)和(he)(he)γ射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。當這些(xie)(xie)(xie)(xie)射(she)線穿過(guo)(guo)（照射(she)）物質(zhi)時，該物質(zhi)的(de)密(mi)度越(yue)大，射(she)線強(qiang)度減弱(ruo)得越(yue)多(duo)，即(ji)射(she)線能穿透(tou)過(guo)(guo)該物質(zhi)的(de)強(qiang)度就越(yue)小(xiao)。此(ci)時，若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)照相底(di)(di)(di)片(pian)(pian)接(jie)(jie)(jie)收，則底(di)(di)(di)片(pian)(pian)的(de)感(gan)光(guang)量就小(xiao)；若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)儀器(qi)(qi)來接(jie)(jie)(jie)收，獲得的(de)信號就弱(ruo)。因此(ci)，用(yong)(yong)射(she)線來照射(she)待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)零部(bu)件時，若(ruo)(ruo)其(qi)內部(bu)有(you)氣(qi)孔、夾渣(zha)等(deng)缺(que)(que)陷(xian)，射(she)線穿過(guo)(guo)有(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)路(lu)徑比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)路(lu)徑所(suo)透(tou)過(guo)(guo)的(de)物質(zhi)密(mi)度要小(xiao)得多(duo)，其(qi)強(qiang)度就減弱(ruo)得少些(xie)(xie)(xie)(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)(guo)的(de)強(qiang)度就大些(xie)(xie)(xie)(xie)，若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)底(di)(di)(di)片(pian)(pian)接(jie)(jie)(jie)收，則感(gan)光(guang)量就大些(xie)(xie)(xie)(xie)，就可(ke)(ke)以(yi)從底(di)(di)(di)片(pian)(pian)上(shang)反映出(chu)缺(que)(que)陷(xian)垂直(zhi)于射(she)線方(fang)向的(de)平(ping)面投影(ying)；若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)其(qi)它接(jie)(jie)(jie)收器(qi)(qi)也(ye)同(tong)樣可(ke)(ke)以(yi)用(yong)(yong)儀表來反映缺(que)(que)陷(xian)垂直(zhi)于射(she)線方(fang)向的(de)平(ping)面投影(ying)和(he)(he)射(she)線的(de)透(tou)過(guo)(guo)量。由此(ci)可(ke)(ke)見(jian)，一般情況下，射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是不易發(fa)現裂紋的(de)，或者說，射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)對(dui)裂紋是不敏感(gan)的(de)。因此(ci)，射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)對(dui)氣(qi)孔、夾渣(zha)、未焊透(tou)等(deng)體積型(xing)(xing)缺(que)(que)陷(xian)最敏感(gan)。即(ji)射(she)線探(tan)(tan)(tan)傷(shang)適宜(yi)用(yong)(yong)于體積型(xing)(xing)缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，而(er)不適宜(yi)面積型(xing)(xing)缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)耳朵能直接接收到(dao)的(de)聲波(bo)的(de)頻(pin)率(lv)范圍通(tong)(tong)常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音（聲）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于(yu)20Hz的(de)稱(cheng)(cheng)為次聲波(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)稱(cheng)(cheng)為超(chao)聲波(bo)。工(gong)業上常(chang)用數兆赫(he)茲超(chao)聲波(bo)來(lai)探(tan)傷(shang)(shang)。超(chao)聲波(bo)頻(pin)率(lv)高，則傳(chuan)播(bo)(bo)的(de)直線性(xing)強，又易于(yu)在固體中傳(chuan)播(bo)(bo)，并且(qie)遇到(dao)兩種不同(tong)介質形(xing)成(cheng)(cheng)的(de)界面(mian)(mian)時易于(yu)反(fan)射(she)(she)，這樣(yang)就(jiu)可(ke)以(yi)用它來(lai)探(tan)傷(shang)(shang)。通(tong)(tong)常(chang)用超(chao)聲波(bo)探(tan)頭(tou)與(yu)待探(tan)工(gong)件表面(mian)(mian)良好的(de)接觸，探(tan)頭(tou)則可(ke)有效地向工(gong)件發射(she)(she)超(chao)聲波(bo)，并能接收（缺陷(xian)(xian)）界面(mian)(mian)反(fan)射(she)(she)來(lai)的(de)超(chao)聲波(bo)，同(tong)時轉(zhuan)換成(cheng)(cheng)電信號，再傳(chuan)輸給儀器進行(xing)處理。根據超(chao)聲波(bo)在介質中傳(chuan)播(bo)(bo)的(de)速度(du)（常(chang)稱(cheng)(cheng)聲速）和(he)傳(chuan)播(bo)(bo)的(de)時間(jian)，就(jiu)可(ke)知(zhi)道缺陷(xian)(xian)的(de)位置。當(dang)缺陷(xian)(xian)越(yue)(yue)大(da)，反(fan)射(she)(she)面(mian)(mian)則越(yue)(yue)大(da)，其(qi)反(fan)射(she)(she)的(de)能量(liang)也(ye)就(jiu)越(yue)(yue)大(da)，故可(ke)根據反(fan)射(she)(she)能量(liang)的(de)大(da)小來(lai)查(cha)知(zhi)各(ge)缺陷(xian)(xian)（當(dang)量(liang)）的(de)大(da)小。