評價內(nei)存(cun)條的性能指(zhi)標一共(gong)有四個:
(1) 存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)容(rong)量(liang):即一根(gen)內存(cun)(cun)條可(ke)(ke)以容(rong)納的(de)(de)(de)二進制信息量(liang),如(ru)常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)168線內存(cun)(cun)條的(de)(de)(de)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)容(rong)量(liang)一般多為(wei)(wei)32兆(zhao)、64兆(zhao)和128兆(zhao)。而DDRII3普遍為(wei)(wei)1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)取(qu)速度(存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)周期(qi)):即兩(liang)次獨立的(de)(de)(de)存(cun)(cun)取(qu)操作之間(jian)所需的(de)(de)(de)最短時間(jian),又稱為(wei)(wei)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)周期(qi),半導體存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)器的(de)(de)(de)存(cun)(cun)取(qu)周期(qi)一般為(wei)(wei)60納秒至100納秒。 (3) 存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)器的(de)(de)(de)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing):存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)器的(de)(de)(de)可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)用(yong)平(ping)均(jun)故障間(jian)隔(ge)時間(jian)來衡量(liang),可(ke)(ke)以理(li)解(jie)為(wei)(wei)兩(liang)次故障之間(jian)的(de)(de)(de)平(ping)均(jun)時間(jian)間(jian)隔(ge)。 (4)性(xing)(xing)能價(jia)格比:性(xing)(xing)能主要(yao)包括存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)器容(rong)量(liang)、存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)周期(qi)和可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)三項內容(rong),性(xing)(xing)能價(jia)格比是一個(ge)綜合性(xing)(xing)指標,對于(yu)不同(tong)的(de)(de)(de)存(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)(chu)器有不同(tong)的(de)(de)(de)要(yao)求。