一、固態硬盤壽命多久

固態硬盤具有(you)擦寫次數限(xian)制的問題，所(suo)以說固(gu)態(tai)硬(ying)(ying)盤是有(you)壽命(ming)限(xian)制的。固(gu)態(tai)硬(ying)(ying)盤內部(bu)閃存完(wan)全擦寫一次叫做1次P/E，因(yin)此(ci)固(gu)態(tai)硬(ying)(ying)盤的壽命(ming)就(jiu)以P/E作(zuo)單(dan)位。

固(gu)態(tai)硬(ying)盤壽命主(zhu)要(yao)是(shi)(shi)擦(ca)寫次數、容(rong)量決定的(de)，而(er)不(bu)同容(rong)量以及不(bu)同顆(ke)粒(li)(li)(li)，擦(ca)寫次數也不(bu)是(shi)(shi)不(bu)同的(de)。目(mu)前市(shi)面上的(de)固(gu)態(tai)硬(ying)盤有SLC、MLC、TLC、QLC四種顆(ke)粒(li)(li)(li)，目(mu)前SLC顆(ke)粒(li)(li)(li)成本(ben)較高(gao)，容(rong)量較小，比較少見，MLC多數定位高(gao)端產(chan)品中(zhong)，TLC是(shi)(shi)目(mu)前市(shi)場主(zhu)流顆(ke)粒(li)(li)(li)，而(er)QLC顆(ke)粒(li)(li)(li)壽命最(zui)短(duan)，但(dan)是(shi)(shi)成本(ben)較小，容(rong)量較大。

SLC顆(ke)粒(li)理論擦寫(xie)(xie)次數在(zai)10萬次以上P/E，MLC顆(ke)粒(li)理論擦寫(xie)(xie)次數在(zai)3000-5000次P/E左(zuo)右，TLC顆(ke)粒(li)理論擦寫(xie)(xie)次數在(zai)1000-3000次P/E不等(deng)，而QLC顆(ke)粒(li)理論擦寫(xie)(xie)次數僅150次P/E。

固態硬(ying)盤的使用壽命(ming)=（實際容量（單(dan)位：GB）×P/E數）÷（每天寫入(ru)容量（單(dan)位：GB/天）×寫入(ru)放大×365（單(dan)位：天））。

舉個例子(zi)吧，假設1個500G的TLC顆粒固態硬盤（理論(lun)擦寫(xie)以最少1000次P/E計），按(an)照每天(tian)擦寫(xie)100G，也就是它的壽命=1000*500/100/365=13.7年，還有(you)這個寫(xie)入次數也是理論(lun)上的，超出也不一定會壞，而且你每天(tian)也不可能擦寫(xie)100G。

所(suo)以，理(li)(li)論(lun)數據僅(jin)供參考(kao)，有(you)的(de)固態硬盤(pan)(pan)還沒到理(li)(li)論(lun)壽命(ming)，就壞了(le)，有(you)的(de)固態硬盤(pan)(pan)超過理(li)(li)論(lun)壽命(ming)，依然堅挺，所(suo)以大(da)家無(wu)需擔心固態硬盤(pan)(pan)的(de)使用壽命(ming)問題。

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二、固態硬盤壽命到期表現

現在的SSD管理(li)管理(li)芯(xin)片以(yi)及閃存(cun)技術都有不(bu)(bu)小(xiao)的進(jin)步，如(ru)果超過了SSD的使用壽(shou)命(ming)，不(bu)(bu)必(bi)擔心數據，因為最多只是不(bu)(bu)能寫入了，但是數據都還在，是可以(yi)讀取的。

雖(sui)然現在的SSD即使(shi)有壽命(ming)限制，但也足夠用5-10年。

三、SSD固態硬盤使用壽命檢測方法

目前很多固態硬(ying)盤工具，都具備(bei)壽命檢測功能，下(xia)面分享幾(ji)款軟件，供大家(jia)參考(kao)。

1、CrystalDiskInfo

CrystalDiskInfo是一款硬(ying)盤檢(jian)測(ce)工具(ju)，只要在裝(zhuang)了(le)SSD的(de)(de)電腦(nao)上，安裝(zhuang)運(yun)行CrystalDiskInfo軟(ruan)件，即可檢(jian)測(ce)到硬(ying)盤信息。我們打開CrystalDiskInfo軟(ruan)件檢(jian)測(ce)了(le)intel某型(xing)號的(de)(de)固(gu)態硬(ying)盤，在健康的(de)(de)欄(lan)目中，檢(jian)測(ce)該固(gu)態陰干剩余壽(shou)命還(huan)有92%。

