一、x射線熒光光譜儀測什么的

X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jian)稱：XRF光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀），是一種快速的(de)、非破(po)壞式的(de)物質(zhi)測量方法。X射線熒光(guang)(guang)(guang)（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材(cai)料時激(ji)發(fa)出(chu)的(de)次級(ji)X射線。XRF用X光(guang)(guang)(guang)或其他激(ji)發(fa)源照射待(dai)分(fen)析(xi)(xi)(xi)樣品(pin)，樣品(pin)中的(de)元(yuan)素之內層電子被擊出(chu)后，造成(cheng)核(he)外電子的(de)躍遷(qian)，在被激(ji)發(fa)的(de)電子返回基態的(de)時候，會(hui)放射出(chu)特(te)(te)征X光(guang)(guang)(guang)；不同的(de)元(yuan)素會(hui)放射出(chu)各自的(de)特(te)(te)征X光(guang)(guang)(guang)，具有(you)不同的(de)能量或波長特(te)(te)性。檢測器（Detector）接受這些X光(guang)(guang)(guang)，儀器軟件系統將其轉(zhuan)為對應的(de)信號。這一現象(xiang)廣泛用于元(yuan)素分(fen)析(xi)(xi)(xi)和化學(xue)(xue)分(fen)析(xi)(xi)(xi)，特(te)(te)別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建筑材(cai)料，以及(ji)在地球化學(xue)(xue)研究、法醫學(xue)(xue)、電子產(chan)品(pin)進料品(pin)管（EURoHS）和考古學(xue)(xue)等領(ling)域，在某種程度上與(yu)原子吸收(shou)光(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀互補，減少工廠附(fu)設的(de)品(pin)管實驗(yan)室之分(fen)析(xi)(xi)(xi)人(ren)力投入(ru)。

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二、X射線熒光光譜儀如何檢測樣品中的金屬元素

當(dang)使(shi)用X射(she)(she)線(xian)光(guang)照(zhao)樣(yang)品(pin)時，樣(yang)品(pin)可(ke)以(yi)(yi)被激發出各(ge)種波長(chang)的(de)熒光(guang)X射(she)(she)線(xian)，把(ba)混合的(de)X射(she)(she)線(xian)按波長(chang)（或能量(liang)(liang)）分(fen)開，分(fen)別(bie)測量(liang)(liang)不同波長(chang)（或能量(liang)(liang)）的(de)X射(she)(she)線(xian)的(de)強度，就可(ke)以(yi)(yi)進行定性和定量(liang)(liang)分(fen)析，為此使(shi)用的(de)儀(yi)器為X射(she)(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)（以(yi)(yi)下簡稱XRF）。

實驗室如何利用(yong)(yong)XRF這(zhe)種較為成(cheng)熟(shu)的(de)(de)分析技術檢(jian)測固體(ti)樣(yang)品(pin)中的(de)(de)金屬(shu)元(yuan)素(su)？實驗室將拿到的(de)(de)試(shi)樣(yang)過200目篩(shai)，按照提供的(de)(de)方法(fa)進(jin)行制(zhi)樣(yang)，從中選擇能覆蓋分析元(yuan)素(su)含量范圍并具有一(yi)定梯(ti)度的(de)(de)樣(yang)品(pin)，經化學方法(fa)準(zhun)確(que)定值后(hou)，與同(tong)樣(yang)粒度的(de)(de)3個標準(zhun)樣(yang)品(pin)一(yi)起分別壓片用(yong)(yong)于建立(li)工作曲線。

方法采用(yong)壓(ya)片(pian)(pian)法，根據(ju)不同(tong)的壓(ya)力(li)對樣(yang)品進行壓(ya)片(pian)(pian)，做壓(ya)力(li)與(yu)樣(yang)品元素(su)強(qiang)度(du)試(shi)驗，確定壓(ya)力(li)和保(bao)壓(ya)時(shi)間(jian)。（分(fen)析(xi)合金樣(yang)品過程(cheng)中粒度(du)效應是影(ying)響熒光(guang)光(guang)譜儀結(jie)果的主要主要因素(su)之一，需要通過固定破碎(sui)試(shi)樣(yang)的克數與(yu)研磨時(shi)間(jian)來保(bao)持試(shi)樣(yang)與(yu)分(fen)析(xi)試(shi)樣(yang)粒度(du)一致，確定研磨時(shi)間(jian)。）

輸(shu)入各元(yuan)素(su)的(de)(de)化(hua)學值，用熒光(guang)光(guang)譜儀測定其強度(du)(du)，以(yi)元(yuan)素(su)化(hua)學值為(wei)橫坐標(biao)(biao)，強度(du)(du)為(wei)縱坐標(biao)(biao)，分(fen)別建立一次作曲線，并得到(dao)相應的(de)(de)的(de)(de)回歸情況，得到(dao)結果(guo)元(yuan)素(su)的(de)(de)相對(dui)標(biao)(biao)準偏差RSD<1％，這表明用XRF測定這些固體樣(yang)品(pin)金(jin)屬元(yuan)素(su)有很(hen)好的(de)(de)分(fen)析精度(du)(du)。整個檢測過程快速、準確，不(bu)需(xu)要化(hua)學方法(fa)對(dui)樣(yang)品(pin)進行前處(chu)理，同時可(ke)以(yi)實現(xian)多元(yuan)素(su)分(fen)析，并可(ke)以(yi)替(ti)代(dai)復雜(za)的(de)(de)檢測方法(fa)。

XRF適合用(yong)于元素分析和化學分析，理論上可以測定元素周期表(biao)中(zhong)從(cong)(cong)F-U（除(chu)去惰(duo)性氣(qi)體一族）的元素，分析范圍(wei)廣，可分析濃度范圍(wei)從(cong)(cong)1μg/g～100%。可用(yong)于（但不限于）實驗(yan)室檢測依據(ju)的部分標準方(fang)法包括：

GB/T 21114-2019耐火材料 X射線熒光光譜化(hua)學分析(xi) 熔(rong)鑄玻(bo)璃片(pian)法。

YS/T 575.23-2009 鋁(lv)土礦石(shi)化學分析方(fang)法(fa) 第23部(bu)分：X射線熒(ying)光(guang)光(guang)譜(pu)法(fa)測定元素含量。

GB/T 6609.30-2009 氧化(hua)鋁(lv)化(hua)學分析方(fang)法(fa)(fa)和物理性能測(ce)定方(fang)法(fa)(fa) 第30部分：X射線熒(ying)光光譜(pu)法(fa)(fa)測(ce)定微量元素含(han)量等。

在研究金屬、玻璃、地質、建筑材料等領域，X射線熒光光譜儀是(shi)較為(wei)常見的非破壞性元(yuan)素分析(xi)方法，由于(yu)可直接(jie)分析(xi)固體(ti)或者(zhe)是(shi)液體(ti)試樣，進行(xing)非破壞分析(xi)，適用(yong)場景(jing)較多，在元(yuan)素分析(xi)領(ling)域是(shi)一種切實可行(xing)的檢測方法。實驗室X射線熒(ying)光光譜儀XRF可以測量樣品中的金屬(shu)元(yuan)素組成，對(dui)送樣的需求需要進行(xing)進一步的溝通。