芒果视频

一、探傷儀是干什么用的

探(tan)傷儀(yi)是(shi)一種(zhong)探(tan)測(ce)(ce)機器缺(que)陷(xian)的(de)的(de)工程(cheng)器械，它(ta)的(de)主要用途是(shi)探(tan)測(ce)(ce)機器加工件(jian)內部是(shi)否(fou)有(you)缺(que)陷(xian)，如裂紋、砂眼、氣孔(kong)、白(bai)點、夾雜等(deng)，檢(jian)查焊縫是(shi)否(fou)合(he)格(ge)，查找(zhao)有(you)無暗(an)傷，進而判定工件(jian)合(he)格(ge)與否(fou)。

探傷儀(yi)的(de)應用(yong)(yong)十分廣泛，目前探傷儀(yi)主要(yao)用(yong)(yong)在(zai)工(gong)業和醫療上(shang)，工(gong)業上(shang)用(yong)(yong)于檢(jian)測金(jin)屬材料中是否有傷痕、氣泡(pao)、裂縫等(deng)(deng)，醫學上(shang)用(yong)(yong)于檢(jian)測人(ren)體的(de)軟組織(zhi)、血流等(deng)(deng)是否正常。

二、探傷儀的原理是什么

探傷儀檢測通(tong)常是對被測物(wu)體(ti)（比如工業材料、人體(ti)）發(fa)射超(chao)聲(sheng)，然后利用(yong)其反射、多(duo)普勒效應(ying)、透(tou)射等來(lai)獲取被測物(wu)體(ti)內部的(de)(de)(de)(de)信息并經(jing)過(guo)(guo)(guo)處理形成圖像(xiang)。探傷儀其中多(duo)普勒效應(ying)法是利用(yong)超(chao)聲(sheng)在遇(yu)到(dao)運動的(de)(de)(de)(de)物(wu)體(ti)時發(fa)生的(de)(de)(de)(de)多(duo)普勒頻移效應(ying)來(lai)得(de)出該(gai)物(wu)體(ti)的(de)(de)(de)(de)運動方向和速度等特性(xing)；透(tou)射法則是通(tong)過(guo)(guo)(guo)分析超(chao)聲(sheng)穿透(tou)過(guo)(guo)(guo)被測物(wu)體(ti)之后的(de)(de)(de)(de)變化而(er)得(de)出物(wu)體(ti)的(de)(de)(de)(de)內部特性(xing)的(de)(de)(de)(de)，其應(ying)用(yong)還(huan)處于研制階段。

三、探傷儀怎么使用

探傷(shang)(shang)儀五(wu)大常規方(fang)法(fa)是指射線探傷(shang)(shang)法(fa)、超(chao)聲波探傷(shang)(shang)法(fa)、磁粉探傷(shang)(shang)法(fa)、渦流探傷(shang)(shang)法(fa)和滲透探傷(shang)(shang)法(fa)。