固(gu)態(tai)(tai)硬盤的(de)(de)磨損(sun)程(cheng)度實際上是由NAND寫入量決定，NAND寫入量受主(zhu)機寫入和寫入放大(da)率的(de)(de)共同影響，不過(guo)很多(duo)固(gu)態(tai)(tai)硬盤并沒有提供NAND寫入量的(de)(de)具體數值(zhi)。

2、SSD廠商工具

不同(tong)硬盤檢測(ce)(ce)(ce)工具，檢測(ce)(ce)(ce)的SSD剩余壽命(ming)(ming)數(shu)值也可能有所(suo)不同(tong)，我們來使用為(wei)Intel固態(tai)(tai)驅動器(qi)工具來檢測(ce)(ce)(ce)固態(tai)(tai)硬盤壽命(ming)(ming)，而壽命(ming)(ming)數(shu)值僅為(wei)67%。

3、M.2固態硬盤壽命檢測

發展到NVMe固(gu)態(tai)硬盤后，SMART健(jian)康(kang)度信(xin)息終于統一了標準。這是東芝RC100 240G NVMe固(gu)態(tai)硬盤的CrystalDiskMark檢測信(xin)息：健(jian)康(kang)狀(zhuang)態(tai)是由03 Available Spare可用備用空間來確定，備用塊剩(sheng)余(yu)100%，故而顯示當前剩(sheng)余(yu)壽命100%。

而(er)通過東芝SSD Utility固態硬(ying)(ying)盤工(gong)具箱，可以查(cha)看(kan)到這塊RC100 NVMe固態硬(ying)(ying)盤的健康度為97%。

97%這個數值(zhi)是(shi)根(gen)據主(zhu)機(ji)寫(xie)入(ru)量(liang)占廠商標(biao)定的(de)(de)固態硬盤總寫(xie)入(ru)量(liang)（TBW）百分比(bi)得出的(de)(de)，展(zhan)現(xian)在SMART信息05 Percentage Used當(dang)中(zhong)。下圖(tu)是(shi)東(dong)芝RC100的(de)(de)TBW信息，它是(shi)按(an)照JEDEC標(biao)準來計算(suan)的(de)(de)，比(bi)實(shi)際家(jia)用使用強度更(geng)大(da)更(geng)嚴格。

到了NVMe固態硬(ying)盤時(shi)代(dai)之后，不同(tong)硬(ying)盤檢(jian)測(ce)軟件對健康度(du)的檢(jian)測(ce)結(jie)果依(yi)然不一樣，哪(na)個結(jie)果更準確(que)呢？小編認為，固態硬(ying)盤廠商提(ti)供的工具(ju)箱軟件檢(jian)測(ce)相對最科(ke)學。

雖(sui)然基于固定TBW的百分比(bi)計算比(bi)較死(si)板(ban)，但(dan)相比(bi)按備用(yong)塊消(xiao)耗程度來(lai)預計壽命的方(fang)法(fa)更(geng)可(ke)靠。

以上就是使用工具檢測固態硬盤壽命方法(fa)，不同工具檢(jian)測的結構有(you)所不同，因(yin)此(ci)數值僅(jin)供(gong)參考，不一定完全(quan)準確(que)。當(dang)然(ran)，如果多款硬(ying)盤(pan)(pan)檢(jian)測工具都顯示(shi)您的SSD壽命快(kuai)用盡，這個時候就需要注意，SSD真(zhen)的可能快(kuai)壞了(le)，請及(ji)時備(bei)份重要數據(ju)到其他硬(ying)盤(pan)(pan)或者U盤(pan)(pan)上，以免因(yin)SSD損壞，數據(ju)丟失。