一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是(shi)一種測量(liang)鍍(du)層等(deng)金(jin)屬薄(bo)膜(mo)的厚(hou)度(du)的儀(yi)器(qi)，主要用于測量(liang)鋼、鐵(tie)等(deng)鐵(tie)磁質金(jin)屬基體上的非鐵(tie)磁性涂層、鍍(du)層，其(qi)具(ju)有以下特(te)點(dian)：

1、精度高：鍍層(ceng)測厚儀的測量精度通常在±0.1μm范圍內，可以滿足大多數(shu)表面鍍層(ceng)或涂層(ceng)的測量需求。

2、快速測量：鍍層測厚(hou)儀可以在短時間內快速測量大(da)范圍(wei)的表面，提高生產效率。

3、無損檢(jian)測：鍍層測厚(hou)儀不會對被(bei)測物體表(biao)面造(zao)成損傷，可以(yi)用于生(sheng)產(chan)過程(cheng)中的質量(liang)控(kong)制(zhi)和檢(jian)測。

4、操作(zuo)簡單：鍍層測厚儀操作(zuo)簡單，易于掌(zhang)握(wo)，適合于不同(tong)領域的用(yong)戶使用(yong)。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚(hou)儀一般由三部分組成：

1、傳感(gan)(gan)器(qi)：傳感(gan)(gan)器(qi)部分(fen)負責(ze)與物體表(biao)面接觸，并采(cai)集鍍層或涂層的(de)電(dian)阻值、電(dian)導率(lv)或磁場強度等參數。

2、測量(liang)電路：測量(liang)電路部分將傳感器采集(ji)的(de)信號(hao)進(jin)行(xing)處理，計算(suan)出鍍層或涂層的(de)厚度。

3、顯示單元(yuan)：計算出的厚度(du)將(jiang)顯示在顯示單元(yuan)上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚儀用于(yu)測量鍍層厚度，主要有三(san)種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵(tie)（測(ce)(ce)頭）與(yu)導(dao)磁鋼(gang)材之(zhi)間(jian)的吸力大(da)小與(yu)處于這(zhe)兩者之(zhi)間(jian)的距離(li)成一定(ding)比例關系(xi)，這(zhe)個距離(li)就(jiu)是(shi)覆層(ceng)的厚(hou)度。利用這(zhe)一原理制(zhi)成測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，只要覆層(ceng)與(yu)基材的導(dao)磁率之(zhi)差足夠大(da)，就(jiu)可(ke)進行(xing)測(ce)(ce)量。

這種測(ce)(ce)厚儀(yi)基本結構由磁(ci)鋼，接(jie)力(li)簧，標尺及自停機構組成(cheng)。磁(ci)鋼與被(bei)測(ce)(ce)物吸合后，將測(ce)(ce)量簧在其后逐漸拉(la)(la)長，拉(la)(la)力(li)逐漸增大(da)。當拉(la)(la)力(li)剛(gang)好大(da)于吸力(li)，磁(ci)鋼脫離的一瞬間記錄(lu)下(xia)拉(la)(la)力(li)的大(da)小即可獲得覆層(ceng)厚度。

2、磁感應型

采用(yong)(yong)磁感應原理時(shi)，利(li)用(yong)(yong)從測頭經過非鐵磁覆(fu)層而流入鐵磁基體的(de)磁通的(de)大小，來(lai)測定(ding)(ding)覆(fu)層厚(hou)度(du)。也可(ke)以測定(ding)(ding)與之對應的(de)磁阻的(de)大小，來(lai)表示其覆(fu)層厚(hou)度(du)。覆(fu)層越(yue)厚(hou)，則磁阻越(yue)大，磁通越(yue)小。

利用磁(ci)感(gan)應(ying)原理的(de)測厚儀(yi)，原則上(shang)可以有(you)導(dao)磁(ci)基體上(shang)的(de)非導(dao)磁(ci)覆(fu)層(ceng)厚度，一般(ban)要求(qiu)基材導(dao)磁(ci)率在500以上(shang)，如果覆(fu)層(ceng)材料也有(you)磁(ci)性，則要求(qiu)與基材的(de)導(dao)磁(ci)率之差足(zu)夠大（如鋼上(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻(pin)交流信號在(zai)測頭(tou)(tou)線圈(quan)中產生電(dian)磁(ci)場，測頭(tou)(tou)靠近導(dao)(dao)體時，就(jiu)在(zai)其中形成渦流。測頭(tou)(tou)離導(dao)(dao)電(dian)基(ji)體愈(yu)近，則渦流愈(yu)大(da)，反(fan)射阻抗也愈(yu)大(da)。這個反(fan)饋作用量表(biao)征了測頭(tou)(tou)與(yu)導(dao)(dao)電(dian)基(ji)體之間距離的(de)大(da)小(xiao)，也就(jiu)是導(dao)(dao)電(dian)基(ji)體上非導(dao)(dao)電(dian)覆層(ceng)厚度的(de)大(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所(suo)有導(dao)電體上(shang)的非導(dao)電體覆層均可測量，如(ru)航天航空器(qi)表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yang)極氧化膜(mo)。覆層材料有一(yi)定(ding)的導(dao)電性，通(tong)過校準同樣也可測量，但(dan)要求兩者的導(dao)電率之比至少相(xiang)差(cha)3-5倍（如(ru)銅上(shang)鍍鉻）。