一、爐溫測試儀損壞的原因有哪些
爐溫測試儀是一種用于爐溫測試的儀器,又叫爐溫曲線測試儀,主要用于測試各種工業爐內的溫度,并可生成溫度曲線進行分析,在生產中非常重要。爐溫測試儀損壞會(hui)影(ying)響生產,一般導致(zhi)爐(lu)溫測試儀損壞的主要原因有:
1、連接器損壞
爐(lu)溫測試儀R232串(chuan)口連接(jie)器(qi)損壞,在插拔時(shi),串(chuan)口上的2顆螺絲無需擰緊。其次,垂直(zhi)于儀器(qi)插拔,不要上下搖(yao)擺插拔,會(hui)導(dao)致連接(jie)器(qi)與(yu)爐(lu)溫測試儀主板焊接(jie)點松(song)動、引腳斷裂(lie)。
2、充電充爆主板
爐溫(wen)測(ce)試儀(yi)在充(chong)電的時候要采用原裝充(chong)電器或(huo)者配置參數一(yi)樣的充(chong)電器。偶爾遇到個別拿著充(chong)電器就用,結果因為充(chong)電器電流過大,充(chong)爆(bao)主(zhu)板。
3、高溫損壞
(1)放(fang)進(jin)烤箱、回流焊、波峰焊、隧道爐等高(gao)溫環境,需要(yao)蓋緊(jin)隔熱(re)盒。且關(guan)注進(jin)爐出爐的時間,避免爐溫測試儀卡在(zai)爐腔內不能及時發現,導致高(gao)溫損壞。
(2)隔(ge)熱盒有溫(wen)(wen)度、時間限制(zhi)。回流爐(lu)(lu)爐(lu)(lu)溫(wen)(wen)測試(shi)儀通常是在恒溫(wen)(wen)300℃耐溫(wen)(wen)9分鐘(zhong),如果主機和隔(ge)熱盒沒有冷卻到位就(jiu)(jiu)連續(xu)測爐(lu)(lu)溫(wen)(wen),就(jiu)(jiu)會導致爐(lu)(lu)溫(wen)(wen)測試(shi)儀高溫(wen)(wen)損壞。
(3)很多用戶(hu)理解錯(cuo)爐(lu)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)儀含義(yi),爐(lu)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)儀測(ce)量范(fan)圍是-40℃~1370℃,是指k型測(ce)溫(wen)線(xian)能(neng)(neng)采(cai)集的溫(wen)度(du)范(fan)圍,而不(bu)是此爐(lu)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)儀能(neng)(neng)使(shi)用的溫(wen)度(du)范(fan)圍。使(shi)用范(fan)圍與爐(lu)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)儀的隔熱盒性(xing)(xing)能(neng)(neng)和測(ce)溫(wen)線(xian)耐溫(wen)性(xing)(xing)有關,被測(ce)環(huan)境溫(wen)度(du)時長不(bu)能(neng)(neng)超出隔熱盒性(xing)(xing)能(neng)(neng),否則就高溫(wen)損壞(huai)、甚至報(bao)廢。
4、機械損傷
爐(lu)溫(wen)測試(shi)儀通常需要安(an)裝(zhuang)在(zai)生(sheng)產(chan)線上(shang)或(huo)設備上(shang),容易(yi)被機械損(sun)傷。例如(ru)(ru),在(zai)安(an)裝(zhuang)或(huo)拆卸爐(lu)溫(wen)測試(shi)儀的(de)過程中,如(ru)(ru)果(guo)使用(yong)不當或(huo)暴力操作,可能會導(dao)致傳(chuan)感器或(huo)其他部件損(sun)壞。此外,如(ru)(ru)果(guo)生(sheng)產(chan)線上(shang)有振(zhen)動或(huo)沖(chong)擊(ji),也可能會對爐(lu)溫(wen)測試(shi)儀造成影響,導(dao)致其損(sun)壞。
5、環境因素
爐溫測試(shi)儀(yi)通常需(xu)要在干燥、無(wu)塵、無(wu)強磁場干擾的(de)環境中(zhong)使用(yong)。如果爐溫測試(shi)儀(yi)長時(shi)間暴露在惡(e)劣(lie)的(de)環境中(zhong),可能會導(dao)(dao)致傳感器或(huo)其(qi)他部件(jian)受潮、腐蝕或(huo)被磁場干擾,進(jin)而導(dao)(dao)致測溫儀(yi)損壞。
二、爐溫曲線測試儀常見故障及維修方法
1、爐溫測試儀不能與電腦通訊
可能原因:a、連(lian)接線損壞,b、接口沒插好,c、儀(yi)器本身故(gu)障。解決方法:a、更(geng)換連(lian)接線,b、檢查(cha)連(lian)接線是否有彎或斷裂,c、軟體復(fu)位,d、跟(gen)換U11,U14。
2、不能下載數據
可能原因:a、軟件問題,b、IC受(shou)熱(re)浮高(gao)(gao),松動,c、儀(yi)器高(gao)(gao)溫受(shou)損(sun)。解決方法:a、復(fu)位,b、拔插IC,更換U11,U14,c、換主板及隔(ge)熱(re)護套。
3、制程界限數據不能保存
可能原(yuan)因:軟(ruan)(ruan)件版本太低。解決辦法:升級軟(ruan)(ruan)件。
4、溫度跳動很快,幅度大
可(ke)能原因:儀器(qi)本身故障。解(jie)決辦法:更換(huan)IC AD620。
5、不能開機
可能原因:a、開關壞,b、電池扣(kou)壞,c、BIOS松動。解(jie)決辦(ban)法:a、換(huan)開關,b、換(huan)電池扣(kou),c、清潔BIOS,c、換(huan)U14。
6、開機一直叫
可能(neng)原(yuan)因:a、BIOS松(song)動,b、IC接觸不好。解決辦法:拔插IC,清潔(jie)。
7、下載數據不全或無數據
可(ke)能原(yuan)因:a、軟(ruan)件問題(ti),b、儀器受溫過高。解決辦法:軟(ruan)體復位。
8、單個通道溫度偏差較大
可能原因(yin):a、此通道損(sun)壞,b、IC壞。解決(jue)辦法(fa):a、檢查該通道線路,b、更換IC AD620(U11)。
9、看不到后半截曲線
可能(neng)原因:軟(ruan)件設(she)置不正(zheng)確(que)。解決辦法(fa):a、改變中間結束溫度設(she)置,b、取讀數據頻率改低。
10、電池耗電快
可能原(yuan)因:IC壞。解決辦法(fa):更(geng)換U9、U10。