常(chang)用的(de)探(tan)傷(shang)(shang)波(bo)形(xing)有縱波(bo)、橫波(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)等，前二者適(shi)用于(yu)探(tan)測(ce)內部缺陷(xian)(xian)，后(hou)者適(shi)宜于(yu)探(tan)測(ce)表面(mian)(mian)缺陷(xian)(xian)，但對表面(mian)(mian)的(de)條件要求高。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是(shi)建立在(zai)(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)原(yuan)理(li)基(ji)礎上的一(yi)種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)方法。當磁(ci)(ci)(ci)力線(xian)穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及其制品(pin)時，在(zai)(zai)其（磁(ci)(ci)(ci)性）不連續處將(jiang)產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)場(chang)，形成(cheng)磁(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時撒上干磁(ci)(ci)(ci)粉或(huo)澆上磁(ci)(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)(ci)極(ji)就會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉，產(chan)生用肉眼能(neng)直(zhi)接(jie)(jie)觀(guan)察的明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可(ke)借(jie)助于(yu)(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及其制品(pin)的缺(que)(que)陷情況(kuang)。磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)法可(ke)探(tan)(tan)(tan)測露(lu)(lu)出表(biao)面(mian)，用肉眼或(huo)借(jie)助于(yu)(yu)(yu)放大鏡也不能(neng)直(zhi)接(jie)(jie)觀(guan)察到(dao)的微小缺(que)(que)陷，也可(ke)探(tan)(tan)(tan)測未(wei)露(lu)(lu)出表(biao)面(mian)，而是(shi)埋(mai)藏在(zai)(zai)表(biao)面(mian)下幾毫米的近(jin)表(biao)面(mian)缺(que)(que)陷。用這種(zhong)方法雖然也能(neng)探(tan)(tan)(tan)查(cha)氣(qi)孔(kong)、夾雜、未(wei)焊透等體積(ji)型缺(que)(que)陷，但對(dui)面(mian)積(ji)型缺(que)(que)陷更(geng)靈敏，更(geng)適于(yu)(yu)(yu)檢查(cha)因淬火(huo)、軋(ya)制、鍛造、鑄造、焊接(jie)(jie)、電(dian)鍍、磨削、疲(pi)勞等引起的裂(lie)紋。
磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)中對缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)顯示(shi)(shi)(shi)方法(fa)有(you)(you)多種(zhong)，有(you)(you)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也(ye)有(you)(you)不(bu)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)，因它(ta)(ta)顯示(shi)(shi)(shi)直(zhi)(zhi)觀(guan)、操(cao)作簡單、人們樂(le)于使用(yong)(yong)(yong)，故它(ta)(ta)是最(zui)常用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)方法(fa)之一(yi)。不(bu)用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習(xi)慣上稱(cheng)為(wei)(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)，它(ta)(ta)常借助于感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍(huo)爾元(yuan)件等來(lai)反映缺(que)(que)陷(xian)，它(ta)(ta)比磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)更衛生，但不(bu)如前者直(zhi)(zhi)觀(guan)。由于磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)主要用(yong)(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯示(shi)(shi)(shi)缺(que)(que)陷(xian)，因此，人們有(you)(you)時把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)直(zhi)(zhi)接稱(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)，其設備稱(cheng)為(wei)(wei)磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)傷(shang)設備。
4、渦流探傷方法
