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光模塊測試方法有哪些 光模塊測試流程是什么

本文章由注冊用戶 淺嘗不止— 上傳提供 2023-07-12 評論 0
摘要:光模塊作為較敏感的光學器件,常常在使用過程中會出現很多問題,對于光模塊比較常見的問題,都有其相應的測試方法,如目測法看外觀、對比法測參數看差別、替換法替換元器件看參數變化、根據某種不良狀況確定出故障的電路區域、通過掛光模塊的結構判斷出故障的組成部分等,那么具體的光模塊測試流程是什么呢?一起到文中來看看吧!

一、光模塊測試方法有哪些

1、目測法看外觀

通過目測法看光模塊的外觀,檢(jian)查模塊表面有(you)(you)無明顯(xian)的損(sun)壞痕跡,再檢(jian)查元(yuan)器件有(you)(you)沒有(you)(you)裂開漏貼(tie)或連錫甚至(zhi)是燒黑(hei)的跡象。

2、對比法測參數看差別

如果目(mu)測(ce)法看不錯任何問題(ti)的(de)情況下,可(ke)(ke)以使用相關的(de)檢測(ce)儀器分別檢測(ce)一(yi)塊(kuai)(kuai)相同(tong)的(de)新模塊(kuai)(kuai)和可(ke)(ke)能有故障的(de)該模塊(kuai)(kuai),并且分為通電(dian)(dian)(dian)和不通電(dian)(dian)(dian)兩種情況,檢查電(dian)(dian)(dian)路部位或(huo)元(yuan)器件的(de)電(dian)(dian)(dian)壓、阻值(zhi)和波(bo)形等(deng)參數,再對比新模塊(kuai)(kuai)和壞(huai)模塊(kuai)(kuai)的(de)測(ce)試結果就可(ke)(ke)以判(pan)斷(duan)出問題(ti)。

3、替換法替換元器件看參數變化

如果對比出(chu)測試參(can)數(shu)介紹有差異,可以用相同(tong)型號的良品組件或(huo)(huo)元器(qi)件來替換可能(neng)有故障的該模塊的相應組件或(huo)(huo)元器(qi)件,再次測試各(ge)項參(can)數(shu)看(kan)是否恢(hui)復正(zheng)常。

4、根據某種不良狀況確定出故障的電路區域

根據某種不良狀況確定出現故障的電路區域(yu),比(bi)如:光功(gong)率不良主要檢查發射(she)區域(yu),靈(ling)敏度不良檢查接收區域(yu)等,這樣可以減少維修時間,提(ti)高效(xiao)率。

5、通過掛光模塊的結構判斷出故障的組成部分

大家都知道光模塊主要由TOSA組件(jian)、ROSA組件(jian)和(he)PCBA板(ban)3部(bu)分組成(cheng),想(xiang)要判(pan)斷出故障(zhang)的(de)組成(cheng)部(bu)分,有下面幾(ji)種方(fang)法(fa)來判(pan)斷:

(1)將(jiang)TOSA組件和ROSA組件拆卸下來,然后在組件測(ce)試板上(shang)測(ce)試其性能。

(2)通電(dian)(dian)情(qing)況下,使(shi)用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表測各管(guan)腳電(dian)(dian)壓,看電(dian)(dian)壓值(zhi)是否正常;斷電(dian)(dian)情(qing)況下,使(shi)用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表測管(guan)腳跟管(guan)腳引出的電(dian)(dian)路是否通路。

(3)根據不(bu)良(liang)狀況,測試相應的(de)(de)參(can)數看參(can)數的(de)(de)變(bian)化(hua),比(bi)如(ru),不(bu)良(liang)原因是"光功率小",那么可以測試模塊(kuai)的(de)(de)功率,如(ru)果把(ba)功率調大(da)功率計(ji)的(de)(de)讀數會(hui)增大(da),同(tong)時偏置電(dian)流BIAS值(zhi)也隨著增大(da),工作電(dian)流增大(da)。這種變(bian)化(hua)說明PCBA電(dian)路(lu)是導通的(de)(de),驅(qu)動性(xing)能(neng)(neng)和儲存(cun)性(xing)能(neng)(neng)也是沒有(you)問題的(de)(de)。由此能(neng)(neng)夠初步判斷TOSA光功率不(bu)良(liang),PCBA板良(liang)好,但(dan)并不(bu)排除有(you)PCBA不(bu)良(liang)的(de)(de)可能(neng)(neng)。

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二、光模塊測試流程是什么

1、首先測發(fa)射(she)光功率(lv)、接收靈敏度(du)、眼(yan)圖、消光比和(he)誤碼,需(xu)要(yao)用到的設備有光衰減器、光功率(lv)計(ji)、誤碼儀(通過(guo)速率(lv)來調光功率(lv)和(he)靈敏度(du))和(he)眼(yan)圖儀。

2、然后進行高低溫老化測(ce)試,檢驗產品穩定(ding)性。

3、上交換機測(ce)試,檢(jian)測(ce)產品兼(jian)(jian)容性(xing),保證兼(jian)(jian)容性(xing)。

4、最后(hou)就是(shi)在光纖端(duan)面檢(jian)(jian)測儀上進(jin)行端(duan)面檢(jian)(jian)測了,用清洗(xi)筆清洗(xi)端(duan)口,保持端(duan)口清潔,保證(zheng)品質。

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