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什么是貼片光耦 貼片光耦怎么測量好壞

本文章由注冊用戶 荊湖酒徒 上傳提供 2024-05-17 評論 0
摘要:貼片光耦是將光耦芯片封裝制成的產品,和傳統的DIP光耦相比,貼片光耦體積更小,可以更好實現緊湊的系統設計,并且能提高產品的可靠性和壽命。貼片光耦一般可以通過在路測量正反向電阻來判斷好壞,也可以采用比較法、數字萬用表檢測法和光電效應判斷法來測量。下面一起來了解一下什么是貼片光耦以及貼片光耦怎么測量好壞吧。

一、什么是貼片光耦

?貼片(pian)(pian)光(guang)(guang)耦(ou)是將光(guang)(guang)耦(ou)芯片(pian)(pian)和外部電路部件進行集成和封裝(zhuang),實(shi)現信號隔離、調制(zhi)、放(fang)大、控制(zhi)等(deng)多種(zhong)功能的(de)(de)光(guang)(guang)耦(ou),具有(you)小尺寸、高(gao)可靠(kao)性等(deng)特點。相比傳統(tong)的(de)(de)DIP光(guang)(guang)耦(ou),貼片(pian)(pian)光(guang)(guang)耦(ou)的(de)(de)體積更小,可以(yi)方(fang)便地集成到PCB板(ban)上(shang),從(cong)而(er)實(shi)現緊湊的(de)(de)系(xi)統(tong)設計(ji)。同時(shi),由于封裝(zhuang)內部采用(yong)無鉛焊接(jie)(jie)方(fang)式,減(jian)少了(le)(le)焊接(jie)(jie)溫(wen)度的(de)(de)影響,降低了(le)(le)焊接(jie)(jie)過程(cheng)中的(de)(de)應(ying)力和熱(re)膨(peng)脹,從(cong)而(er)提高(gao)了(le)(le)產品的(de)(de)可靠(kao)性和壽命(ming)。

貼(tie)片光(guang)(guang)耦(ou)不(bu)僅可(ke)以滿足工(gong)業(ye)自動化、通(tong)信(xin)、醫療等(deng)行業(ye)的(de)需求(qiu)(qiu),還可(ke)以應(ying)用(yong)(yong)于(yu)汽(qi)車、航空(kong)航天等(deng)領(ling)域。在(zai)汽(qi)車電(dian)子系統(tong)中,貼(tie)片光(guang)(guang)耦(ou)可(ke)以用(yong)(yong)于(yu)ESP、ABS等(deng)安全控制系統(tong)中;在(zai)航空(kong)航天領(ling)域,貼(tie)片光(guang)(guang)耦(ou)可(ke)用(yong)(yong)于(yu)飛機的(de)引導、導航、通(tong)信(xin)等(deng)方(fang)面。隨(sui)著技術的(de)不(bu)斷發(fa)(fa)展和應(ying)用(yong)(yong)需求(qiu)(qiu)的(de)不(bu)斷增加,貼(tie)片光(guang)(guang)耦(ou)封(feng)裝有望(wang)進一(yi)步推動光(guang)(guang)電(dian)技術的(de)發(fa)(fa)展,為各(ge)行業(ye)提供更加高(gao)效、穩定的(de)解決方(fang)案。

二、貼片光耦怎么測量好壞

貼片(pian)光耦的(de)好壞(huai)判斷,一般可(ke)以通過在路測(ce)(ce)量其(qi)內部(bu)二極管(guan)和(he)三(san)極管(guan)的(de)正(zheng)反(fan)向(xiang)電阻(zu)來確定,如果想(xiang)獲得更可(ke)靠的(de)檢(jian)測(ce)(ce)結(jie)果,可(ke)以采(cai)取下面三(san)種檢(jian)測(ce)(ce)方法:

1、比較法

拆(chai)下懷疑有問(wen)題(ti)的(de)(de)光耦(ou)(ou)(ou),用萬用表測量(liang)其內部二(er)極管(guan)、三極管(guan)的(de)(de)正反(fan)向(xiang)電(dian)阻值(zhi),用其與好(hao)的(de)(de)光耦(ou)(ou)(ou)對應腳的(de)(de)測量(liang)值(zhi)進行(xing)比較(jiao),若阻值(zhi)相(xiang)差較(jiao)大,則說明光耦(ou)(ou)(ou)已(yi)損壞。

2、數字萬用表檢測法

將(jiang)光(guang)(guang)耦內(nei)接二極(ji)管的(de)+端{1}腳和-端{2}腳分別插入(ru)數字萬(wan)(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)的(de)Hfe 的(de)c、e插孔內(nei),此時數字萬(wan)(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)應(ying)置于NPN擋(dang);然后將(jiang)光(guang)(guang)耦內(nei)接光(guang)(guang)電三極(ji)管C極(ji){5}腳接指針式(shi)萬(wan)(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)的(de)黑表(biao)(biao)(biao)筆,e極(ji){4}腳接紅表(biao)(biao)(biao)筆,并將(jiang)指針式(shi)萬(wan)(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)撥(bo)在RX1k擋(dang)。這樣就能(neng)通過(guo)指針式(shi)萬(wan)(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)(biao)(biao)指針的(de)偏(pian)轉角度——實際上(shang)是光(guang)(guang)電流的(de)變化,來判斷光(guang)(guang)耦的(de)情況。指針向右偏(pian)轉角度越大,說明光(guang)(guang)耦的(de)光(guang)(guang)電轉換效率越高(gao)(gao),即傳(chuan)輸比越高(gao)(gao),反之越低;若表(biao)(biao)(biao)針不動(dong),則(ze)說明光(guang)(guang)耦已損壞。

3、光電效應判斷法

將萬用表置于RX1k電阻擋,兩表筆分別接在光耦的(de)輸(shu)出端(duan)(duan){4}、{5}腳;然后(hou)用(yong)一節1.5V的(de)電(dian)(dian)池與(yu)一只50~100Ω的(de)電(dian)(dian)阻串接后(hou),電(dian)(dian)池的(de)正極(ji)端(duan)(duan)接EL817的(de){1}腳,負(fu)極(ji)端(duan)(duan)碰接{2}腳,或者正極(ji)端(duan)(duan)碰接{1}腳,負(fu)極(ji)端(duan)(duan)接{2}腳,這時觀察接在輸(shu)出端(duan)(duan)萬用(yong)表的(de)指針(zhen)偏轉(zhuan)情況。如(ru)果(guo)指針(zhen)擺動(dong),說(shuo)明光耦是(shi)好的(de),如(ru)果(guo)不擺動(dong),則說(shuo)明光耦已(yi)損(sun)壞。萬用(yong)表指針(zhen)擺動(dong)偏轉(zhuan)角度越大,表明光電(dian)(dian)轉(zhuan)換靈敏度越高。

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