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紅外光譜儀主要檢測什么 紅外光譜儀的操作步驟及注意事項

本文章由注冊用戶 天空之城 上傳提供 2023-09-29 評論 0
摘要:紅外光譜儀是實驗室常見儀器之一,可以研究分子的結構和化學鍵,如力常數的測定和分子對稱性等,使用紅外光譜儀對材料進行定性分析,廣泛應用于各大專院校,科研院所及廠礦企業。下面來介紹下紅外光譜儀的操作步驟及注意事項。

一、紅外光譜儀主要檢測什么

紅外光譜儀是利(li)用物(wu)質對不(bu)同波長(chang)的(de)(de)(de)(de)紅(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)輻(fu)射的(de)(de)(de)(de)吸(xi)收特性,進行(xing)分(fen)子(zi)結構(gou)和化(hua)學(xue)組成分(fen)析的(de)(de)(de)(de)儀器。紅(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)光譜儀通(tong)常由光源,單色器,探測(ce)器和計(ji)算機處(chu)理(li)信息系(xi)統組成。根據分(fen)光裝置的(de)(de)(de)(de)不(bu)同,分(fen)為色散型和干涉型。對色散型雙光路光學(xue)零位平衡紅(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)分(fen)光光度(du)計(ji)而言,當樣(yang)品(pin)(pin)吸(xi)收了一(yi)定頻率的(de)(de)(de)(de)紅(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)輻(fu)射后,分(fen)子(zi)的(de)(de)(de)(de)振動能級發(fa)生躍遷,透過的(de)(de)(de)(de)光束(shu)中(zhong)相(xiang)(xiang)應頻率的(de)(de)(de)(de)光被減弱,造成參比光路與(yu)樣(yang)品(pin)(pin)光路相(xiang)(xiang)應輻(fu)射的(de)(de)(de)(de)強度(du)差(cha),從(cong)而得到所測(ce)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)(de)(de)紅(hong)(hong)外(wai)(wai)(wai)光譜。應用于染織工業、環境科(ke)學(xue)、生物(wu)學(xue)、材料科(ke)學(xue)、高分(fen)子(zi)化(hua)學(xue)、催化(hua)、煤結構(gou)研究(jiu)(jiu)、石油工業、生物(wu)醫學(xue)、生物(wu)化(hua)學(xue)、藥學(xue)、無(wu)機和配位化(hua)學(xue)基礎研究(jiu)(jiu)、半(ban)導體(ti)材料、日用化(hua)工等研究(jiu)(jiu)領域。

紅外光譜(pu)可以研究分(fen)子的(de)(de)結構(gou)和(he)化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)鍵,如力常(chang)數(shu)(shu)的(de)(de)測(ce)定(ding)和(he)分(fen)子對稱性(xing)等(deng)(deng),利用紅外光譜(pu)方法可測(ce)定(ding)分(fen)子的(de)(de)鍵長和(he)鍵角,并由此(ci)推(tui)測(ce)分(fen)子的(de)(de)立體構(gou)型。根據所得的(de)(de)力常(chang)數(shu)(shu)可推(tui)知化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)鍵的(de)(de)強弱,由簡正(zheng)頻率(lv)計算熱(re)力學(xue)(xue)(xue)函數(shu)(shu)等(deng)(deng)。分(fen)子中(zhong)的(de)(de)某些基(ji)(ji)團(tuan)或化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)鍵在不同(tong)化(hua)(hua)(hua)合物(wu)中(zhong)所對應的(de)(de)譜(pu)帶波數(shu)(shu)基(ji)(ji)本(ben)上是固定(ding)的(de)(de)或只(zhi)在小(xiao)波段范(fan)圍內(nei)變化(hua)(hua)(hua),因此(ci)許多有(you)機(ji)官能團(tuan)例(li)如甲基(ji)(ji)、亞甲基(ji)(ji)、羰基(ji)(ji),氰(qing)基(ji)(ji),羥基(ji)(ji),胺基(ji)(ji)等(deng)(deng)等(deng)(deng)在紅外光譜(pu)中(zhong)都有(you)特(te)征吸收,通過(guo)紅外光譜(pu)測(ce)定(ding),人們就可以判定(ding)未知樣品中(zhong)存在哪些有(you)機(ji)官能團(tuan),這為(wei)最終確定(ding)未知物(wu)的(de)(de)化(hua)(hua)(hua)學(xue)(xue)(xue)結構(gou)奠定(ding)了基(ji)(ji)礎。