1、射線探傷方法

射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)穿透(tou)(tou)(tou)性和直線(xian)(xian)(xian)(xian)性來探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)方(fang)法。這些射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像(xiang)可(ke)見光(guang)(guang)(guang)那樣(yang)憑(ping)肉眼就(jiu)能(neng)(neng)直接(jie)(jie)察(cha)知(zhi)，但它可(ke)使照(zhao)相(xiang)底(di)(di)(di)片(pian)感(gan)光(guang)(guang)(guang)，也可(ke)用(yong)特(te)殊(shu)的(de)(de)接(jie)(jie)收器(qi)來接(jie)(jie)收。常(chang)用(yong)于探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)(guang)(guang)和同(tong)位素發出的(de)(de)γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)(guang)(guang)探(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。當這些射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過（照(zhao)射(she)(she)）物(wu)質(zhi)時，該物(wu)質(zhi)的(de)(de)密(mi)度(du)越(yue)大(da)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)減弱(ruo)得(de)越(yue)多(duo)，即射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)(neng)穿透(tou)(tou)(tou)過該物(wu)質(zhi)的(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)越(yue)小(xiao)。此(ci)(ci)時，若(ruo)用(yong)照(zhao)相(xiang)底(di)(di)(di)片(pian)接(jie)(jie)收，則底(di)(di)(di)片(pian)的(de)(de)感(gan)光(guang)(guang)(guang)量(liang)就(jiu)小(xiao)；若(ruo)用(yong)儀(yi)器(qi)來接(jie)(jie)收，獲得(de)的(de)(de)信(xin)號就(jiu)弱(ruo)。因(yin)此(ci)(ci)，用(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來照(zhao)射(she)(she)待探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)零(ling)部件時，若(ruo)其內部有(you)氣孔(kong)、夾渣等缺陷(xian)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過有(you)缺陷(xian)的(de)(de)路(lu)(lu)徑比沒有(you)缺陷(xian)的(de)(de)路(lu)(lu)徑所(suo)透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)物(wu)質(zhi)密(mi)度(du)要小(xiao)得(de)多(duo)，其強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)減弱(ruo)得(de)少些，即透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)大(da)些，若(ruo)用(yong)底(di)(di)(di)片(pian)接(jie)(jie)收，則感(gan)光(guang)(guang)(guang)量(liang)就(jiu)大(da)些，就(jiu)可(ke)以(yi)從底(di)(di)(di)片(pian)上(shang)反映出缺陷(xian)垂(chui)直于射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)平(ping)面(mian)投影；若(ruo)用(yong)其它接(jie)(jie)收器(qi)也同(tong)樣(yang)可(ke)以(yi)用(yong)儀(yi)表來反映缺陷(xian)垂(chui)直于射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)平(ping)面(mian)投影和射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過量(liang)。由此(ci)(ci)可(ke)見，一(yi)般情況(kuang)下(xia)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是不(bu)易發現裂紋的(de)(de)，或者說，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對裂紋是不(bu)敏感(gan)的(de)(de)。因(yin)此(ci)(ci)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對氣孔(kong)、夾渣、未焊透(tou)(tou)(tou)等體積(ji)(ji)型缺陷(xian)最敏感(gan)。即射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用(yong)于體積(ji)(ji)型缺陷(xian)探(tan)傷(shang)(shang)，而不(bu)適(shi)宜(yi)面(mian)積(ji)(ji)型缺陷(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。

