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覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪 涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

本文章由注冊用戶 荊湖酒徒 上傳提供 2024-07-18 評論 0
摘要:覆層測厚儀又叫涂層測厚儀,二者實際上是都是測量材料表面覆蓋圖層厚度的儀器,并沒有什么太大區別,不過和超聲波測厚儀相比,區別還是比較大的,主要在測量范圍、測量方法和測量精度等方面有所不同。下面一起來文章中詳細了解一下覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪以及涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別吧。

一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器,它和涂層測厚儀實際上(shang)是一樣的(de)(de),是兩種不(bu)同的(de)(de)稱呼而已,如果非(fei)要說有什(shen)么(me)區(qu)別的(de)(de)話,那就是覆層(ceng)測厚儀是新研發的(de)(de)新產品,與之前(qian)涂層(ceng)測厚儀相比(bi)有以下主要優點:

1、測量(liang)速度快(kuai):測量(liang)速度比(bi)普通涂層測厚儀快(kuai)6倍。

2、精度(du)高(gao):產品校(xiao)準后(hou)精度(du)即可達到(dao)1-2%,比普通的(de)涂層(ceng)測厚儀精度(du)更高(gao)。

3、穩(wen)定性:測量值的穩(wen)定性和使用穩(wen)定性優于涂(tu)層測厚儀。

4、功能、數(shu)據、操作、顯示全部(bu)是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層(ceng)測(ce)厚儀(yi)和超聲波測(ce)厚儀(yi)相比,雖然都是測(ce)厚儀(yi),但在以下幾個方面都存在區別(bie):

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)儀(yi)(yi)器(qi),超(chao)聲波(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)和(he)(he)涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)都有卡尺(chi)和(he)(he)千分尺(chi)等(deng)測(ce)量儀(yi)(yi)器(qi)達不到的(de)優(you)勢,但是兩者(zhe)在(zai)測(ce)量范圍上還是有區別的(de),涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀(yi)(yi)主要(yao)用來表面覆層(ceng),而超(chao)聲波(bo)測(ce)厚儀(yi)(yi)側重(zhong)于壁厚和(he)(he)板(ban)厚的(de)基材測(ce)量。

超聲波測(ce)厚儀(yi)的具體測(ce)量范(fan)圍:超聲波測(ce)厚儀(yi)可以測(ce)量金(jin)屬材質(zhi)、管道、壓力容器、板材(鋼板、鋁板)、塑(su)料、鐵管、PVC管、玻璃等其他特殊(shu)材料的厚度;也可以測(ce)量工(gong)件表面油漆(qi)層等帶涂層的材料。

涂(tu)(tu)層(ceng)測厚儀的(de)具體測量(liang)范(fan)圍(wei):主要(yao)用于測量(liang)金屬上的(de)涂(tu)(tu)層(ceng),防腐(fu)層(ceng),電鍍層(ceng),塑料,油漆,塑膠,陶瓷(ci),琺瑯等覆蓋層(ceng)的(de)厚度(du),也可(ke)以(yi)擴(kuo)展(zhan)應用到對(dui)紙(zhi)張(zhang),薄膜,板(ban)材等的(de)厚度(du)進行間接測量(liang)。

2、測量方法不同

(1)超聲波測厚儀的測量方法

①單點測量(liang)法:在被測體上任一點,利用探頭(tou)進行測量(liang),顯示值即為厚度值。

②兩(liang)點(dian)測量法:在被(bei)測體的同一點(dian)用(yong)探(tan)頭進(jin)行兩(liang)次測量,在第二(er)次測量中,探(tan)頭的分割(ge)面(mian)成 90°,取兩(liang)次測量中的較小值為厚度值。

③多(duo)點測(ce)(ce)量(liang)(liang)法:當測(ce)(ce)量(liang)(liang)值(zhi)(zhi)不(bu)穩定(ding)時,以一個測(ce)(ce)定(ding)點為中心,在直徑約(yue)為 30mm 的圓內進行(xing)多(duo)次測(ce)(ce)量(liang)(liang),取最小值(zhi)(zhi)為厚度值(zhi)(zhi)。

④連(lian)續(xu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)法:用單(dan)點測(ce)(ce)量(liang)(liang)法,沿(yan)指定線路連(lian)續(xu)測(ce)(ce)量(liang)(liang),其間隔不小(xiao)(xiao)于 5mm,取其中(zhong)最小(xiao)(xiao)值(zhi)為厚度值(zhi)。

(2)涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)(ci)性法:主要用(yong)于(yu)(yu)鐵(tie)基涂層,當測(ce)量(liang)頭與覆蓋(gai)層接觸時,測(ce)量(liang)頭和磁(ci)(ci)性金屬基體構(gou)成(cheng)一閉(bi)合(he)磁(ci)(ci)路(lu),由于(yu)(yu)非磁(ci)(ci)性覆蓋(gai)層的(de)存在,使磁(ci)(ci)路(lu)磁(ci)(ci)阻變(bian)化,通過(guo)測(ce)量(liang)其變(bian)化可導出(chu)覆蓋(gai)層的(de)厚度。

②渦流法:主要用于非鐵基(ji)(ji)涂層(ceng),用利用高頻交變電(dian)流在線圈中產(chan)生(sheng)(sheng)一個(ge)電(dian)磁場(chang),當(dang)測量頭(tou)與覆蓋(gai)層(ceng)接觸時,金屬基(ji)(ji)體上產(chan)生(sheng)(sheng)電(dian)渦流,并對測量頭(tou)中的線圈產(chan)生(sheng)(sheng)反(fan)饋(kui)作(zuo)用,通(tong)過測量反(fan)饋(kui)作(zuo)用的大小可導(dao)出覆蓋(gai)層(ceng)的厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm;涂層測厚儀的測量(liang)精(jing)度是:0-1250um(標(biao)配(pei)(pei)F1/N1探(tan)頭(tou))00-10000um(選(xuan)配(pei)(pei)F10/N10探(tan)頭(tou))。

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