由(you)于分(fen)(fen)子(zi)內(nei)和分(fen)(fen)子(zi)間相互(hu)作(zuo)用,有機官能團的(de)特征頻(pin)率會(hui)由(you)于官能團所處的(de)化學環(huan)境不(bu)同而發生微細變化,這為研究(jiu)表征分(fen)(fen)子(zi)內(nei)、分(fen)(fen)子(zi)間相互(hu)作(zuo)用創造了(le)條件。

分子在低波數區的許多簡正振動往往涉及分子中全部原子,不同的分子的振動方式彼此不同,這使得紅外光譜具有像指紋一樣高度的特征性,稱為指紋區。利用這一特點,人們采集了成千上萬種已知化合物的紅外光譜,并把它們存入計算機中,編成紅外光譜標準譜圖庫。人們(men)只需把測得未知物的(de)紅外光(guang)譜與標準庫中的(de)光(guang)譜進行比(bi)對,就可以迅(xun)速判定(ding)未知化合物的(de)成(cheng)份。

當代紅外(wai)光(guang)(guang)譜技術(shu)的(de)(de)(de)(de)發(fa)展已使(shi)紅外(wai)光(guang)(guang)譜的(de)(de)(de)(de)意義遠遠超越了對樣品進(jin)行簡單的(de)(de)(de)(de)常規(gui)測試并從(cong)而推斷(duan)化(hua)(hua)合(he)(he)(he)物的(de)(de)(de)(de)組成的(de)(de)(de)(de)階段。紅外(wai)光(guang)(guang)譜儀(yi)與其它多種(zhong)測試手段聯(lian)用衍生出(chu)許多新(xin)的(de)(de)(de)(de)分(fen)子光(guang)(guang)譜領域,例如,色譜技術(shu)與紅外(wai)光(guang)(guang)譜儀(yi)聯(lian)合(he)(he)(he)為深化(hua)(hua)認(ren)識復雜(za)的(de)(de)(de)(de)混合(he)(he)(he)物體(ti)(ti)系中(zhong)各種(zhong)組份(fen)的(de)(de)(de)(de)化(hua)(hua)學結構創造了機(ji)會(hui);把紅外(wai)光(guang)(guang)譜儀(yi)與顯微鏡方法結合(he)(he)(he)起來,形(xing)成紅外(wai)成像(xiang)技術(shu),用于(yu)研究非均相體(ti)(ti)系的(de)(de)(de)(de)形(xing)態結構,由于(yu)紅外(wai)光(guang)(guang)譜能(neng)利用其特征(zheng)譜帶有效地區分(fen)不(bu)同化(hua)(hua)合(he)(he)(he)物,這(zhe)使(shi)得該方法具有其它方法難以(yi)匹(pi)敵(di)的(de)(de)(de)(de)化(hua)(hua)學反(fan)差(cha)。

使用紅外(wai)光(guang)譜儀對材料(liao)進(jin)行定性分(fen)析,廣泛(fan)應(ying)用于各大(da)專院校(xiao),科研院所(suo)及廠礦(kuang)企業,其應(ying)用領域包括:

進行化合物的鑒定,進行未知化合物的結(jie)構分析(xi)。

進行化(hua)合物的(de)定量分析,進行化(hua)學(xue)反(fan)應動(dong)力學(xue)、晶變(bian)、相變(bian)、材(cai)料拉伸與結(jie)構的(de)瞬變(bian)關系(xi)研(yan)究(jiu)。

工業(ye)流程與大氣污染的連續檢測。

在煤炭行業對(dui)游離二氧化(hua)硅的(de)監測。

衛(wei)生檢疫,制藥,食品,環保,公(gong)安,石油,化工,光學鍍膜,光通信,材料(liao)科學等諸多領域珠寶行業的檢測。

水晶石英羥(qian)基的測(ce)量,聚合物(wu)(wu)的成(cheng)分分析,藥物(wu)(wu)分析......