渦流(liu)探傷(shang)(shang)是(shi)由交流(liu)電(dian)流(liu)產(chan)生的(de)(de)交變(bian)磁場作(zuo)用(yong)于待探傷(shang)(shang)的(de)(de)導電(dian)材料(liao)(liao)，感(gan)應出電(dian)渦流(liu)。如(ru)果(guo)材料(liao)(liao)中(zhong)有缺陷(xian)，它將干擾所產(chan)生的(de)(de)電(dian)渦流(liu)，即形成(cheng)干擾信號。用(yong)渦流(liu)探傷(shang)(shang)儀檢測出其干擾信號，就(jiu)可知道缺陷(xian)的(de)(de)狀況。影(ying)響渦流(liu)的(de)(de)因(yin)素(su)很多(duo)(duo)，即是(shi)說渦流(liu)中(zhong)載有豐富的(de)(de)信號，這些(xie)信號與材料(liao)(liao)的(de)(de)很多(duo)(duo)因(yin)素(su)有關，如(ru)何將其中(zhong)有用(yong)的(de)(de)信號從諸多(duo)(duo)的(de)(de)信號中(zhong)一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出來(lai)，是(shi)渦流(liu)研究工作(zuo)者的(de)(de)難題，多(duo)(duo)年(nian)來(lai)已(yi)經取得了一(yi)(yi)些(xie)進展(zhan)，在(zai)一(yi)(yi)定條件下可解決一(yi)(yi)些(xie)問題，但還遠(yuan)不能滿足現場的(de)(de)要求(qiu)，有待于大(da)力發展(zhan)。
渦流(liu)探(tan)傷(shang)的顯著特(te)點(dian)是(shi)對導電材料(liao)就能起作用，而不一定是(shi)鐵磁材料(liao)，但對鐵磁材料(liao)的效果(guo)較差。其次，待(dai)探(tan)工件表(biao)面的光潔度(du)、平整(zheng)度(du)、邊介等(deng)對渦流(liu)探(tan)傷(shang)都有較大影響，因此常將(jiang)渦流(liu)探(tan)傷(shang)用于形狀較規則(ze)、表(biao)面較光潔的銅管等(deng)非鐵磁性工件探(tan)傷(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)毛細(xi)(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)來進行探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)方法。對(dui)于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)光(guang)(guang)滑而(er)清潔(jie)的(de)(de)(de)零(ling)(ling)部(bu)件，用(yong)一種帶(dai)色（常(chang)(chang)為紅(hong)色）或帶(dai)有熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)(xing)很(hen)(hen)強的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，涂(tu)(tu)覆于(yu)待探(tan)零(ling)(ling)部(bu)件的(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)。若表(biao)(biao)面(mian)(mian)有肉眼不能直接察(cha)知的(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)(wen)，由于(yu)該(gai)液(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)(xing)很(hen)(hen)強，它將(jiang)沿著(zhu)(zhu)裂(lie)紋(wen)(wen)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)(dao)其(qi)根部(bu)。然后將(jiang)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)洗去，再涂(tu)(tu)上對(dui)比度(du)較(jiao)大的(de)(de)(de)顯示(shi)液(ye)(ye)（常(chang)(chang)為白色）。放置片刻后，由于(yu)裂(lie)紋(wen)(wen)很(hen)(hen)窄，毛細(xi)(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)作用(yong)顯著(zhu)(zhu)，原滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)(dao)(dao)裂(lie)紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)將(jiang)上升(sheng)到(dao)(dao)(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在(zai)白色的(de)(de)(de)襯底上顯出較(jiao)粗的(de)(de)(de)紅(hong)線，從而(er)顯示(shi)出裂(lie)紋(wen)(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)形狀，因(yin)此，常(chang)(chang)稱為著(zhu)(zhu)色探(tan)傷(shang)(shang)。若滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)是帶(dai)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，由毛細(xi)(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)上升(sheng)到(dao)(dao)(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，則會在(zai)紫外燈照射下(xia)發出熒光(guang)(guang)，從而(er)更能顯示(shi)出裂(lie)紋(wen)(wen)露(lu)于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)形狀，故常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將(jiang)此時(shi)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)直接稱為熒光(guang)(guang)探(tan)傷(shang)(shang)。此探(tan)傷(shang)(shang)方法也可用(yong)于(yu)金(jin)屬(shu)和(he)非金(jin)屬(shu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)傷(shang)(shang)。其(qi)使用(yong)的(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)液(ye)(ye)劑有較(jiao)大氣味，常(chang)(chang)有一定毒性(xing)(xing)。
探傷儀除以上(shang)五大常規方法(fa)外(wai)，近年(nian)來(lai)又(you)有了紅外(wai)、聲發射等一些(xie)新的探傷方法(fa)。