2、超聲波探傷方法

人們(men)的(de)耳(er)朵(duo)能直接(jie)(jie)接(jie)(jie)收(shou)到的(de)聲(sheng)波(bo)的(de)頻(pin)率范圍通常是(shi)20Hz到20kHz，即(ji)音（聲(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率低于(yu)20Hz的(de)稱為次聲(sheng)波(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)稱為超(chao)聲(sheng)波(bo)。工業上常用數兆赫(he)茲超(chao)聲(sheng)波(bo)來探(tan)傷。超(chao)聲(sheng)波(bo)頻(pin)率高(gao)，則傳(chuan)(chuan)播的(de)直線性強，又(you)易(yi)(yi)于(yu)在(zai)固體中(zhong)傳(chuan)(chuan)播，并(bing)且遇到兩種不(bu)同介質形(xing)成(cheng)的(de)界面(mian)時易(yi)(yi)于(yu)反(fan)射，這(zhe)樣就可(ke)(ke)(ke)以用它來探(tan)傷。通常用超(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件表(biao)面(mian)良好的(de)接(jie)(jie)觸，探(tan)頭則可(ke)(ke)(ke)有(you)效地向工件發射超(chao)聲(sheng)波(bo)，并(bing)能接(jie)(jie)收(shou)（缺(que)陷(xian)）界面(mian)反(fan)射來的(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)，同時轉換成(cheng)電信號，再傳(chuan)(chuan)輸給儀器進行處理。根據超(chao)聲(sheng)波(bo)在(zai)介質中(zhong)傳(chuan)(chuan)播的(de)速(su)度（常稱聲(sheng)速(su)）和傳(chuan)(chuan)播的(de)時間，就可(ke)(ke)(ke)知道缺(que)陷(xian)的(de)位置。當缺(que)陷(xian)越(yue)大(da)，反(fan)射面(mian)則越(yue)大(da)，其反(fan)射的(de)能量也(ye)就越(yue)大(da)，故可(ke)(ke)(ke)根據反(fan)射能量的(de)大(da)小(xiao)來查知各缺(que)陷(xian)（當量）的(de)大(da)小(xiao)。常用的(de)探(tan)傷波(bo)形(xing)有(you)縱波(bo)、橫波(bo)、表(biao)面(mian)波(bo)等(deng)，前二者適用于(yu)探(tan)測內部缺(que)陷(xian)，后者適宜于(yu)探(tan)測表(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)，但對表(biao)面(mian)的(de)條件要求高(gao)。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷方法(fa)。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其制品時，在其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)性）不連續處將產生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉或澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉，產生用肉眼能直接(jie)(jie)觀(guan)察的(de)明顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)。因此，可借(jie)助于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)來(lai)顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其制品的(de)缺(que)陷(xian)情況(kuang)。磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷法(fa)可探(tan)(tan)測露出表(biao)(biao)面，用肉眼或借(jie)助于(yu)放大鏡(jing)也(ye)(ye)(ye)不能直接(jie)(jie)觀(guan)察到的(de)微小(xiao)缺(que)陷(xian)，也(ye)(ye)(ye)可探(tan)(tan)測未露出表(biao)(biao)面，而是埋(mai)藏在表(biao)(biao)面下幾毫米的(de)近表(biao)(biao)面缺(que)陷(xian)。用這(zhe)種方法(fa)雖然也(ye)(ye)(ye)能探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未焊透(tou)等(deng)(deng)體(ti)積(ji)型缺(que)陷(xian)，但對面積(ji)型缺(que)陷(xian)更靈敏，更適于(yu)檢查因淬火、軋制、鍛(duan)造、鑄(zhu)造、焊接(jie)(jie)、電鍍、磨削、疲勞等(deng)(deng)引起的(de)裂紋。

磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)(shang)中對(dui)缺陷(xian)(xian)的顯示(shi)方法有(you)多種，有(you)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)的，也有(you)不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)的。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)的稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，因它(ta)顯示(shi)直觀、操作簡單、人(ren)們樂于使(shi)用(yong)(yong)，故(gu)它(ta)是最(zui)常(chang)用(yong)(yong)的方法之一。不用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示(shi)的，習慣上稱(cheng)(cheng)為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，它(ta)常(chang)借(jie)助于感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元(yuan)件等來(lai)反映缺陷(xian)(xian)，它(ta)比磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)更衛生，但不如前者(zhe)直觀。由(you)于磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)(shang)主(zhu)要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯示(shi)缺陷(xian)(xian)，因此(ci)，人(ren)們有(you)時把(ba)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)直接(jie)稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，其設備稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)(shang)設備。

4、渦流探傷方法

渦(wo)流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷(shang)是由交流(liu)(liu)(liu)電流(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)交變磁場作(zuo)用(yong)于(yu)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)導電材(cai)料(liao)，感應出電渦(wo)流(liu)(liu)(liu)。如果材(cai)料(liao)中(zhong)(zhong)有(you)缺陷(xian)，它將干(gan)(gan)擾所產生的(de)(de)電渦(wo)流(liu)(liu)(liu)，即(ji)形(xing)成干(gan)(gan)擾信(xin)號(hao)(hao)(hao)。用(yong)渦(wo)流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷(shang)儀檢測(ce)出其干(gan)(gan)擾信(xin)號(hao)(hao)(hao)，就可知道缺陷(xian)的(de)(de)狀況。影(ying)響(xiang)渦(wo)流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)因素(su)(su)很(hen)(hen)多(duo)(duo)(duo)，即(ji)是說渦(wo)流(liu)(liu)(liu)中(zhong)(zhong)載有(you)豐(feng)富的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)，這些信(xin)號(hao)(hao)(hao)與材(cai)料(liao)的(de)(de)很(hen)(hen)多(duo)(duo)(duo)因素(su)(su)有(you)關，如何將其中(zhong)(zhong)有(you)用(yong)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)從諸多(duo)(duo)(duo)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)中(zhong)(zhong)一一分離出來，是渦(wo)流(liu)(liu)(liu)研究工作(zuo)者的(de)(de)難題，多(duo)(duo)(duo)年來已經取得了(le)一些進(jin)展，在一定(ding)條件(jian)下可解決一些問題，但(dan)還遠不(bu)能滿足(zu)現場的(de)(de)要求，有(you)待于(yu)大力(li)發展。