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二、紅外光譜儀的操作步驟

1、打開紅外(wai)(wai)光譜儀(yi)背后的電(dian)源,等(deng)待(dai)“Status”燈變綠。紅外(wai)(wai)光譜儀(yi)加電(dian)后至(zhi)少要等(deng)待(dai)10分鐘(zhong),等(deng)電(dian)子部分和光源穩定后,才能進行測量。

2、打開電腦,雙(shuang)擊(ji)桌面上的OPUS圖標打開軟件(jian)。

3、在登錄窗口(kou)從下拉列表中選(xuan)出你的用戶名,然后輸入(ru)密(mi)碼。

4、選擇(ze)標準“Default.ows”工作臺設置。單(dan)擊(ji)登錄按鈕,出現“關于OPUS”窗口。

5、在Measurement(測(ce)量(liang))對(dui)話框中(zhong)點(dian)擊Advanced(高級),在這個(ge)頁(ye)面中(zhong)再點(dian)擊“Load(載(zai)入)”讀(du)取一個(ge)測(ce)量(liang)參數文件(例如c:programfilesopusxpmMIR_TR.XPM文件)。選擇自動保(bao)存的路徑(jing)(jing),改變保(bao)存路徑(jing)(jing)時(shi),必需(xu)確認該(gai)路徑(jing)(jing)是否(fou)已經存在。

6、在第一次測(ce)(ce)量之前(qian),正確的干涉(she)峰的位置(zhi)必須確定并且儲存(cun)下來。在Measurement(測(ce)(ce)量)對話框,點擊(ji)Check Signal(檢查(cha)信號(hao)),點擊(ji)Interferogram(干涉(she)圖),顯示干涉(she)圖。如果沒有看到干涉(she)圖,可以通過移(yi)動掃描區域(Scan Range),向左(zuo)或向右移(yi)動來尋(xun)找干涉(she)峰。一旦找到干涉(she)峰,點擊(ji)Save Peak Position(保(bao)存(cun)峰位置(zhi)),將干涉(she)峰的位置(zhi)儲存(cun)下來。

7、確(que)定樣品(pin)腔(qiang)內無其(qi)他物品(pin)后,進(jin)入Basic(基本)頁面,點擊Collect Background(收集(ji)背景)按鈕即可采集(ji)背景譜。

8、采集背(bei)景光(guang)(guang)譜(pu)后(hou),將測(ce)試樣品放置在(zai)光(guang)(guang)路中,你可以(yi)輸入樣品名、樣品形態,所有這(zhe)些信息將與譜(pu)圖一起儲存在(zai)譜(pu)圖文件中。點擊(ji)Collect Sample(測(ce)量樣品)。測(ce)量對話窗(chuang)口(kou)即消失,并(bing)進入譜(pu)圖窗(chuang)口(kou)。從OPUS軟件的(de)底部(bu)可以(yi)看到(dao)測(ce)量的(de)進程,測(ce)量結束(shu)后(hou),譜(pu)圖會顯(xian)示在(zai)譜(pu)圖窗(chuang)口(kou)。

9、圖譜處(chu)理:從File(文(wen)(wen)件(jian))菜單中選擇LoadFile(載(zai)入(ru)文(wen)(wen)件(jian)),載(zai)入(ru)需要處(chu)理的圖譜文(wen)(wen)件(jian)。用處(chu)理命令對紅外光譜儀(yi)圖譜進(jin)行處(chu)理。完成后將圖譜文(wen)(wen)件(jian)保(bao)存為其他名(ming)字。

10、打(da)(da)(da)印(yin)圖(tu)譜(pu):在(zai)(zai)打(da)(da)(da)印(yin)菜單中選(xuan)(xuan)擇Print Spectra(打(da)(da)(da)印(yin)圖(tu)譜(pu))。在(zai)(zai)對話框中選(xuan)(xuan)中處理(li)好的圖(tu)譜(pu)。單擊Change Layout(更改布局),選(xuan)(xuan)擇打(da)(da)(da)印(yin)模板。然后按Print開始打(da)(da)(da)印(yin)。

11、樣(yang)品(pin)(pin)測定完畢,移走樣(yang)品(pin)(pin)倉中的樣(yang)品(pin)(pin),確保樣(yang)品(pin)(pin)倉清潔。按(an)紅外光譜儀后側電(dian)源開(kai)關,關閉儀器,后關計算機(ji)。

三、紅外光譜儀操作注意事項

1、測定(ding)(ding)時實驗(yan)室的(de)溫度應在15~30℃,相對濕(shi)度應在65%以下(xia),所(suo)用電(dian)源應配備(bei)有穩壓裝(zhuang)置和接地線。因(yin)要(yao)嚴(yan)格控制(zhi)室內的(de)相對濕(shi)度,因(yin)此紅外(wai)實驗(yan)室的(de)面(mian)積不(bu)要(yao)太大(da),能放得下(xia)必須(xu)的(de)儀器(qi)設備(bei)即可(ke),但室內一定(ding)(ding)要(yao)有除(chu)濕(shi)裝(zhuang)置。

