電路板檢測方法有哪些

1、針床測試法

這種方法由帶有彈簧的探針連接到電路板上的(de)(de)(de)每(mei)一(yi)個檢(jian)(jian)測(ce)(ce)點(dian)(dian)。彈(dan)簧使每(mei)個探(tan)針(zhen)(zhen)具有100-200g的(de)(de)(de)壓力，以(yi)(yi)保證每(mei)個檢(jian)(jian)測(ce)(ce)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)良(liang)好，這樣的(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)(zhen)排列在(zai)一(yi)起(qi)被稱為(wei)"針(zhen)(zhen)床(chuang)"。在(zai)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)軟件的(de)(de)(de)控(kong)制下(xia)，可以(yi)(yi)對檢(jian)(jian)測(ce)(ce)點(dian)(dian)和檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信號進行編程。實際(ji)上只(zhi)有那些需要(yao)測(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)點(dian)(dian)的(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)(zhen)是安裝了的(de)(de)(de)。盡管使用針(zhen)(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試(shi)法可能同時在(zai)電路板(ban)的(de)(de)(de)兩面(mian)進行檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，當設計電路板(ban)時，還是應(ying)該(gai)使所有的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)點(dian)(dian)在(zai)電路板(ban)的(de)(de)(de)焊接(jie)面(mian)。針(zhen)(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試(shi)儀設備(bei)昂貴，且很難維修(xiu)。針(zhen)(zhen)頭依據(ju)其具體應(ying)用選(xuan)不同排列的(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)(zhen)。

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一種基本的(de)(de)(de)(de)通用柵格(ge)處理器(qi)由一個鉆孔的(de)(de)(de)(de)板(ban)子構成，其(qi)上(shang)插(cha)針(zhen)的(de)(de)(de)(de)中(zhong)心間距為(wei)100、75或50mil。插(cha)針(zhen)起探(tan)針(zhen)的(de)(de)(de)(de)作(zuo)用，并利(li)用電路(lu)板(ban)上(shang)的(de)(de)(de)(de)電連接器(qi)或節點進(jin)行(xing)直接的(de)(de)(de)(de)機械(xie)連接。如果電路(lu)板(ban)上(shang)的(de)(de)(de)(de)焊盤(pan)與測(ce)(ce)(ce)試(shi)柵格(ge)相配，那(nei)么按照規范(fan)打孔的(de)(de)(de)(de)聚醋薄(bo)膜就會被放置(zhi)在柵格(ge)和電路(lu)板(ban)之間，以便于(yu)設計特定(ding)的(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)。連續(xu)性檢測(ce)(ce)(ce)是(shi)通過訪問網格(ge)的(de)(de)(de)(de)末(mo)端(duan)點（已被定(ding)義(yi)為(wei)焊盤(pan)的(de)(de)(de)(de)x-y坐標）實現的(de)(de)(de)(de)。既然電路(lu)板(ban)上(shang)的(de)(de)(de)(de)每(mei)一個網絡都進(jin)行(xing)連續(xu)性檢測(ce)(ce)(ce)。這(zhe)樣(yang)，一個獨立的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)就完成了。然而，探(tan)針(zhen)的(de)(de)(de)(de)接近程度限制了針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)法的(de)(de)(de)(de)效能。

2、電路板的觀測

電路板(ban)體積小，結(jie)(jie)構(gou)復(fu)雜，因(yin)(yin)此對(dui)電路板(ban)的(de)(de)(de)(de)觀(guan)察也(ye)必須用到專業的(de)(de)(de)(de)觀(guan)測(ce)儀器。一般的(de)(de)(de)(de)，我們采用便(bian)(bian)攜式視頻(pin)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)來觀(guan)察電路板(ban)的(de)(de)(de)(de)結(jie)(jie)構(gou)，通過視頻(pin)顯微(wei)(wei)攝像頭，可(ke)以清(qing)晰從顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)看到非常直觀(guan)的(de)(de)(de)(de)電路板(ban)的(de)(de)(de)(de)顯微(wei)(wei)結(jie)(jie)構(gou)。通過這(zhe)種(zhong)方式，我們就比較容易進行電路板(ban)的(de)(de)(de)(de)設計和檢測(ce)了(le)。現工廠現場采用的(de)(de)(de)(de)便(bian)(bian)攜式視頻(pin)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)，采用的(de)(de)(de)(de)便(bian)(bian)攜式視頻(pin)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)MSA200、VT101，因(yin)(yin)它可(ke)實(shi)現“隨時觀(guan)測(ce)、隨時檢測(ce)、多人討論”比傳(chuan)統的(de)(de)(de)(de)顯微(wei)(wei)鏡(jing)(jing)更加方便(bian)(bian)！