渦(wo)流探傷(shang)的(de)(de)顯著(zhu)特點是對導電(dian)材料(liao)就能起作用，而不(bu)一定是鐵磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)，但對鐵磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)的(de)(de)效果較(jiao)(jiao)差。其次，待探工(gong)件表(biao)面(mian)的(de)(de)光潔(jie)度、平(ping)整度、邊(bian)介等對渦(wo)流探傷(shang)都有較(jiao)(jiao)大影響，因(yin)此常(chang)將渦(wo)流探傷(shang)用于形狀較(jiao)(jiao)規則、表(biao)面(mian)較(jiao)(jiao)光潔(jie)的(de)(de)銅管(guan)等非鐵磁(ci)(ci)(ci)性工(gong)件探傷(shang)。

5、滲透探傷方法

滲(shen)(shen)透探傷(shang)是利(li)用(yong)毛(mao)細現象來進行(xing)探傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。對(dui)于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)面光滑而清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)(bu)(bu)件(jian)，用(yong)一(yi)種帶色（常(chang)為紅色）或帶有(you)熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透性很(hen)強(qiang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體，涂覆于(yu)(yu)(yu)待探零(ling)部(bu)(bu)(bu)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面。若表(biao)(biao)面有(you)肉眼不能直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)微裂紋(wen)(wen)，由(you)于(yu)(yu)(yu)該液(ye)(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透性很(hen)強(qiang)，它(ta)將(jiang)(jiang)沿(yan)著(zhu)(zhu)(zhu)裂紋(wen)(wen)滲(shen)(shen)透到其根部(bu)(bu)(bu)。然后將(jiang)(jiang)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)洗(xi)去，再涂上(shang)對(dui)比(bi)度較大的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)(ye)（常(chang)為白色）。放置片刻后，由(you)于(yu)(yu)(yu)裂紋(wen)(wen)很(hen)窄，毛(mao)細現象作(zuo)用(yong)顯(xian)著(zhu)(zhu)(zhu)，原滲(shen)(shen)透到裂紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)將(jiang)(jiang)上(shang)升到表(biao)(biao)面并擴(kuo)散(san)，在(zai)白色的(de)(de)(de)(de)(de)襯(chen)底上(shang)顯(xian)出(chu)較粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而顯(xian)示(shi)出(chu)裂紋(wen)(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)，因此，常(chang)稱為著(zhu)(zhu)(zhu)色探傷(shang)。若滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)采(cai)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體，由(you)毛(mao)細現象上(shang)升到表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體，則會在(zai)紫外燈(deng)照射下(xia)發出(chu)熒(ying)光，從而更能顯(xian)示(shi)出(chu)裂紋(wen)(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)，故常(chang)常(chang)又將(jiang)(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透探傷(shang)直接稱為熒(ying)光探傷(shang)。此探傷(shang)方法(fa)也可用(yong)于(yu)(yu)(yu)金屬和非金屬表(biao)(biao)面探傷(shang)。其使用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探傷(shang)液(ye)(ye)劑有(you)較大氣味，常(chang)有(you)一(yi)定毒性。

探傷儀除以上五大常(chang)規方法外，近年來又(you)有了紅外、聲發射等一些新(xin)的探傷方法。