2、如所用(yong)的是單光(guang)朿(ci)型傅(fu)里葉紅外分光(guang)光(guang)度(du)計(目前應用(yong)最多),實驗(yan)室里的CO2含量不(bu)能太高,因(yin)此實驗(yan)室里的人數(shu)應盡量少,無關人員最好不(bu)要進入,還要注(zhu)意適當(dang)通風換氣。

3、如供試品為鹽酸鹽,因(yin)考慮(lv)到在(zai)壓(ya)片(pian)(pian)過程(cheng)中可(ke)能出現的(de)離子交換現象,標準規(gui)定用(yong)(yong)氯(lv)化(hua)(hua)(hua)(hua)鉀(jia)(jia)(jia)(也(ye)同溴化(hua)(hua)(hua)(hua)鉀(jia)(jia)(jia)一樣預處理后使(shi)用(yong)(yong))代(dai)替溴化(hua)(hua)(hua)(hua)鉀(jia)(jia)(jia)進行壓(ya)片(pian)(pian),但也(ye)可(ke)比(bi)較氯(lv)化(hua)(hua)(hua)(hua)鉀(jia)(jia)(jia)壓(ya)片(pian)(pian)和溴化(hua)(hua)(hua)(hua)鉀(jia)(jia)(jia)壓(ya)片(pian)(pian)后測得的(de)光譜,如二者沒有區別(bie),則可(ke)使(shi)用(yong)(yong)溴化(hua)(hua)(hua)(hua)鉀(jia)(jia)(jia)進行壓(ya)片(pian)(pian)。

4、為防止儀器(qi)受潮(chao)而(er)影響(xiang)使用壽命,紅外實驗室應(ying)經常保持干(gan)燥(zao),即使儀器(qi)不用,也應(ying)每(mei)周開(kai)機(ji)至(zhi)少兩次,每(mei)次半天(tian),同時開(kai)除(chu)濕(shi)機(ji)除(chu)濕(shi)。特別是霉(mei)雨季節,最好是能每(mei)天(tian)開(kai)除(chu)濕(shi)機(ji)。

5、紅外光(guang)譜測(ce)定最(zui)常用的試樣制(zhi)備(bei)方法(fa)是溴化鉀(KBr)壓(ya)片法(fa)(藥典收載品種90%以(yi)上(shang)(shang)用此(ci)法(fa)),因(yin)此(ci)為(wei)減少(shao)對(dui)測(ce)定的影響,所用KBr最(zui)好(hao)應(ying)為(wei)光(guang)學試劑級,至少(shao)也要(yao)分析純級。使用前應(ying)適當研細(200目以(yi)下),并在120℃以(yi)上(shang)(shang)烘4小時(shi)以(yi)上(shang)(shang)后置干(gan)燥(zao)器中備(bei)用。如(ru)發現結塊(kuai),則應(ying)重(zhong)新(xin)干(gan)燥(zao)。制(zhi)備(bei)好(hao)的空(kong)KBr片應(ying)透(tou)明(ming),與空(kong)氣相比(bi),透(tou)光(guang)率應(ying)在75%以(yi)上(shang)(shang)。

6、壓片法時取(qu)(qu)(qu)用(yong)的(de)供(gong)試品量(liang)(liang)一(yi)般為(wei)1~2mg,因(yin)不可能用(yong)天平稱量(liang)(liang)后(hou)加入,并且每(mei)種樣(yang)品的(de)對紅外(wai)光的(de)吸(xi)收程度不一(yi)致(zhi),故常憑(ping)經(jing)驗取(qu)(qu)(qu)用(yong)。一(yi)般要求所沒得的(de)光譜圖絕大多數吸(xi)收峰(feng)(feng)處于(yu)10%~80%透(tou)(tou)光率范圍在(zai)內。最(zui)強吸(xi)收峰(feng)(feng)的(de)透(tou)(tou)光率如太(tai)大(如大于(yu)30%),則說明取(qu)(qu)(qu)樣(yang)量(liang)(liang)太(tai)少;相反(fan),如最(zui)強吸(xi)收峰(feng)(feng)為(wei)接近透(tou)(tou)光率為(wei)0%,且為(wei)平頭峰(feng)(feng),則說明取(qu)(qu)(qu)樣(yang)量(liang)(liang)太(tai)多,此時均應調(diao)整取(qu)(qu)(qu)樣(yang)量(liang)(liang)后(hou)重新(xin)測定。