3、雙探針飛針測試法

飛(fei)針(zhen)(zhen)測試(shi)儀不依賴于安裝在(zai)夾具或支架上(shang)的(de)(de)插腳圖案。基(ji)于這種系(xi)統，兩個或更多(duo)的(de)(de)探針(zhen)(zhen)安裝在(zai)x-y平面上(shang)可(ke)自(zi)由(you)移動(dong)的(de)(de)微小(xiao)磁頭(tou)上(shang)，測試(shi)點由(you)CADI?Gerber數據直接(jie)控(kong)制(zhi)。雙探針(zhen)(zhen)能(neng)在(zai)彼此相(xiang)距4mil的(de)(de)范圍內移動(dong)。探針(zhen)(zhen)能(neng)夠(gou)獨(du)立地移動(dong)，并且沒有真正的(de)(de)限(xian)定它們彼此靠近(jin)的(de)(de)程度(du)。帶有兩個可(ke)來回移動(dong)的(de)(de)臂狀(zhuang)物的(de)(de)測試(shi)儀是以電(dian)容的(de)(de)測量(liang)為(wei)基(ji)礎的(de)(de)。將(jiang)電(dian)路(lu)板(ban)緊壓著(zhu)放(fang)在(zai)一(yi)(yi)塊金屬板(ban)上(shang)的(de)(de)絕(jue)緣層上(shang)，作為(wei)電(dian)容器的(de)(de)另一(yi)(yi)個金屬板(ban)。假如在(zai)線(xian)路(lu)之(zhi)間有一(yi)(yi)條(tiao)短路(lu)，電(dian)容將(jiang)比在(zai)一(yi)(yi)個確定的(de)(de)點上(shang)大。如果(guo)有-條(tiao)斷(duan)路(lu)，電(dian)容將(jiang)變小(xiao)。

測試速度是選擇測試儀的一個重要標準。針床測試儀能夠一次精確地測試數千個測試點，而飛針測試儀一次僅僅能測電路板試(shi)(shi)(shi)兩個或(huo)(huo)四(si)個測(ce)試(shi)(shi)(shi)點(dian)。另外，針(zhen)(zhen)床測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)進行單面測(ce)試(shi)(shi)(shi)時，可能(neng)僅(jin)僅(jin)花費20-30秒，這要(yao)根據板(ban)子的(de)(de)(de)復雜(za)性(xing)而定，而飛(fei)針(zhen)(zhen)測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)則需要(yao)Ih或(huo)(huo)更多的(de)(de)(de)時間完成同(tong)樣(yang)的(de)(de)(de)評估。Shipley（1991）解釋(shi)說，即使(shi)高產(chan)(chan)量印制電(dian)路板(ban)的(de)(de)(de)生產(chan)(chan)商(shang)認為(wei)移(yi)動的(de)(de)(de)飛(fei)針(zhen)(zhen)測(ce)試(shi)(shi)(shi)技術慢，但(dan)是(shi)(shi)這種方法對于(yu)較低產(chan)(chan)量的(de)(de)(de)復雜(za)電(dian)路板(ban)的(de)(de)(de)生產(chan)(chan)商(shang)來說還是(shi)(shi)不錯的(de)(de)(de)選擇。

對于(yu)(yu)裸板(ban)測(ce)(ce)試(shi)(shi)來(lai)說，有專用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)器(qi)(qi)。一種(zhong)成(cheng)本更為優化(hua)的(de)(de)(de)方法是(shi)使(shi)用(yong)(yong)(yong)一個(ge)通用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)儀(yi)器(qi)(qi)，盡管這(zhe)類儀(yi)器(qi)(qi)最(zui)(zui)初比專用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)儀(yi)器(qi)(qi)更昂貴，但它最(zui)(zui)初的(de)(de)(de)高費用(yong)(yong)(yong)將被個(ge)別配(pei)置(zhi)成(cheng)本的(de)(de)(de)減少抵消。對于(yu)(yu)通用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)，帶引腳(jiao)元器(qi)(qi)件(jian)的(de)(de)(de)板(ban)子和表面貼裝設備的(de)(de)(de)標(biao)準(zhun)柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)是(shi)2.5mm。此時(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)焊(han)盤(pan)應該大于(yu)(yu)或等于(yu)(yu)1.3mm。對于(yu)(yu)Imm的(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)焊(han)盤(pan)設計得要大于(yu)(yu)0.7mm。假(jia)如(ru)柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)較(jiao)小(xiao)，則測(ce)(ce)試(shi)(shi)針(zhen)小(xiao)而脆(cui)，并且容易(yi)損(sun)壞。因此，最(zui)(zui)好選用(yong)(yong)(yong)大于(yu)(yu)2.5mm的(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)。將通用(yong)(yong)(yong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)（標(biao)準(zhun)的(de)(de)(de)柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)）和飛針(zhen)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)聯合使(shi)用(yong)(yong)(yong)，可使(shi)高密度(du)電路(lu)板(ban)的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)即精確又經濟。他建議的(de)(de)(de)另(ling)外一種(zhong)方法是(shi)使(shi)用(yong)(yong)(yong)導電橡膠測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)，這(zhe)種(zhong)技術(shu)可以用(yong)(yong)(yong)來(lai)檢測(ce)(ce)偏離柵(zha)(zha)格(ge)(ge)(ge)的(de)(de)(de)點(dian)(dian)。然而，采用(yong)(yong)(yong)熱風整平(ping)處理的(de)(de)(de)焊(han)盤(pan)高度(du)不同，將有礙測(ce)(ce)試(shi)(shi)點(dian)(dian)的(de)(de)(de)連接。

電路板怎么快速檢測出故障

1、看元件的狀態

拿(na)到一塊出故障的電路(lu)板，首先觀察電路(lu)板有沒有明顯的元件損壞，如(ru)電解電容燒毀(hui)和(he)鼓(gu)脹、電阻(zu)燒壞以(yi)及功率器件的燒損等。

2、看電路板的焊接

如印制電路板(ban)有(you)(you)沒有(you)(you)變形翹(qiao)曲；有(you)(you)沒有(you)(you)焊點脫落、明(ming)顯虛焊；電路板(ban)覆銅皮有(you)(you)沒有(you)(you)翹(qiao)起、燒(shao)糊變黑。

3、觀察元件的插件

如集成電路(lu)(lu)、二極管(guan)、電路(lu)(lu)板(ban)電源(yuan)變壓器等(deng)方向有沒插錯(cuo)。

4、電阻電容電感的簡單測試

使用萬用表對量程內的電(dian)(dian)阻(zu)(zu)、電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感等可懷疑元件進行(xing)簡(jian)單的測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)有否電(dian)(dian)阻(zu)(zu)阻(zu)(zu)值變大、電(dian)(dian)容短路(lu)(lu)、開(kai)路(lu)(lu)和容值變化、電(dian)(dian)感短路(lu)(lu)和開(kai)路(lu)(lu)等現象。

5、上電測試

經(jing)過上述簡(jian)單觀察和(he)測(ce)試后，無(wu)法排除故障，可(ke)進行上電(dian)(dian)(dian)測(ce)試。首先測(ce)試電(dian)(dian)(dian)路板(ban)供電(dian)(dian)(dian)是(shi)(shi)否正常(chang)。如電(dian)(dian)(dian)路板(ban)的交流電(dian)(dian)(dian)源是(shi)(shi)否異常(chang)、穩壓器輸出是(shi)(shi)否異常(chang)、開關(guan)電(dian)(dian)(dian)源輸出和(he)波形是(shi)(shi)否異常(chang)等

6、刷程序

對于有(you)單片機、DSP、CPLD等可編程元件，可考慮(lv)重新刷一(yi)遍程序，排除程序運行異常造成的電路故障。

7、按照功能模塊維修

如果按照以上步驟仍不能維修好電路板，就需要根據電路故障，確定可能出(chu)問(wen)題的電路模塊，根據設計圖紙進行(xing)進一(yi)步維修了。