7、測(ce)定用樣(yang)品應(ying)干燥(zao),否(fou)則應(ying)在研(yan)細后(hou)置紅外(wai)燈下(xia)烘(hong)幾(ji)分(fen)鐘使干燥(zao)。試(shi)樣(yang)研(yan)好并(bing)具(ju)在模具(ju)中裝好后(hou),應(ying)與真空(kong)泵相連后(hou)抽真空(kong)至少2分(fen)鐘,以(yi)使試(shi)樣(yang)中的(de)水分(fen)進一步(bu)被抽走,然(ran)后(hou)再加壓到0.8~1GPa(8~10T/cm2)后(hou)維持(chi)2~5min。不(bu)抽真空(kong)將(jiang)影(ying)響(xiang)片子的(de)透明(ming)度。

8、壓(ya)片時(shi)(shi)KBr的(de)取用(yong)量一般為200mg左右(you)(也是憑經驗(yan)),應根據制片后的(de)片子厚(hou)度來控制KBr的(de)量,一般片子厚(hou)度應在0.5mm以(yi)下,厚(hou)度大于0.5mm時(shi)(shi),常(chang)可在光(guang)譜上觀(guan)察(cha)到(dao)干涉條紋,對供(gong)試(shi)品(pin)光(guang)譜產生(sheng)干擾。

9、壓片時(shi)(shi),應先取(qu)供試(shi)(shi)品研(yan)(yan)(yan)(yan)細(xi)后再加入KBr再次研(yan)(yan)(yan)(yan)細(xi)研(yan)(yan)(yan)(yan)勻,這樣(yang)(yang)比較(jiao)容(rong)易混(hun)勻。研(yan)(yan)(yan)(yan)磨所(suo)用的(de)(de)應為(wei)瑪瑙研(yan)(yan)(yan)(yan)缽,因玻璃研(yan)(yan)(yan)(yan)缽內表面比較(jiao)粗糙(cao),易粘附樣(yang)(yang)品。研(yan)(yan)(yan)(yan)磨時(shi)(shi)應按(an)(an)同(tong)一方向(xiang)(xiang)(順時(shi)(shi)針(zhen)或逆時(shi)(shi)針(zhen))均勻用力,如(ru)不按(an)(an)同(tong)一方向(xiang)(xiang)研(yan)(yan)(yan)(yan)磨,有可(ke)(ke)能(neng)在(zai)研(yan)(yan)(yan)(yan)磨過(guo)程中使供試(shi)(shi)品產生轉晶,從而影響(xiang)測定結果。研(yan)(yan)(yan)(yan)磨力度不用太(tai)大,研(yan)(yan)(yan)(yan)磨到試(shi)(shi)樣(yang)(yang)中不再有肉(rou)眼可(ke)(ke)見的(de)(de)小(xiao)粒(li)子(zi)(zi)即可(ke)(ke)。試(shi)(shi)樣(yang)(yang)研(yan)(yan)(yan)(yan)好后,應通(tong)過(guo)一小(xiao)的(de)(de)漏斗倒入到壓片模(mo)具(ju)中(因模(mo)具(ju)口較(jiao)小(xiao),直接倒入較(jiao)難),并(bing)盡量(liang)把試(shi)(shi)樣(yang)(yang)鋪均勻,否則壓片后試(shi)(shi)樣(yang)(yang)少的(de)(de)地(di)方的(de)(de)透明度要比試(shi)(shi)樣(yang)(yang)多的(de)(de)地(di)方的(de)(de)低,并(bing)因此對測定產生影響(xiang)。另外(wai),如(ru)壓好的(de)(de)片子(zi)(zi)上出(chu)現不透明的(de)(de)小(xiao)白(bai)點(dian),則說明研(yan)(yan)(yan)(yan)好的(de)(de)試(shi)(shi)樣(yang)(yang)中有未研(yan)(yan)(yan)(yan)細(xi)的(de)(de)小(xiao)粒(li)子(zi)(zi),應重新壓片。

10、壓片用(yong)模具用(yong)后(hou)應(ying)立即把各部分(fen)擦干凈,必(bi)要時用(yong)水清洗干凈并擦干,置干燥器(qi)中保(bao)存,以免銹蝕。

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